Главная страница
Навигация по странице:

  • Внешний осмотр.

  • Опробование.

  • Отклонение от плоскостности измерительных поверхностей микрометра.

  • Отклонение от параллельности плоских. измерительных поверхностей микрометров.

  • Погрешность микрометра

  • Отклонение длины установочной меры от номинального значения.

  • Шероховатость измерительных поверхностей микрометра и установочных мер.

  • Расстояние от торца конической части барабана до начального штриха стебля

  • Измерительное усилие микрометра

  • Перекос плоской измерительной поверхности микрометрического винта при зажатии стопора

  • Лабораторные работы №2 по дисциплине Метрология,. Лабораторная работа №2 Метрология Шабанов Э.В. ИВТ-224. Поверка микрометров


    Скачать 0.94 Mb.
    НазваниеПоверка микрометров
    АнкорЛабораторные работы №2 по дисциплине Метрология
    Дата24.01.2020
    Размер0.94 Mb.
    Формат файлаdocx
    Имя файлаЛабораторная работа №2 Метрология Шабанов Э.В. ИВТ-224.docx
    ТипЛабораторная работа
    #105660
    страница2 из 2
    1   2

    Поверка гладкого микрометра



    Поверка гладких микрометров регламентирована МИ 782-85 «Микрометры с ценой деления 0,01 мм. Методика поверки».
      1. Условия поверки


    При проведении поверки соблюдают следующие условия.

    Температура воздуха в помещении должна быть 20 °С. Допускаемое отклонение температуры от 20 °С в зависимости от верхнего предела измерений микрометра составляет:

    ± 4 °С для верхнего предела измерения до 150 мм;

    ±3 °С для верхнего предела измерения св. 150 до 500 мм;

    ±2 °С для верхнего предела измерения св. 500 до 600 мм. =

    Перед поверкой микрометры и установочные меры необходимо промыть бензином и насухо вытереть салфеткой. Затем микрометры и установочные” меры размагничиваются и выдерживаются в помещении, где проводят поверку, не менее 1 ч на металлической плите или не менее 3 ч в открытом футляре.

    Микрометр и установочные меры при поверке нужно брать за теплоизоляционные накладки, а при их отсутствии следует пользоваться теплоизолирующими салфетками. Плоскопараллельные концевые меры длины (КМД) разрешается брать только при помощи салфеток.
      1. Средства поверки


    При поверке гладкого микрометра используются: плоская и лекальная стеклянная пластина ПИ 60 2-го класса точности или лекальная линейка типа ЛД 1-го класса точности; плоскопараллельные стеклянные пластины ПМ I, II, III и IV рядов; КМД 1 и 2-го классов или 4-го разряда; циферблатные весы с ценой деления 5 г; стойка; образцы шероховатости R, 0,08; микроинтерферометр МИИ-4.
      1. Проведение поверки


    Поверка гладких микрометров начинается с внешнего осмотра.

    Внешний осмотр. Внешний осмотр следует начать с проверки комплектности микрометра. Затем нужно внимательно осмотреть его поверхности. На измерительных поверхностях пятки и микровинта не должно быть забоин, царапин, вмятин, сколов, трещин острых кромок и следов коррозии. Штрихи шкал должны отчетливыми, цифры и маркировка - четкими и легко различимыми.

    Опробование. При опробовании проверяется плавность вращения барабана и надежность стопорного устройства. Микрометрический винт не должен вращаться при вращении трещотки при закрепленном стопоре.

    Отклонение от плоскостности измерительных поверхностей микрометра. Отклонение от плоскостности измерительных поверхностей микрометра определяется интерференционным методом с помощью плоской стеклянной пластины ПИ 60. Пластину накладывают на измерительные поверхности и добиваются такого контакта» при котором наблюдалось бы наименышее число интерференционных полос (колец). Отчет следует производить, отступив от края измерительной поверхности на 0,5 мм

    Допускаемое отклонение от плоскости измерительных поверхностей составляет :

    для микрометров 1-го класса точности 0.6 мкм (2 полосы);

    для микрометров 2-го класса точности 059 мкм (3 полосы).

