Полупроводниковые диоды
Скачать 100.57 Kb.
|
постоянные (импульсные) обратные напряжения, превьпление которых резко сокращает долговечность диода или приводит к его немедленному повреждению.
ГЛАВА 1 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ диоды § 1.1. ФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В р-м-ПЕРЕХОДЕ Основным элементом большинства полупроводниковых приборов является электронно-дырочный переход (р-и-переход), представляющий собой переходный слой между двумя областями полупроводника, одна из которых имеет электронную электропроводность, другая — дырочную. Разность потенциалов (рк в переходе, обусловленную градиентом концентрации носителей заряда, называют контактной разностью потенциалов: фк = - (1.1) где к — постоянная Больцмана; е — заряд электрона; Т — температура; Na и Nn — концентрации акцепторов и доноров в дырочной и электронной областях соответственно; рр и р„ — концентрации дырок в р- и и-областях соответственно; щ — собственная концентрация. Обычно контактная разность потенциалов имеет порядок десятых долей вольт. Толщину несимметричного резкого р-н-перехода рассчитывают по формуле (1.2) где £ — относительная диэлектрическая проницаемость материала полупроводника; е0 — диэлектрическая постоянная свободного пространства. Толщина электронно-дырочных переходов имеет порядок от сотых долей до единиц микрометров. Полупроводниковый прибор с р-и-переходом, имеющий два омических вывода, называют полупроводниковым диодом (рис. 1.1). Одна го областей р-и-структуры (р+), называемая эмиттером, имеет большую концентрацию основных носителей заряда, чем другая область, называемая базой. Статическая вольт-амперная характеристика (ВАХ) полупроводникового диода изображена на рис. 1.2. Здесь же пунктиром показана теоретическая ВАХ электронно-дырочного перехода, определяемая соотношением 1 = 10 (еиЛт<Рт) ֊ 1), (1.3) где /0 — обратный ток насыщения (ток экстракции, обусловленный неосновными носителями заряда; значение его очень мало); Ս — напряжение на р-п-переходе; фт = = кТ/е — температурный потенциал (к — постоянная Больцма- на, Т — температура, е — заряд электрона); m — поправочный коэффициент: m = 1 для германиевых р-п-переходов и m = 2 для кремниевых р-п-переходов при малом токе. Кремниевые диоды имеют существенно меньшее значение обратного тока по сравнению с германиевыми вследствие более низкой концентрации неосновных носителей заряда. Обратная ветвь ВАХ у кремниевых диодов при данном масштабе практически сливается с осью абсцисс. Прямая ветвь ВАХ у кремниевых диодов расположена значительно правее, чем у германиевых. Влияние температуры на вольт-амперные характеристики. На вольт-амперные характеристики диода оказывает существенное влияние температура окружающей среды. При увеличении температуры обратный ток насыщения увеличивается примерно в 2 раза у германиевых и в 2,5 раза у кремниевых диодов на каждые 10 °С.. Для германиевых диодов 70(Г) = /01.2^֊^о (1.4) где ток /01 измерен при температуре Т\. Если через германиевый диод протекает постоянный ток, при изменении температуры падение напряжения на диоде изменяется приблизительно на 2,5 мВ/°С: dlJ/dTx ֊2,5 мВ/°С. (1.5) Для диодов в интегральном исполнении dU/dT составляет от — 1,5 мВ/°С в нормальном режиме до —2 мВ/°С в режиме микротоков. Максимально допустимое увеличение обратного тока диода определяет максимально допустимую температуру диода, которая составляет 80—100 °С для германиевых диодов и 150 — 200 °С для кремниевых. Минимально допустимая температура диода лежит в пределах —(60 -т- 70)° С. Дифференциальным сопротивлением диода называют отношение приращения напряжения на диоде к вызванному им приращению тока: гдиф = dU/dl. (1.6) Из выражения (1.3) следует, что Гдиф |
^пр | 1/ | |
ио5р | Ւ "ст | himin |
| hip | |
Рис. 1.5
Стабилитроны предназначены для стабилизации напряжения на нагрузке при изменении питающего напряжения или сопротивления нагрузки, для фиксации уровня напряжения и т. д. Для стабилитронов рабо
чим является участок пробоя ВАХ в области обратных напряжений (рис. 1.5). На этом участке напряжение на диоде остается практически постоянным при изменении тока диода.
Стабилитрон характеризуется следующими параметрами: напряжение стабилизации Ս„ — напряжение на стабилитроне в рабочем режиме (при заданном токе стабилизации);
минимальный ток стабилизации /сттш — наименьшее значение тока стабилизации, при котором режим пробоя устойчив;
максимально допустимый ток стабилизации /сттах — наибольший ток стабилизации, при котором нагрев стабилитронов не выходит за допустимые пределы.
