При настройке дефектоскопа
 Скачать 56.58 Kb.
|
|
С) углом ввода. Д) углом преломления. Угол ввода луча с возрастанием затухания на пути до отражателя (дефекта): А) остается неизменным. В) увеличивается. С) уменьшается. Изменение угла ввода луча в металле вследствие затухания упругой волны на пути до отражателя тем больше, чем: А) больше длительность зондирующего импульса. В) меньше чувствительность дефектоскопа. С) больше ширина основного лепестка диаграммы направленности преобразователя. Д) меньше угол ввода луча. Угол ввода луча в металл (мелкозернистую сталь) измеряют по цилиндрическому отражателю, расположенному на глубине, для которой следует определить угол ввода, если толщина контролируемого объекта больше: А) 20 мм. В) 60 мм. С) 100 мм. Д) 150 мм. Е) 200 мм. Угол между нормалью к поверхности, проходящей через точку ввода луча, и акустической осью диаграммы направленности называют: А) углом ввода луча. В) углом преломления волны. С) углом наклона акустической оси. Д) углом падения волны. Угол ввода А1 наклонного преобразователя с углом призмы, превышающим первый критический, соотносится с углом АО наклона акустической оси диаграммы направленности поля поперечной волны, как: А) А1 = АО. В) А1 > АО. С) А1 < АО. Д) А1 не равен АО. Ширина основного лепестка диаграммы направленности поля поперечной волны в плоскости падения волны наклонного преобразователя с увеличением угла призмы: А) остается неизменной. В) увеличивается. С) уменьшается. Ширина основного лепестка диаграммы направленности поля поперечной волны в плоскости, нормальной к плоскости падения волны наклонного преобразователя, с увеличением угла призмы: А) остается неизменной. В) увеличивается. С) уменьшается. К числовым характеристикам диаграммы направленности относят: А) только угол наклона акустической оси. В) только размеры преобразователя. С) только угол раскрытия основного лепестка на заданном уровне. Д) варианты А), В) и С). Е) варианты А) и С). Угол ввода луча в материал определяют по образцу из того же материала, в котором выполнены отражатели в виде: А) вогнутой цилиндрической поверхности. В) углового отражателя. С) бокового цилиндрического отражателя. Д) двух цилиндрических отражателей, расположенных на различной глубине. Е) варианты А) и В). Область контролируемого металла, прилегающая к контактной поверхности объекта контроля, в пределах, которой невозможно обнаружить дефект, называют: А) непрозвучиваемой зоной. В) мертвой зоной. С) ближней зоной. При прочих равных условиях величина мертвой зоны с увеличением угла ввода луча: А) возрастает. В) уменьшается. С) осциллирует. Д) не изменяется. При контроле наклонным преобразователем мертвую зону определяют по образцу из контролируемого материала с отражателями в виде: А) отверстий со сферическим дном,ось которых нормальна к контактной поверхности. В) отверстий с плоским дном, ось которых нормальна к контактной поверхности. С) цилиндрических отверстий, параллельных контактной поверхности. Д) сегментных отражателей. Минимальное расстояние между отражателями, расположенными один за другим, эхо-сигналы от которых различаются на экране дефектоскопа, называют: А) фронтальной разрешающей способностью. В) разрешающей способностью аппаратуры. С) разрешающей способностью по дальности Разрешающую способность аппаратуры определяют по образцу с отражателями, расстояние по ходу луча между которыми известно,выполненному из материала, для которого известны: А) коэффициент затухания. В) плотность. С) скорость ультразвуковой волны. Погрешность глубиномера дефектоскопа при эхо-методе проверяют путем: А) измерения координат отражающей поверхности. В) измерения временного интервала между эхо-сигналами от отражателей, расположенных на известном расстоянии друг от друга. С) измерения координат отражающей поверхности в материале с известным коэффициентом затухания. Погрешность глубиномера в микросекундах определяют по образцу с плоскопараллельными поверхностями, для которого известны: А) толщина. В) скорость распространения ультразвука. С) коэффициент затухания. Д) толщина и скорость распространения ультразвука. Ширина основного лепестка диаграммы направленности поля поперечной волны в плоскости, нормальной к плоскости падения волны наклонного преобразователя, с увеличением угла призмы: А) остается неизменной. В) увеличивается. С) уменьшается. Экспериментально коэффициент прозрачности по энергии границы преобразователь - контролируемый материал может быть оценен как разность амплитуд эхо-сигналов в контролируемом