Главная страница
Навигация по странице:

  • Проекты Сертификаты и лицензии Космических аппаратов: Ракет-носителей, разгонных блоков, космических кораблей: Международные проекты

  • Анализ отказов ЭКБ ОП и ИП 02 Алгоритм проведения работ Неразрушающие: Разрушающие: Методы анализа 02 02

  • Nikon Eclipse LV150NA Сканирующий электронный микроскоп TESCAN MIRA LMU с системой энергодисперсионного микроанализа AztecLive Advanced

  • Сканирующий акустический микроскоп OKOS VUE-250-P Мобильная термокамера Thermonics Т-2820 Система плазмохимического травления RIE/PE Vision322

  • Исток Затвор 05 05 05 Причина забракования 3. Транзистор СВЧ Причина забракования Заключение

  • Заключение Заключение 6. Танталовый конденсатор 06 07 07

  • 7. Модуль питания SPACE GRADE 08

  • анализ отказов. 08Анализ отказовэкб оп и ип ижевский радиозаводО компанииАккредитованный


    Скачать 2.39 Mb.
    Название08Анализ отказовэкб оп и ип ижевский радиозаводО компанииАккредитованный
    Анкоранализ отказов
    Дата27.04.2022
    Размер2.39 Mb.
    Формат файлаpdf
    Имя файлаанализ отказов.pdf
    ТипАнализ
    #500209

    08
    Анализ отказов
    ЭКБ ОП и ИП

    Ижевский радиозавод
    О компании
    Аккредитованный
    испытательный
    центр
    Квалифицированный
    поставщик
    ЭКБ ОП и ИП
    Орган по
    сертификации ЭКБ ОП
    и ИП в ФСС КТ
    Более
    400 единиц
    оборудования
    Проекты
    Сертификаты и лицензии
    Космических аппаратов:
    Ракет-носителей, разгонных блоков, космических кораблей:
    Международные проекты:

    Анализ отказов ЭКБ ОП и ИП
    02
    Алгоритм проведения работ
    Неразрушающие:
    Разрушающие:
    Методы анализа
    02

    02
    02
    Оснащенность
    03
    Зондовая станция FormFactor
    EPS150FA
    Цифровой микроскоп KEYENCE
    VHX-5000
    Инспекционный микроскоп
    Nikon Eclipse LV150NA
    Сканирующий электронный
    микроскоп TESCAN MIRA LMU с
    системой энергодисперсионного
    микроанализа AztecLive Advanced
    Ultim Max 65
    03

    03
    03
    04
    Микрофокусная система контроля
    рентгеновским излучением
    Phoenix Microme|x DXR
    Сканирующий акустический
    микроскоп OKOS VUE-250-P
    Мобильная термокамера
    Thermonics Т-2820
    Система плазмохимического
    травления RIE/PE Vision322

    04
    Примеры работ
    Причина забракования
    1. СВЧ усилитель
    Причина забракования
    Заключение
    Заключение
    2. Транзистор СВЧ
    Сток
    Исток
    Затвор
    05
    05

    05
    Причина забракования
    3. Транзистор СВЧ
    Причина забракования
    Заключение
    Заключение
    4. Приемопередатчик
    05
    06
    06

    06
    5. Микропроцессор
    Причина забракования
    Причина забракования
    Заключение
    Заключение
    6. Танталовый конденсатор
    06
    07
    07

    07
    Причина забракования
    Заключение
    73,3
    +
    72,3
    +
    39,6
    +
    07
    08
    7. Модуль питания SPACE GRADE

    08


    написать администратору сайта