Кинетика. ТЕОР ИЗ СТАТИИ. Устройство ввода пробы
 Скачать 1.08 Mb.
|
|
Устройство ввода пробы Как правило, масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой применяется для элементного и изотопного анализа жидких проб. Однако твердые пробы также могут анализироваться, используя устройство с лазерной абляцией либо нагреваемую ячейку для испарения пробы. Газовые пробы могут непосредственно вводиться в масс-спектрометр. Устройство ввода жидких проб пробы масс-спектрометра с индуктивно связанной плазмой состоит из перистальтического насоса, распылителя, распылительной камеры и предназначено для транспортировки и перевода аэрозоля пробы в поток аргона (рис. 2.1).  Рис. 2.1. Схема источника ионов масс-спектрометра с ИСП с подключенным устройством ввода жидкой пробы. Поскольку частицы аэрозоля имеют большое соотношение площади поверхности к объему, то уже при их движении через достаточно протяженную распылительную камеру начинается быстрое испарение паров жидкости (растворителя) с поверхности частиц, что ведет к уменьшению их индуктивно связанной плазмой с подключенным устройством ввода жидкой пробы размера. Ионы и молекулы элементов могут испаряться как индивидуально, так и в виде кластеров с молекулами растворителя. Степень перераспределения концентраций элементов в аэрозоле может зависеть от размера частиц и меняться от содержания кислот, а также от концентрации и вида матричного вещества в растворе. Поскольку распылительная камера предназначена для отбора только мелкодисперсного аэрозоля, то это ведет к некоторому изменению элементного состава аэрозоля, вводимого в плазму разряда, по сравнению с составом исходного раствора (перед распылением). Отбор конденсированной фазы может осуществляться способом лазерной абляции (LA-ISP-MS – laser ablation), позволяющим иногда устранить стадию пробоподготовки и значительно расширить применение метода масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. При взаимодействии сфокусированного мощного лазерного излучения с поверхностью твердой пробы происходит сильный мгновенный нагрев локального участка, что ведет к взрывообразному термическому испарению компонентов пробы и даже образованию плазменного факела. Получаемые в результате такого воздействия на пробу газообразная фаза и мелкодисперсный аэрозоль потоком аргона (иногда гелия) транспортируются в осевую зону факела индуктивно связанного разряда плазмы. Дальнейшие процессы трансформации компонентов пробы аналогичны варианту ввода в плазму аэрозоля растворов. Температура в области фокального пятна определяется сложным комплексом характеристик излучения самого лазера и взаимодействующего с ним материала: абсорбционными свойствами исследуемой пробы по отношению к спектральным характеристикам излучения, явлениями теплопереноса в материале и характером процессов испарения с поверхности. Достигаемая при лазерном воздействии температура локального участка пробоотбора влияет на абляционную массу и состав испарившейся газовой фазы. Большая роль импульсного термического характера лазерного воздействия обуславливает не вполне представительный отбор из твердой фазы разных элементов, которые находятся в ней в виде соединений с различающимися температурами плавления, кипения, термического разложения и фото разложения. Это приводит к фракционированию поступления элементов и изотопов в газовую фазу, доставляемую затем в масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой. Кроме того, вариации плотности энергии по сечению лазерного пучка, взаимодействующего с поверхностью пробы, могут иметь своим результатом формирование значительного температурного градиента на участке абляции, особенно по периферии лазерного кратера, что, в свою очередь, усиливает и делает практически непредсказуемыми эффекты фракционирования. Размеры аэрозольных и кластерных частичек, образованных при лазерной абляции, зависит от длины волны используемого лазерного излучения, мощности импульса, материала пробы и состояния ее поверхности, а также от используемого газа носителя. Дополнительно к фракционированию элементов при лазерной абляции, есть и неполное испарение в плазме крупных частичек конденсированного аэрозоля, поступающего от лазерной абляции. Это приводит дополнительному фракционированию элементов. Известно, что фракционирование изотопов элементов при термическом испарении наиболее сильно проявляется для легких элементов. Наличие фракционирования изотопов и элементов при лазерной абляции проб приводит к возникновению эффекта дискриминации по массе на стадии пробоотбора приборами LA-ISP-MS. Подобная возможность фракционирования элементов и их изотопов обязательно должна учитываться при проведении изотопного анализа с пробоотбором