Главная страница
Навигация по странице:

  • 1.2 Вычисление погрешностей косвенных измерений. Краткая теория

  • Два частных случая

  • Полезный вывод: Δ

  • Забыли выкладки и используем только окончательное выражение (1.4) Примеры

  • Несложный комплексный пример расчёта результата КИ.

  • 1.3 Решение типовых задач Задание 1

  • Окончательно

  • Самостоятельно сформулировать

  • ПИДР. 01 03 Косвенные измерения (1). Курс лекций метрология и Информационноизмерительная техника (М и иит) 2021 осень тема Основы метрологии фрагмент лекции


    Скачать 133.62 Kb.
    НазваниеКурс лекций метрология и Информационноизмерительная техника (М и иит) 2021 осень тема Основы метрологии фрагмент лекции
    Дата11.10.2022
    Размер133.62 Kb.
    Формат файлаdocx
    Имя файла01 03 Косвенные измерения (1).docx
    ТипКурс лекций
    #728321

    редакция 10.02.2022 г.

    Макарычев П.К.

    курс лекций:
    метрология и Информационно-измерительная техникаиИИТ)

    2021 осень

    тема 1. Основы метрологии



    [ФРАГМЕНТ ЛЕКЦИИ]

    Косвенное измерения (КИ) это измерение, результат которого получают с использованием известной зависимости физической величины (функции) от нескольких других, значения которых могут быть получены прямыми измерениями.

    Простейшие типовые примеры представлены на рисунке 1.1.







    Пример 1

    Пример 2

    Пример 3

    Пример 4

    R=UV/IA

    PR=UV·IA

    PR=R·IA2

    PR= UV2/R

    Рисунок 1.1 – Примеры косвенных измерений



    1.2 Вычисление погрешностей косвенных измерений. Краткая теория

    Для вычисления погрешности КИ мы располагаем известной функциональной зависимостью результата Y от аргументов – результатов прямых измерений Х1, Х2,…, Хn:

    Y = f (Х1, Х2, … Хn)

    Требуется найти погрешность ΔY, возникающую от погрешностей
    ΔХ1, ΔХ2,… ΔХn.

    Упростим обозначения: ΔY = Δ; ΔХ1 = Δ1; ΔХ2 = Δ2; … ΔХn = Δn.

    Для решения нашей задачи в математике имеет место т.н. «формула полного дифференциала»:



    (1.1)

    Если мы используем при расчёте погрешности метод наихудшего случая (МНС), то предельное значение Δп в свёрнутой форме:

    Р = 1.

    (1.2)

    Примечание – Погрешности ∆i в проведённом эксперименте могут иметь как положительное значение, так и отрицательное. Эти знаки могут меняться от эксперимента к эксперименту. Используя МНС, мы выбираем наихудшие сочетания знаков: или все «плюс» или все «минус».

    Два частных случая позволяют формализовать решение практических задач по расчёту погрешностей КИ.

    Частный случай 1.

    Y = a1X1 + a2X2 +...+anXn = ,

    т.е. Y – линейная функция аргументов Х1, Х2,…, Хn.

    Воспользуемся выражениями (1.1 и 1.2):

    , следовательно,

    и



    (1.3)

    Примеры:

    а) Y = X1 + X2; Р = 1.

    Здесь a1 = а2 = 1, тогда: Δ = 1Δ1 + 1Δ2;

    Для МНС: Δп = ± (|1Δ1,п| + |1Δ2,п|);
    б) Y = X1X2; Р = 1.

    Здесь a1 = 1; а2 = – 1, тогда: Δ = Δ1 – Δ2;

    Δп = ± (|1Δ1,п| + |1Δ2,п|);
    Полезный вывод: Δп для суммы и разности аргументов одинаковы.

    Частный случай 2.

    Y = X1a1·X2a2··Xnan,

    где а1; а2;…аn – действительные числа, положительные или отрицательные, целые или дробные.

    Пример: Y = здесь а1 = 2; а2 = – 0,5.

    Частные производные:

    = ;

    =

    ……………………………………….

    =
    Далее:

    = Y ;

    =…….. ;

    ……………………….

