Просвечивающая электронная микроскопия. Просвечивающая электронная микроскопия Елгина Т.Е.. Выполнила студентка группы М811904. 04. 01(Сибур) Елгина татьяна евгеньевна

• Название: Выполнила студентка группы М811904. 04. 01(Сибур) Елгина татьяна евгеньевна
• Анкор: Просвечивающая электронная микроскопия
• Дата: 01.12.2019
• Размер: 1.77 Mb.
• Имя файла: Просвечивающая электронная микроскопия Елгина Т.Е..pptx
• Тип: Документы; #97911

Выполнила студентка группы М8119-04.04.01(СИБУР)

Елгина татьяна евгеньевна

Что представляет собой просвечивающая электронная микроскопия

Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) предполагает изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, фокусируются на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
Благодаря меньшей чем у света длине волны электронов ПЭМ позволяет изучать образцы с разрешением в десятки тысяч раз превосходящим разрешение самого совершенного светооптического микроскопа. С помощью ПЭМ возможно изучение объектов даже на атомарном уровне. ПЭМ является одним из основных методов исследования в целом ряде прикладных областей: физике, биологии, материаловедении и т.д.

Задачи, решаемые с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Метод просвечивающей электронной микроскопии позволяет изучать внутреннюю структуру исследуемых металлов и сплавов, в частности:
• определять тип и параметры кристаллической решетки матрицы и фаз;
• определять ориентационные соотношения между фазой и матрицей;
• изучать строение границ зерен;
• определять кристаллографическую ориентацию отдельных зерен, субзерен;
• определять углы разориентировки между зернами, субзернами;
• определять плоскости залегания дефектов кристаллического строения;
• изучать плотность и распределение дислокаций в материалах изделий;
• изучать процессы структурных и фазовых превращений в сплавах;
• изучать влияние на структуру конструкционных материалов технологических факторов (прокатки, ковки, шлифовки, сварки и т.д.).


Современные ПЭМ позволяют работать в следующих основных режимах:
Светлое поле (контраст формируется за счет поглощения электронов образцом)
Темное поле (контраст в зависимости от атомного номера)
Дифракционный контраст (контраст вызванный рассеянием Брэгга, возникающим при попадании пучка в кристаллическую структуру)
Спектроскопия энергетических потерь электронов (измерение потери электроном начальной энергии после прохождения через образец), а также энергетическая фильтрация
Элементное картирование с помощью рентгеновского энергодисперсионного спектрометра
Изображение во вторичных электронах
Изображение в обратно-рассеянных электронах
Электронно-лучевая томография (объемное изображение образца)


Просвечивающий электронный микроскоп дает возможность "заглянуть" во внутренний мир строения материала изделия, наблюдать очень мелкие частицы включений, несовершенства кристаллического строения - субзерна, дислокации, которые невозможно разглядеть с помощью светового оптического микроскопа.


В связи с тем, что обычные микрошлифы для исследования структуры металлов и сплавов с помощью просвечивающего электронного микроскопа непригодны, необходимо приготовлять специальные очень тонкие, прозрачные для электронов, объекты. Такими объектами являются реплики (слепки) с поверхности хорошо отполированных и протравленных микрошлифов.
Реплика должна полностью воспроизводить рельеф поверхности микрошлифа.

Реплики, применяемые в Просвечивающей электронной микроскопии

Спасибо за внимание!