способом лазерной абляции. Источник ионов Источник ионов масс-спектрометра представляет собой горелку с индуктивно связанной плазмой, в которой при атмосферном давлении и происходит ионизация пробы. Проба в аргоновую плазму подается в виде аэрозоля или газа через инжектор, находящийся в центре горелки (рис. 2.1). Температура плазмы в зоне ионизации составляет 6000-8000°С. Плазменный факел зажигается с помощью высоковольтного разряда и специального электрода и поддерживается в ИСП-горелке, представляющей собой две концентрических кварцевых трубки и центральной трубки-инжектора, через которые проходит чистый аргон с потоком 15-18 л/мин. Мощность к горелке подводится от радиочастотного (типично 27 или 40 МГц) генератора через спиральную катушку-индуктор. Индуктор формирует поле, удерживающее плазменное образование внутри горелки. ИСП-плазма динамически поддерживается и стабильна во времени, т.к размеры горелки, расходы аргона и подводимая мощность хорошо согласованы. При попадании пробы в виде аэрозоля в плазменный факел жидкие капли содержащие основу пробы и определяемые элементы осушаются до твердого состояния и нагреваются до перевода в газовую фаз.0 При дальнейшей транспортировке атомов через плазму происходит поглощение энергии из плазмы, приводящее в конечном итоге к формированию преимущественно однозарядных ионов. Ионы и неионизированное вещество покидают плазменный факел и попадают в специальный интерфейс, состоящий из серии конусов с отверстиями с системой дифференциальной откачки.  Рис. 2.2. Схема масс-спектрометра с ИСП. Интерфейс дифференциальной откачки Интерфейс дифференциальной откачки (рис. 2.2) обеспечивает транспортировку ионов из области атмосферного давления в источнике ионов в область высокого вакуума масс-анализатора. Типично, интерфейс состоит из 2-х конусов в форме воронок. За ними закрепились названия-кальки (с английского) самплер и скиммер. Самплер расположен в непосредственной близости от плазменного факела, а скиммер расположен в нескольких миллиметрах за самплером. Каждый из конусов имеет в вершине отверстие примерно 1 мм в диаметре, которое позволяет ионам проходить через них. Конусы изготавливаются из никеля или платины и помещаются на охлаждаемое водой металлическое основание, чтобы избежать их перегрева. Область между двумя конусами откачивается пластинчато-роторным насосом до давления, равное несколько торр (мм.рт.ст.). Система линз Поскольку практически все ионы, генерируемые в плазме, положительно заряжены, ионный пучок имеет тенденцию к расхождению. Система линз, расположенная непосредственно за интерфейсом (рис. 2.2), обеспечивает фокусировку выходящего из интерфейса ионного пучка на входе в квадрупольный анализатор с целью увеличения трансмиссии. Это достигается прохождением пучка через положительно заряженный металлический цилиндр, который действует как фокусирующая линза. Напряжение на линзе задается оптимальное для каждой фокусируемой массы ионов. Для защиты системы фокусировки и регистрации ионов от фотонов, нейтральных и недоиспарившихся частиц служит теневой экран (металлическая пластинка на оси потока ионов). Масс-анализатор В большинстве случаев в масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой применяются квадрупольные масс-спектрометры. Одной из проблем масс-спектрометров с индуктивно связанной плазмой являются изобарные помехи, т.е. спектральные наложения изотопов различных элементов с одинаковым отношением заряда к массе. Кроме того, в аргоновой плазме наряду с полезными атомарными ионами формируются паразитные молекулярные ионы типа Ar2+, ArO+, ArH+, AROH+, ArN+ и др., а также двухзарядные ионы, которые вносят дополнительные спектральные помехи. Для того чтобы избавиться от этих наложений, используют секторные масс-спектрометры высокого разрешения с двойной фокусировкой (со скрещенными электростатическим и магнитным полями). Приборы высокого разрешения относительно дороги, но высокочувствительны и обеспечивают несколько более высокую точность измерения концентраций изотопов. Такие приборы эффективно устраняют молекулярные ионные наложения (элемент-О, элемент-Н, элемент-Ar), но во многих случаях не могут устранить изобарные наложения. Для снижения изобарных и молекулярных помех также используются мультипольные реакционные ячейки, устанавливаемые в обычных квадрупольных масс-спектрометрах. Ячейку заполняют разреженным химически активным газом (например аммиаком, кислородом или метаном), а определяемые ионы дрейфуют в ней по инерции и под действием специальных электромагнитных полей по направлению к основному квадрупольному масс-анализатору и детектору. В самом простом случае молекулы напускаемого в ячейку газа в результате столкновений