    =…….. ;

    Следовательно,

    Δ = Y(a1δ1 + a2δ2 + ...+ anδn);

    δ = .

    Предельное значение:



    (1.4)

    Забыли выкладки и используем только окончательное выражение (1.4)

    Примеры:

    а) Y = X1X2; P =1.

    Здесь: а1 = а2 = 1, тогда δ = 1δ1 + 1δ2;

    Для МНС имеем: δп = ± (|1δ1.п| + |1δ2.п|);

    б) Y = P =1

    Здесь: а1 = 1; a2 = – 1, тогда δ = 1δ1 – 1δ2;

    Для МНС имеем: δп = ± (|1δ1.п| + |1δ2.п|).

    Полезный вывод: δп для произведения и частного одинаковы.

    Объединяя наши четыре примера, можно сделать следующие выводы:

    для суммы и разности надо суммировать предельные значения абсолютных погрешностей аргументов, для произведения и частного – предельные значения относительных погрешностей аргументов.
    Несложный комплексный пример расчёта результата КИ.

    Рассмотрим для примера несложную абстрактную функцию
    Y = , где Хi – величины, значения которых известны с погрешностями ∆i.п*):

    Х1 = Х1±∆1.п

    Х2 = Х2±∆2.п

    Х3 = Х3±∆3.п

    Х4 = Х4±∆4.п

    Примечание – В общем случае Хi либо результаты прямых измерений, либо величины с нормированными значениями погрешностей, например, мера электрического сопротивления с известным допуском.

    Проведём расчёт погрешности косвенного измерения функции Y в соответствии с выражениями (1.3) и (1.4).

    Исходное выражение для погрешности функции запишем на основании (1.4):

    δу1.п2.п+δ(3+4).п= ∆1.п1+∆2.п2+ δ(3+4).п

    здесь использовано обозначение δ(3+4).п (∆3.п+∆4.п)/(Х3-Х4)

    Окончательно имеем:

    у.п=[∆1.п1+∆2.п2+(∆3.п+∆4.п)/(Х3-Х4)] Х2/Х1(Х3-Х4)

    Осталось подставить значения и произвести расчёт.
    1.3 Решение типовых задач

    Задание 1

    Сопротивление резистора R измеряется с помощью миллиамперметра и вольтметра по схеме, представленной на рис. 1.2.



    Рисунок 1.2 – Схема косвенного измерения сопротивления постоянному току

    Примечания

    1 При реализации этой несложной схемы эксперимента следует помнить, что при протекании тока резистор нагревается в соответствии с законом Джоуля-Ленца. Выбирая режимы эксперимента, необходимо соблюдать условие: PRPRном/10, где PRном – номинальная мощность рассеивания резистора, которая записывается в его паспорте. В этом случае саморазогрев резистора хотя и приведёт к изменению его сопротивления, но изменение это не превысит заявленной погрешности его изготовления – допуска. Например, резистор типа С2-29 имеет паспортную мощность 1 Вт, номинальное сопротивление Rном = 10,0 кОм, производственный допуск ∆пр=±1,0 %, допустимая рассеиваемая мощность 100 мВт.

    2 На практике изменяя Rвых, следует добиваться, чтобы один из приборов – амперметр или вольтметр – как получится, измерение осуществлял ближе к концу шкалы, тогда точность результата будет оптимизирована. Вывод: лучше, если в эксперименте будут использованы многопредельные приборы.

    Известны результаты измерений напряжения и тока:

    - результат прямого измерения напряжения UVUR =(10,030±0,050) В; Р=1;

    - результат прямого измерения силы тока IA IR =(1,000±0,025) мА; Р=1.

    Внутренние сопротивления измерительных приборов как у идеальных:

    у амперметра – ноль, у вольтметра – бесконечность.

    Требуется записать результат косвенного измерения R.

    Рассчитаем (косвенно измерим) значение сопротивления R:

    Rизм R=UR/IR = 10,030 В/1,000 мА = 10,03 кОм

    Далее рассчитаем погрешность полученного результата.