    У микрометров, находящихся в эксплуатации, отклонение от плоскостности измерительных поверхностей определяют при помощи лекальной линейки. Просвет между линейкой и измерительной поверхностью не допускается.

    Отклонение от параллельности плоских.

    измерительных поверхностей микрометров. Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей микрометров с верхним пределом измерения до 100 мм определяется интерференционным методом при помощи четырех стеклянных плоскопараллельных пластин, размеры которых отличаются друг от друга на значение, соответствующее 1/4 оборота микровинта.

    Используя трещотку, каждую из четырех пластин зажимают между измерительными поверхностями, добиваясь такого ее положения. при котором на обеих измерительных поверхностях микрометра наблюдается наименьшая сумма полос. Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей определяется, как наибольшая из сумм интерференционных полос, подсчитанных. для каждой из четырех стеклянных пластин. Одна полоса соответствует отклонению от параллельности на 0,3 мкм.

    Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей микрометров с верхним пределом измерения до 100 мм, находящихся в эксплуатации, и микрометров с верхним пределом измерения более 100 мм определяется по четырем КМД (или блокам КМД), размеры которых отличаются друг от друга на значение, соответствующее 1/4 оборота микрометрического винта.

    Концевые меры или блок мер последовательно четыре раза через 90° устанавливают одной и той же стороной между измерительными поверхностями на расстоянии Ь = 1/4d, где d - диаметр измерительного стержня, мм.

    Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей для каждого размера меры (блока КМД) определяется как наибольшая разность показаний микрометра при четырех положениях меры.

    Для микрометров допуск параллельности по ГОСТ 6507-90 приведен в табл. 1

    Таблица 1




    1 – й класс

    2 – й класс

    МК 25

    1,5 мкм

    2,0 мкм

    МК 50

    2,0 мкм

    2,0 мкм

    МК 75

    3,0 мкм

    3,0 мкм

    МК 100

    3,0 мкм

    3,0 мкм

    МК 600

    7,0 мкм

    12,0 мкм

    Погрешность микрометра. Погрешность микрометра определяется в пяти (не менее) равномерно расположенных точках шкалы путем непосредственного сравнения показаний микрометра с размерами КМД.

    Рекомендуется использовать КМД следующих номинальных размеров: 5,12; 10,24, 15,36; 21,50; 25,00 мм (специальный набор КМД №21).

    Допускаемое значение погрешности микрометров 1 и 2 – го классов точности в зависимости от верхнего предела измерений приведено в табл. 2.

    Таблица 2




    1 – й класс

    2 – й класс

    МК 25

    ±1,5 мкм

    ±4,0 мкм

    МК 50

    ±2,5 мкм

    ±4,0 мкм

    МК 75

    ±2,5 мкм

    ±4,0 мкм

    МК 100

    ±2,5 мкм

    ±4,0 мкм

    МК 600

    ±6,0 мкм

    ±10,0 мкм

    Для микрометров 2-го класса точности, находящихся в эксплуатации, а также отремонтированных микрометров, допускается превышение указанных выше значений погрешности не более чем в 2 раза.

    Если погрешность микрометрического устройства превышает допускаемые значения погрешности для микрометров (МК 0…25 мм), но не превышает допускаемых значений погрешности для пределов измерений поверяемого микрометра, производится дополнительная поверка микрометра по концевым мерам длины без приспособления в‚ точке, в которой выявлено наибольшее отклонение.

    Отклонение длины установочной меры от номинального значения. Отклонение длины установочной меры от номинального значения определяется сравнением их с КМД соответствующих размеров на горизонтальном оптиметре или оптико-механической машине с использованием сферических наконечников. При этом следует добиться наименьших показаний прибора путем покачивания меры вокруг горизонтальной и вертикальной осей.

    Измерения проводят в средней точке установочной меры и в четырех равномерно расположенных по окружности точках на расстоянии 0,7-1 мм от края измерительной поверхности Наибольшее по абсолютному значению отклонение из пяти полученных принимается за отклонение длины установочной меры от номинального значения.

