Главная страница
Навигация по странице:

  • 7.2. Чувствительность радиационного контроля

  • 7.3. Способы регистрации радиационных изображений

  • Каневский. И. Н. Каневский Е. Н. Сальникова


    Скачать 3.53 Mb.
    НазваниеИ. Н. Каневский Е. Н. Сальникова
    АнкорКаневский
    Дата27.03.2023
    Размер3.53 Mb.
    Формат файлаpdf
    Имя файлаKanevsky.pdf
    ТипУчебное пособие
    #1019336
    страница11 из 19
    1   ...   7   8   9   10   11   12   13   14   ...   19
    Радиоизотопные источники г- и в-излучения. Источник излучения представляет собой закрытую ампулу (заваренную или завальцованную) из коррозионно-стойкой стали или сплавов алюминия и для герметичности сверху покрытую эпоксидным клеем. Внутри ампулы помещаются искусственные радионуклиды,
    получаемые в ядерных реакторах при облучении веществ в нейтронных потоках или при обработке продуктов распада,
    образующихся в реакторах.
    К радиационно-физическим характеристикам радиоактив- ных источников излучения относятся период полураспада, спектр излучения, удельная активность, мощность экспозиционной дозы на расстоянии 1м от источника и геометрические размеры излучателя.
    Внутренние размеры ампулы определяют размеры активной части источника. Проекция активной части ампулы в направлении просвечивания образует фокусное пятно источника.
    Для гамма-дефектоскопии применяют изотопы с высокой удельной активностью, такие как кобальт
    200 100 60

    =
    Co
    (Ки/г),
    цезий
    25 137

    Cs
    (Ки/г), селен
    75
    Se, иридий
    192
    Ir, тулий
    170
    Tm,
    европий
    Eu
    Eu+
    154 152
    и другие (наибольшая удельная активность составляет у марганца
    2000
    =
    Mn
    54
    Ки/г).
    Энергетические спектры излучения применяемых источни- ков состоят из отдельных групп г-квантов и тормозного спектра,
    возникающего при торможении в-частиц. В спектрах большинства радионуклидов, используемых при дефектоскопии, интенсивность тормозного излучения пренебрежимо мала. Интенсивность отдель- ных линий дискретного спектра и соотношение между ними опре- деляются числом выхода г-квантов различных энергий на акт распада (в процентах).
    В радиационной дефектоскопии применяют радионуклиды с периодом полураспада от нескольких дней до десятков лет.
    В табл. 7.1 приведены некоторые сведения о наиболее распростра- ненных радионуклидах.
    Гамма-дефектоскоп состоит из следующих основных блоков:
    радиационная головка с источником излучения; устройство для безопасной зарядки прибора ампулами, пульт управления дистан- ционным перемещением ампул, выпуском и перекрытием гамма- излучения; штатив для крепления радиационной головки относи- тельно объекта контроля.
    Радиационные головки имеют свинцовую или вольфра- мовую защиту, обеспечивающую снижение мощности дозы излуче- ния на расстоянии 1м от источника, находящегося в положении хранения, до предельно допустимой дозы 2,8 мР/час
    (
    А/кг
    10 2,01 10
    ) и менее, а на расстоянии 0,1м – до 100 мР/час
    (
    А/кг
    10 7,17 9
    ) и менее. Конструктивно головки выполняют с перемещаемым и неподвижным источником излучения.
    Конструктивно все дефектоскопы радиационного контроля делятся на универсальные шланговые дефектоскопы и дефекто- скопы затворного типа.
    Т а б л и ц а 7.1
    Основные характеристики некоторых радионуклидов,
    применяемых в дефектоскопии
    Радионуклид
    Период полураспада
    Выход г -квантов на распад, %
    Энергия г –кванта, МэВ
    Энергия б -частиц
    Co
    60 27 5,25 года
    1,0 1,0
    <10
    -3 1,33 1,17 2,5 0,318 МэВ
    Cs
    137 55 11000 дней
    100 0,661 1,17 МэВ – 8%
    0,52 МэВ – 92%
    75
    Se
    75 34 120,4 дня
    1,1 3,9 20 61 1,8 71 29 1,5 10 0,13 0,066 0,0967 0,121 0,136 0,199 0,264 0,279 0,304 0,400 0,572



