Ковалев_Курсовая2019. Анализ микроструктуры материала 15Х2нмфа с использованием программы Микростан

• Название: Анализ микроструктуры материала 15Х2нмфа с использованием программы Микростан
• Дата: 16.09.2019
• Размер: 7.48 Mb.
• Имя файла: Ковалев_Курсовая2019.docx
• Тип: Документы; #86987
• страница: 16 из 17

2.2. Анализ микроструктуры материала 15Х2НМФА класс 1.

Вначале зададим калибр, для этого:

Загружаем изображение микрометрической линейки → линейка х500. Откройте панель калибровки , при этом задайте режим «линия» . Проведим прямую между рисками линейки. Одно маленькое деление равно 10 мкм. Отсчитывается значение микрометров между рисками линейки, соответствующими концам проведенной линии. В поле «Длина реальная» заносится значение – 10 мкм. Нажимается кнопка «Применить» и в поле «Калибр» появляется значение калибра, обозначающего число микрометров в одном пикселе. Это же значение появляется в строке состояния. Система откалибрована.

Рисунок 2.2.1. Калибровка.

Далее загрузим карту глубин. Для этого откроем панель настройки изображения . Визуально определите самую светлую и самую темную точки на изображении. Кликните мышкой по самой светлой точке на изображении, на панели появится номер оттенка. Тоже действие проделайте с самой темной точкой изображения.