    За отклонение от плоскопараллельности измерительных поверхностей установочных мер принимается наибольшая по абсолютному значению разность между наибольшим и наименьшим из пяти полученных отсчетов.

    Допускаемое отклонение длины установочных мер ∆l от номинального размера l, и допуск плоскопараллельности измерительных поверхностей ∆» приведены в табл. 3

    l, мм

    ∆l, мкм

    ∆, мкм

    1 – й класс

    2 – й класс




    25, 50, 75

    1,0

    1,5

    0,5

    100, 125

    1,2

    2,0

    0,75

    150, 175

    1,2

    2,0

    1,0

    200, 225, 250, 275

    1,5

    2,0

    1,5

    При поверке отремонтированных микрометров, кроме вышеуказанных метрологических характеристик, контролируется шероховатость измерительных поверхностей микрометров и установочных мер, определяется расстояние от торца конической части барабана до начального штриха шкалы стебля, измерительное усилие и его колебание, перекос плоской измерительной поверхности микрометрического винта при зажатии стопора.

    Шероховатость измерительных поверхностей микрометра и установочных мер. Шероховатость измерительных поверхностей микрометра и установочных мер определяется сравнением с образцами шероховатости поверхности или измерением на интерференционном микроскопе МИИ-4. Шероховатость измерительных поверхностей не должна превышать R. = 0,08 мкм [4].

    Расстояние от торца конической части барабана до начального штриха стебля. Расстояние B от торца конической части барабана до начального штриха стебля определяется после установки микрометра в нулевое положение, путем подвода торца барабана к ближайшему краю начального штриха. При этом у микрометров с нижним пределом измерений 25 мм и более предварительно удаляется установочная мера. У микрометров с нулевым нижним пределом измерения определяется расстояние от торца конической части барабана ло любого ближайшего (не начального) штриха шкалы стебля. Расстояние B не должно превышать 0,15 мм [4]

    Измерительное усилие микрометра. Измерительное усилие микрометра и его колебание определяется при помощи циферблатных весов на двух различных участках шкалы стебля микрометра. При этом микрометр закрепляют в стойке в вертикальном положении.

    Вращая микровинт до проскальзывания трещотки, определяют значение измерительного усилия по показанию стрелки весов. Контроль измерительного усилия может также. производиться помощью специального динамометра [3]

    Колебание измерительного усилия определяется как разность значений измерительного усилия на двух различных участках шкалы стебля. Измерительное усилие микрометра должно составлять F = 5...10 H. Колебание измерительного усилия не должно превышать ∆F ≤ 2 Н [4].

    После ремонта колебание измерительного усилия обычно не проверяется.

    Перекос плоской измерительной поверхности микрометрического винта при зажатии стопора. Перекос плоской измерительной поверхности микрометрического винта при зажатии стопора для микрометров с верхним пределом измерения до 100 мм определяется интерференционным методом с помощью плоскопараллельной пластины. Пластину приводят в контакт с измерительной поверхностью при помощи трещотки. Получив наименьшую сумму интерференционных полос на обеих измерительных поверхностях при незакрепленном стопоре, стопор зажимают, перемещением пластины снова добиваются наименьшей суммы полос и наблюдают за изменением суммы полос. Она не должна увеличиваться более чем на. три полосы (1 мкм) [4].

    Для определения этого параметра у микрометров с верхним пределом измерения более 100 мм используют рычажно-зубчатую головку, укреплению вместо регулируемой пятки [3].

    Измерительную головку вводят в контакт с измерительной поверхностью микрометрического винта на расстоянии 1 мм от края измерительной поверхности в двух точках, находящихся на взаимно перпендикулярных диаметрах.

    Установив микрометрическим винтом стрелку головки в нулевое положение при незакрепленном стопоре, его зажимают и наблюдают за изменением показаний головки, которое не должно превышать 1 мкм в каждом из двух положений.

    Протокол поверки микрометра




    Рис. 2. Протокол поверки микрометра

    Вывод


    В ходе выполнения лабораторной работы были изучены методики и порядок проведения поверки микрометров, приобретены практические навыки поверки микрометров.
    1   2


    написать администратору сайта