материале и в стандартном образце от отражателей: А) одного и того же вида. В) любого вида на одной и той же глубине. С) одного и того же вида,расположенных на одной и той же глубине. Формула перевода относительных единиц измерения амплитуд U1 и U2 двух сигналов в децибелы имеет вид: А) N = 10 * lg (U1 / U2). В) N = 20 * 1g (U1 / U2). С) N = 20 * 1n (U1 / U2). Принцип измерения координат отражателя при эхо-методе состоит в: А) измерении сдвига максимума спектра отраженного от дефекта сигнала и пересчете его в координату. В) измерении временного интервала от зондирующего до эхо-сигнала и пересчете его в координату. С) анализе расхождения пучка на пути от излучателя до отражателя. При измерении координат дефекта наклонным преобразователем в совмещенном режиме время распространения волны в призме: А) необходимо учесть один раз. В) необходимо учесть два раза. А) учитывать не надо. Мерой эквивалентной площади дефекта служит размер: А) бокового цилиндрического отверстия. В) бесконечной плоскости. С) диска. Прямым преобразователем озвучиваются два дефекта одинакового размера плоскостной формы, ориентированные перпендикулярно акустической оси и залегающие на одной глубине. Первый дефект имеет зеркально - отражающую поверхность, второй - диффузную. Эквивалентные площади Sэ дефектов соотносятся: А) Sэ1 > Sэ2. В) Sэ1 < Sэ2. С) Sэ1 = Sэ2. Условный размер дефекта (dx, dH, dL), измеренный по уровню фиксации абсолютным способом, как правило: А) больше истинного размера дефекта. В) меньше истинного размера дефекта. С) равен истинному размеру дефекта. Три округлых отражателя залегают на одной глубине, причем их размеры соотносятся следующим образом: b1 > b2 > b3. В этом случае при измерении условной ширины dX относительным способом выполняется: А) dX1 > dX2 > dX3. В) dX1 < dX2 < dX3. С) dX1 = dX2 = dX3. Компактным дефектом называют дефект, условная протяженность dLд которого соотносится с условной протяженностью ненаправленного отражателя dLo, расположенного на той же глубине, что и дефект: А) dLд <= dLo. В) dLд = dLo. С) dLд > dLo. Коэффициент формы Кф дефекта измеряют при включении преобразователей по: А) совмещенной схеме. В) схеме - дуэт. С) тандем - схеме. Д) совмещенной и тандем - схеме. Дефект имеет плоскостную форму, если для его коэффициента формы Кф выполняется: А) Кф > 1. В) Кф > 0. С) Кф < 1. Коэффициент формы Кф дефекта информативен: А) при любой толщине контролируемого изделия. В) если толщина контролируемого изделия больше 40 мм. С) если толщина контролируемого изделия больше 10 мм. При измерении углового размера дефекта в сварном шве смещение преобразователя в широких пределах практически не влияет на амплитуду эхо-сигнала. Это означает, что: А) дефект имеет округлую форму в плане соединения. В) дефект протяженный плоскостной. С) дефект имеет округлую форму в сечении изделия. Можно ли идентифицировать эхо-сигнал от валика усиления сварного шва путем "пальпирования" пальцем: А) Да, в любом случае. В) Нет, в любом случае. С) Да, в случае перпендикулярного падения поперечной волны на по верхность валика. Д) Да, в случае неперпендикулярного падения волны на поверхность валика. При контроле цилиндрического вала диаметром 500 мм ультразвук направили по диаметру. Данный сигнал в этом случае по сравнению с данным сигналом от плоской донной поверхности будет: А) больше. В) меньше. С) одинаковый Амплитуда первого донного эхо-сигнала при отсутствии дефекта в 5 раз больше амплитуды того же донного эхо-сигнала при наличии дефекта. Это значит, что коэффициент выявляемости дефекта Кд: А) Кд = 0,2. В) Кд = 0,5. С) Кд = 0,8. В каких пределах изменяется коэффициент выявляемости дефекта при зеркально-теневом методе: А) от 0 до плюс бесконечности. В) от 0 до 1. С) от 1 до плюс бесконечности. Зеркально-теневой метод можно реализовать: А) только одним прямым преобразователем. В) только двумя наклонными преобразователями. С) одним прямым искателем или двумя наклонными искателями. При контроле изделий, полученных прокаткой или штамповкой их поверхность обычно покрыта сплошным слоем окалины. В этом случае контроль можно проводить после: А) удаления слоя рыхлой окалины. В) полного удаления окалины. С) глубокой машинной обработки поверхности. Д) протравления поверхности. Если контактная и донная поверхность объекта на параллельны друг другу, то А) на экране ЭЛТ может отсутствовать донный сигнал. В) обнаружение дефектов, которые расположены непосредственно у донной поверхности становится затруднительным. С) уменьшается проникающая способность. При