Главная страница
Навигация по странице:

  • ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЗАВИСИМОСТИ ЕМКОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ

  • Оглавление

  • Ответы на вопросы

    		•

    ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЗАВИСИМОСТИ ЕМКОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ. ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЗАВИСИМОСТИ ЕМКОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА Д. Отчет по лабораторной работе 3 по дисциплине Материалы и компоненты электронных средств


    Скачать 149.92 Kb.
    НазваниеОтчет по лабораторной работе 3 по дисциплине Материалы и компоненты электронных средств
    АнкорИССЛЕДОВАНИЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЗАВИСИМОСТИ ЕМКОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ
    Дата10.04.2022
    Размер149.92 Kb.
    Формат файлаdocx
    Имя файлаИССЛЕДОВАНИЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЗАВИСИМОСТИ ЕМКОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА Д.docx
    ТипОтчет
    #459845


    Министерство науки и высшего образования Российской Федерации

    Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования

    ТОМСКИЙ ГОСУДАРСВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ

    (ТУСУР)

    Кафедра конструирования узлов и деталей радиоэлектронной аппаратуры

    (КУДР)

    ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЗАВИСИМОСТИ ЕМКОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ

    Отчет по лабораторной работе №3

    по дисциплине «Материалы и компоненты электронных средств»

    Выполнили

    студент гр. F

    ______ F.

    ______ F.

    Проверил:

    преподаватель

    ______ Шиленок Т.В.

    2022

    Оглавление


    1.Введение 3

    2.Ход работы 4

    3.Заключение 8

    Ответы на вопросы 9


    1. Введение


    Цель работы: Освоить методику измерений емкости и тангенса угла диэлектрических потерь образцов диэлектриков, исследовать физические явления в диэлектриках и на основе полученных результатов измерений произвести расчеты электрических характеристик и геометрических размеров элементов конструкций радиоэлектронной аппаратуры.

    1. Ход работы


    В качестве входных данных были взяты размеры диэлектрика.

    м – диаметр диэлектрика

    м – толщина диэлектрика

    Для начала определим тип диэлектрика.

    Площадь его определим по формуле 2.1:

    (2.1)

    где – радиус диэлектрика

    Далее найдём диэлектрическую проницаемость по формуле 2.2:

    Расчёты производились при комнатной температуре





    (2.2)

    где С – ёмкость конденсатора

    – диэлектрическая постоянная

    – площадь каждой из пластин

    – зазор между пластинами (толщина диэлектрика)

    Поскольку диэлектрическая проницаемость находится в пределах , это означает, что диэлектрик является сегнетоэлектриком.

    В качестве рабочей установки являлся измеритель ёмкости цифровой E8-4. Схема аналога данного устройства является цифровой измеритель E7-8.



    Рисунок 2.1 - Схема установки цифрового измеритель E7-8

    Диапазон измерения:

    - емкость -0,03пФ - 15,999мкФ;

    - тангенс угла потерь –

    Частота измерения - 1000Гц.

    Потребляемая мощность - 90Вт.

    Погрешность измерения измерителя емкости Е8-4 имеет следующие значения:

    - при измерении емкости - ± (0,001Сх+0,02пФ+1ед. сч.);

    - при измерении тангенса угла потерь - ±(  (свыше 10пФ).

    Ниже представлена таблица зависимости ёмкости и тангенса угла диэлектрических потерь образца от температуры в интервале от до

    Таблица 2.1 – Зависимость ёмкости и тангенса угла диэлектрических потерь образца от температуры.




    20
    1404
    218

    25
    1407
    258

    30
    1429
    277

    35
    1466
    251

    40
    1468
    254

    45
    1471
    273

    50
    1477
    266

    55
    1479
    219

    60
    1490
    320

    65
    1512
    348

    70
    1557
    248

    75
    1579
    249

    80
    1604
    279

    85
    1644
    389

    90
    1699
    305

    95
    1750
    400

    100
    1834
    427

    105
    1957
    387

    110
    2116
    399

    115
    2319
    440

    120
    2639
    498

    125
    3113
    619

    130
    4219
    711

    135
    5779
    849

    140
    7059
    928

    Для проверки измеренных данных воспользуемся формулой 2.1

    При комнатной температуре:



    Погрешность измерений приблизительно равна



    Рисунок 2.2 – Зависимость тангенса угла диэлектрических потерь от температуры



    Рисунок 2.3 – Зависимость ёмкости диэлектрических потерь от температуры

    1. Заключение


    В ходе данной работе мы освоили методику измерения ёмкости диэлектрика на цифровом измерители Е7-8 и был построен график зависимости ёмкости диэлектрика от температуры (рис.2.3). По полученным данным был высчитан тангенс угла диэлектрические потерь в представленном диэлектрике. Был составлен график зависимости тангенса диэлектрических потерь от повышения температуры (рис.2.2) из которого мы видим, характерное падение диэлектрической проницаемости для сегнетоэлектриков на температурах 63, 83 и 100 t,℃ ввиду их нелинейного роста тангенса диэлектрической проницаемости при повышении температуры.

    Ответы на вопросы

    написать администратору сайта