нейтрализуют паразитные молекулярные и изобарные ионы, образующиеся в индуктивно связанной плазме и плазменном интерфейсе. Более эффективно преобразование (при обмене зарядами в ионно-молекулярных реакциях) конкретных паразитных ионов в молекулярные ионы с другой массой, что избавляет от специфических наложений. В качестве мультипольных ячеек применяют квадрупольные, гексапольные или октапольные системы. Иногда для тех же целей используют высокочастотные ионные ловушки. Лучше всего зарекомендовали себя квадрупольные динамические реакционные системы (ДРС), которые перестраиваются синхронно с основным масс-анализатором. Такие системы дают возможность проведения направленных ионно-молекулярных реакций и отсекают возможные вторичные помехи в верхнем и нижнем диапазонах масс. В результате обычные квадрупольные масс-спектрометры с мультипольными реакционными ячейками стали серьезной альтернативой более дорогим секторным масс-спектрометрам высокого разрешения. Квадрупольный масс-анализатор состоит из четырех стержней, как правило, 8 – 15 см длиной и 1 см в диаметре. Квадрупольный масс-спектрометр работает по антирезонансному принципу. При прохождении ионов в электромагнитном поле, имеющем определенное распределение и меняющемся во времени, часть ионов может иметь ограниченную амплитуду колебаний. Амплитуда колебаний другой части ионов может неограниченно возрастать со временем. Ионы с ограниченной амплитудой колебаний собираются приемником и регистрируются. Ионы с неограниченной амплитудой колебаний нейтрализуются на поверхностях электродов. Если выбрать режим работы анализатора таким образом, чтобы ограниченную траекторию имели ионы в ограниченном диапазоне масс, то такой анализатор будет работать как фильтр масс. Перестраивая комбинацию напряжений и частот, масс-анализатор способен регистрировать различные элементы и изотопы.  Рис. 2.3. Треугольник стабильности траекторий ионов в анализаторе В квадрупольном масс-анализаторе по устойчивым траекториям проходят только те ионы, для которых точки с параметрами а и q попадают в треугольник стабильности (рис. 2.3), где  Чем ближе точка, характеризуемая фиксированными а и q, расположена к вершине треугольника, тем выше разрешающая способность масс-спектрометра. Из формулы для выражения а и q имеем  Поскольку квадрупольный масс-спектрометр способен одновременно регистрировать только ионы с определенным отношением m/z, его важной характеристикой является скорость сканирования, показывающая, как быстро может быть получена информация обо всех компонентах пробы. Современные квадрупольные масс-анализаторы осуществляют сканирование от m/z=1 до m/z=260 за время менее 0,1 с. Детектор Детектор на основе вторично-электронного умножителя с дискретным динодом обеспечивает счет ионов, проходящих через квадруполь. Современные детекторы и системы регистрации обеспечивают регистрацию и импульсного (импульсов тока от отдельных ионов) и аналогового (ток от множества ионов) сигналов. ВЭУ с дискретным динодом состоит из набора изолированных динодов, покрытых материалом с коэффициентом эмиссии вторичных электронов больше 1. Дискретный динод представляет собой проводящий металлический субстрат, покрытый тонким поверхностным оксидным слоем. С помощью делителя напряжения на диноды подаются питающие потенциалы, способствующие формированию электронной лавины. ВЭУ с дискретным динодом характеризуются низким уровнем шума и высоким динамическим диапазоном. Типичный уровень фона систем регистрации составляет 0,1-1 импульсов в секунду, а достигаемый динамический диапазон регистрируемых интенсивностей ионов – более 109. Система автоматизации и сбора данных Система автоматизации и сбора данных обеспечивает управление прибором и алгоритмом сбора данных с целью получения окончательных данных о концентрации компонент пробы. Автоматизация прибора подразумевает программный контроль всех типовых процедур управления и оптимизации. Программное обеспечение также обеспечивает перевод результатов измерений в удобный для последующей обработки вид и предлагает возможности для разработки аналитических методов, калибровки данных и подготовки отчетов. Вакуумная система Вакуумная система масс-спектрометра обеспечивает необходимый вакуум для интерфейса дифференциальной откачки, ионной оптики, квадрупольного масс-анализатора и детектора. Вакуумная система включает высоковакуумный турбомолекулярный насос, осуществляющий быструю откачку камеры анализатора до давления 10-6-10-5 Торр, и два пластинчато-роторных форвакуумных насоса, один из которых обеспечивает откачку интерфейса дифференциальной откачки до давления несколько торр, а второй используется для предварительной откачки турбомолекулярного насоса. |