Дифференциальное сопротивление гст' — отношение приращения напряжения стабилизации к вызывающему его приращению тока стабилизации: гст = Д[/Ст/А/Ст. К параметрам стабилитронов также относят максимально допустимый прямой ток Imax, максимально допустимый импульсный ток 1֊^ итах, максимально допустимую рассеиваемую мощность Ртах.
Варикап — полупроводниковый диод, предназначенный для применения в качестве элемента с электрически управляемой емкостью. При увеличении обратного напряжения емкость варикапа уменьшается по закону
Си — С0 [фк/(<Рк + (1-10)
где Cv — емкость диода; С0 — емкость диода при нулевом обратном напряжении; <рк — контактная разность потенциалов; ո — коэффициент, зависящий от типа варикапа (п = 2 -гЗ). Варикап, предназначенный для умножения частоты сигнала, называют варактором.
К основным параметрам варикапа относят коэффициент перекрытия по емкости кс — отношение емкостей варикапа при двух крайних значениях обратного напряжения; добротность Q — отношение реактивного сопротивления на заданной частоте сигнала к сопротивлению потерь при заданной емкости или обратном напряжении; обратный ток варикапа /обр — постоянный ток, протекающий через варикап в обратном направлении при заданном обратном напряжении. К параметрам предельного режима относят максимально допустимое постоянное обратное напряжение и максимально допустимую рассеиваемую мощность Ртт.
Туннельный диод имеет ВАХ (рис. 1.6,а), которая содержит участок с отрицательным дифференциальным сопротивлением (отношением приращения напряжения к приращению тока). Это позволяет использовать такой диод в усилителях и генераторах электрических колебаний, а также в импульсных
Рис. 1.6
устройствах. Качество диода определяют протяженность и крутизна «падающего» участка ВАХ. Частотные свойства диода, работающего при малых уровнях сигнала на участке с отрицательным дифференциальным сопротивлением, определяются параметрами элементов эквивалентной схемы (рис. 1.6,6). Активная составляющая полного сопротивления имеет отрицательный знак вплоть до частоты
(1.11)
Усиление и генерирование колебаний возможно на частотах, не превышающих /R.
Основные параметры туннельного диода следующие: пиковый ток կ — прямой ток в точке максимума ВАХ, при котором dl/dU — 0; ток впадины կ — прямой ток в точке минимума его характеристики, при котором dl/dU = 0; отношение токов Կ/Կ; напряжение пика Un — прямое напряжение, соответствующее току пика; напряжение впадины UB — прямое напряжение, соответствующее току впадины; напряжение раствора Up — прямое напряжение, большее напряжения впадины, при котором ток равен пиковому; индуктивность Լռ — полная последовательная индуктивность диода при заданных условиях; удельная емкость Сд//П — отношение емкости туннельного диода к пиковому току; дифференциальное сопротивление гтф — величина, обратная крутизне ВАХ; резонансная частота туннельного диода /0 — расчетная частота, при которой общее реактивное сопротивление р-и-перехода и индуктивности корпуса туннельного диода обращается в нуль; предельная резистивная частота fR — расчетная частота, при которой активная составляющая полного сопротивления последовательной цепи, состоящей из р-п-перехода и сопротивления потерь, обращается в нуль; шумовая постоянная туннельного диода Кш — величина, определяющая коэффициент шума диода; сопротивление потерь туннельного диода Rn — суммарное сопротивление кристалла, контактных присоединений и выводов.
К максимально допустимым параметрам относят максимально допустимый постоянный прямой ток туннельного диода /пргпах, максимально допустимый прямой импульсный ток կрЯШах, максимально допустимый постоянный обратный ток /обршах, максимально допустимую мощность СВЧ РСВЧтах, рассеиваемую диодом.
ПРИМЕРЫ И ЗАДАЧИ
Имеется сплавной германиевый р-п-переход с концентрацией Na = 103 Na, причем на каждые 108 атомов германия приходится один атом акцепторной примеси. Определить контактную разность потенциалов при температуре Т = 300 К (концентрации атомов N и ионизованных атомов и, принять равными 4,4 102 2 и 2,5-1013 см"3 соответственно).
Решение
Определим концентрацию акцепторных атомов: ДГа = JV/108 = 4,4- 1022/108 = 4,4-1014 см՜3
(ЛГ = 4,4-1022 см՜3 — концентрация атомов германия).
Концентрация атомов доноров Na = 4.4-1017 см՜3.
Контактная разность потенциалов
Удельное сопротивление р-области германиевого р-п- перехода рр = 2 Ом • см, удельное сопротивление п-области р„ = 1 Ом • см. Вычислить контактную разность потенциалов (высоту потенциального барьера) при Т = 300 К, если подвижности электронов и дырок в германии соответственно равны р„ = 0,39 и рр = 0,19 м2/ (В • с).
Решение
Известно, что удельное сопротивление р-области полупроводника
1 1
р = — « ,
стр Nae[ip
где ДГа — концентрация акцепторов; е — заряд эл'ектрона; Рр — подвижность дырок. Отсюда
^-^ձ:=