    В соответствии с (1.4) легко рассчитать относительную погрешность результата δп:

    δп = δV.п + δA.п = ± (0,050 /10,030 + 0,025/1,00) = ± (0,00499+0,025) ≈ ± 0,030

    Теперь рассчитаем предельное значение погрешности результата в абсолютной форме:

    Δп = δп·R = 10,03 кОм × 0,030 = ±0,30 кОм

    Окончательно запишем результат измерения, как мы это уже привыкли делать:

    R=(10,03±0,30) кОм; Р = 1 (1.5)

    Задание 2

    Как изменится результат косвенного измерения, полученный в задании 1, если стало известно, что внутреннее сопротивление вольтметра имеет значение, равное RV = 100 кОм±1%.?

    Решение.

    Ток, измеряемый миллиамперметром IA, является суммой двух токов: один протекает через измеряемый резистор IR (объект), а второй – через вольтметр IV (инструмент). Это показано на рис. 1.3. Второй ток вносит погрешность в измерение. Фактически используемая схема реализует косвенное измерение сопротивления параллельно включённых резистора R и входного сопротивления вольтметра RV.

    Примечание – Такие погрешности принято относить к погрешностям взаимодействия: взаимодействует инструмент (вольтметр) с объектом (резистором).



    Рисунок 1.3 – Иллюстрация возникновения погрешности взаимодействия при косвенных измерениях сопротивления постоянному току

    Следуя высказанному наблюдению, делаем вывод, что в задании 1 мы измерили значение параллельно включённых R и RV:

    Rизм = (RV)/(R+RV) = (10,03±0,30) кОм. (1.6)

    Здесь погрешность чисто инструментальная: обусловлена метрологическими характеристиками использованных приборов.

    Однако нам необходимо рассчитать (косвенно измерить) значение R, которое выведем из (1.6):

    R=(RV·Rизм)/(RV-Rизм)=11,15 кОм.

    Рассчитаем погрешность.

    В соответствии с (1.4) имеем: δR.п= δRV.п+ δRизм.п+ δ(RV+Rизм).п, где

    δ(RV+Rизм).п=(∆RV.п+∆Rизм.п)/(RV-Rизм)=(1+0,30)/(100-10,03)=0,0144, тогда:

    δR.п =0,01+0,30+0,0144=0,32→∆R.п=RδR.п=11,150,32=3,57 кОм.

    Окончательно запишем результат:

    R=(11,2±3,6) кОм; Р=1 (1.7)

    Задание 3

    Как изменится результат косвенного измерения R, полученный в
    задании 1, если измерения были проведены по альтернативной схеме, представленной на рис. 1.4? Известно значение входного сопротивления миллиамперметра RА=1,00 кОм±1,0%=1,00±0,01 кОм.



    Рисунок 1.4 – Альтернативная схема косвенного измерения сопротивления R

    Заметим, что в данной схеме косвенно измеряется сопротивление последовательно включённых резистора R и резистораRА (входное сопротивление миллиамперметра):

    Rизм=R+RА = (10,03±0,30) кОм. (1.8)

    Откуда следует, что

    R = Rизм - RА = (10,03±0,30) кОм(1,00 ±0,01) кОм = {закончить самостоятельно}.
    Самостоятельно сформулировать критерий выбора одной из двух схем измерения R(рис. 1.3 или 1.4), если известны RА и RV.

    Задание 4

    Измерить косвенным методом ЭДС источника сигнала и записать результат в формате: Е = (ИЗ±∆п.); Р=1

    исходные данные:


    схема эксперимента






    R1 = 9,1 Ом±2%,

    R2 = 1,5 кОм±5%

    Uвых=15,12±0,25 В
    RV=; CV=0



    Схема измерения.

    1. Косвенно измерить силу тока в резисторе R2 и представить результат в виде I2=[ИЗ±∆п]; Р=1

    2. Косвенно измерить падение напряжения в резисторе R1 и представить результат в виде U1=[ИЗ±∆п]; Р=1

    3. Косвенно измерить Е=U2+U1 и представить в виде Е=[ИЗ±∆п]

    Примечание

    U2Uвых





    написать администратору сайта