подготовке к контролю отношение коэффициентов прозрачности контактной поверхности соединения и соответствующего коэффициента для стандартного образца оценивают: А) экспериментально, как разность между амплитудой эхо-сигнала от двугранного угла контролируемого объекта и амплитудой эхо-сиг нала от двугранного угла образца СО-2, если толщины контролируемого объекта и образца отличаются не более чем на 10%. В) экспериментально, как разность амплитуд эхо-сигналов от цилиндрического отражателя, выполненного в образце контролируемого соединения, и цилиндрического отражателя, расположенных на одинаковой глубине. С) теоретически. Д) варианты или А), или В). Способ сканирования, при котором преобразователь (систему преобразователей) перемещают в продольном направлении относительно контролируемого сечения, систематически сдвигая на определенный шаг в поперечном направлении, называется: А) поперечно-продольным сканированием. В) продольно-поперечным сканированием. С) способом "бегающего луча". В общем случае поперечные волны более чувствительны к небольшим неоднородностям, чем продольные волны (в данном материале для данной частоты), потому что: А) длина волны поперечных колебаний меньше, чем длина волны продольных колебаний. В) поперечные волны меньше, чем продольные рассеиваются в материале. С) направление колебаний частиц для сдвиговых волн более чувствительно к неоднородностям. Проводится контроль крупнозернистого материала при фиксированной частоте колебаний. Колебания какого типа обладают наибольшей проникающей способностью в общем случае: А) Продольные. В) Сдвиговые. С) Поверхностные. Д) Все вышеперечисленные виды колебаний имеют одинаковую проникающую способность. Величина отраженной энергии определяется: А) размерами неоднородности. В) ориентацией неоднородности. С) типом неоднородности. Д) всеми тремя. При какой из приведенных частот могут наблюдаться наибольшие потери ультразвуковой энергии за счет рассеяния: А) 1 МГц. В) 2,5 МГц. С) 10 МГц. Д) 25 МГц. Оптимальным методом ультразвукового контроля для обнаружения дефектов, ориентированных вдоль сварного шва, является: А) контактный метод с использованием наклонного преобразователя для поверхностных волн. В) контактный метод с использованием нормального падения продольных волн. С) иммерсионный метод с использованием поверхностных волн. Д) метод с использованием наклонного преобразователя для поперечных волн. Основной причиной затруднений, возникающих при ультразвуковом контроле отливок, является: А) исключительно тонкая кристаллическая структура. В) крупнозернистая структура. С) хаотическая ориентация неоднородностей структуры. Несплошности в кованых изделиях ориентируются, кик правило: А) случайным образом. В) на границах зерен кристаллической структуры. С) под прямым углом к внешней поверхности. Д) под прямым углом по отношению к кристаллической структуре. Е) перпендикулярно направлению усилия при основной деформации. Дефекты, расположенные вблизи от контактной поверхности, часто не могут быть обнаружены по причине: А) ослабления зоны. В) мертвой зоны. С) преломления зоны. Рабочую поверхность призмы преобразователя целесообразно притирать к криволинейной поверхности изделия, если его радиус: А) менее 300 мм. В) менее 500 мм. С) более 500 мм. При проведении испытаний образца с шероховатой поверхностью целесообразно использовать: А) более низкую частоту упругих колебаний и более вязкую контактирующую среду, чем при контроле образцов с гладкой поверхностью. В) более высокую частоту и более вязкую контактирующую среду, чем при контроле образцов с гладкой поверхностью. С) более высокую частоту и контактирующую среду с меньшей вязкостью, чем при контроле образцов с гладкой поверхностью. Д) более низкую частоту и менее вязкую контактирующую среду, чем при контроле образцов с гладкой поверхностью. Уменьшение превышения поискового уровня над уровнем фиксации требует ... шага продольно-поперечного сканирования. А) увеличения. В) уменьшения. С) не влияет. Какая из приведенных поверхностей имеет наименьшую шероховатость: А) Обработанная Rz = 60. В) Обычная отливка. С) Обработанная Rz = 20. Результаты контроля фиксируются в журнале контроля или другом документе, в котором указывается: техническая документация, в соответствии с которой проводился контроль, тип дефектоскопа, результаты контроля, дата контроля, фамилия лица, проводившего контроль и: А) характеристики контролируемого объекта. В) участки, не подвергавшиеся контролю. С) требования к качеству контролируемого объекта. |