    140 141
    В универсальных шланговых дефектоскопах (рис. 7.10)
    источник излучения помещается в криволинейный канал –
    лабиринт и фиксируется в положении хранения специальным замком. После открытия замка источник может быть перемещён к выходному окну головки (фронтальное просвечивание конусным пучком излучения) или может подаваться в зону контроля из радиационной головки по гибкому ампулопроводу 6. В этом случае панорамный пучок излучения формируется с помощью сменных коллимирующих головок 7. Перемещение источника осуществ- ляется ручным или электроприводом с пульта управления 1.
    Расстояние между пультом и головкой у переносных приборов от
    3,5 до 12 м; у передвижных – до 50 м.
    На рис. 7.11 представлена схема дефектоскопа затворного типа, предназначенного для работы в полевых, цеховых, монтаж- ных условиях. Существует несколько модификаций таких дефекто- скопов.
    Рис. 7.10. Схема гамма-дефектоскопа шлангового типа:
    1 – привод управления; 2 – подающий трос; 3 – соединительный шланг;
    4 – радиационная головка; 5 – держатель источника излучения;
    6 – ампулопровод; 7 – коллимирующая головка
    Рис. 7.11. Схемы дефектоскопа затворного типа:
    а – гамма-дефектоскоп с открыванием затвора; б – гамма-дефектоскоп с перемещением источника; в – гамма-дефектоскоп с выемным стаканом
    В приложении К приведены технические характеристики некоторых современных рентгеновских установок.
    7.2. Чувствительность радиационного контроля
    На рис. 7.12 приведена схема радиационного контроля изде- лия 1, внутри которого имеется дефект 2. Для определенности предположим, что 1 – металлическая деталь, а 2 – шлаковое вклю- чение или непроплав в ней.

    142 143
    Источник радиационного излучения 3 (рентгеновская трубка,
    радиоактивный изотоп, источник
    β
    -частиц и т.п.) расположен в защитном экране 4. Регистратором дефектов является рентгеновс- кая пленка 5, расположенная под контролируемым изделием 1.
    Радиационное излучение, пройдя через контролируемое изделие
    1 с дефектом 2, вызовет различное потемнение фотопленки 5: более сильное 6, соответствующее изображению дефекта 2, и более сла- бое 7, соответствующее изображению части детали 1 без дефектов.
    Это обстоятельство объясняется тем, что дефекты в металлических деталях, как правило, имеют плотность во много раз меньше, чем плотность самой детали. Эти дефекты – раковины, шлак, газовые полости и т.п. Такие неметаллические включения во много раз слабее поглощают радиационное излучение, чем бездефектный металл.
    Далее предположим, что плотность почернения фотомате- риала пропорциональна интенсивности излучения J, падающего на фотопленку (область 7 на рис. 7.12). Если в области 6, изображаю-
    Рис. 7.12. К определению чувствительности методов РК
    щей дефект, интенсивность радиационного излучения равна J
    1
    , то контрастность К изображения дефекта на фотопленке будет равна:
    1
    J

    J
    =
    К
    (7.1)
    Для вычисления величины контрастности предположим, что коэффициент поглощения радиационного излучения в материале изделия равен
    α
    1
    , а в материале дефекта – б
    2
    . Толщина изделия и дефекты равны соответственно x и y (рис. 7.12). Пусть интенсив- ность источника излучения равна J
    о
    . После прохождения безде- фектной части изделия интенсивность прошедшего излучения J
    будет равна
    )
    x exp(
    J
    J
    1 0
    α

    =
    . (7.2)
    Под местом расположения дефекта интенсивность излучения
    )
    y
    )
    y x
    (
    exp(
    J
    J
    2 1
    0
    α


    α

    =
    (7.3)
    В этом выражении первое слагаемое в показателе степени экспоненты учитывает ослабление интенсивности излучения в материале изделия, а второе слагаемое – в материале дефекта.
    Подставив выражения (7.3) и (7.2) в формулу (7.1), получим контрастность изображения дефекта
    [
    ]
    {
    }
    y
    )
    (
    exp
    1
    J
    K
    2 1
    α

    α

    =
    . (7.4)
    Размеры дефекта у всегда ничтожно малы по сравнению с размерами х контролируемого материала, а коэффициент поглоще- ния
    α
    2
    в материале дефекта во много раз меньше коэффициента поглощения
    α
    1
    в контролируемом материале. Разлагая экспонен- циальную функцию в степенной ряд, из выражения (7.4) получим
    )y б
    J(б
    =
    ...}

    )у б


    +
    1

    J{1
    =
    K
    2 1
    2 1
    (7.5)
    Из выражения (7.5) следует, что контрастность изображения дефектов при РК, во-первых, пропорциональна толщине дефекта у и, во-вторых, пропорциональна разности коэффициентов погло- щения излучения в материалах изделия и дефекта
    α
    -
    α
    1

    144 145
    Эти результаты естественно было ожидать исходя из пред- ставлений о физических процессах при радиационном контроле.
    Более интересный вывод из формулы (7.5) можно получить,
    если ее упростить, учитывая, что всегда
    α
    2
    <<
    α
    1
    . Тогда
    .
    y
    J
    K
    1
    α
    =
    (7.6)
    Из выражения (7.6) следует, что контрастность изображения дефектов тем больше, чем больше коэффициент поглощения излу- чения в контролируемом материале. Этот вывод прямо противо- положен выводу, например, при контроле с помощью излучения ультразвуковых волн, когда четкость контроля понижается с ростом коэффициента поглощения волн.
    Выражение (7.6) позволяет сделать практически важный вывод: контроль с помощью радиационного излучения наиболее эффективен для материалов с большими коэффициентами погло- щения. Это в основном металлы.
    7.3. Способы регистрации радиационных изображений
    Наибольшее распространение в радиационной дефекто- скопии получил радиографический контроль с использованием в качестве детектора излучения радиографической пленки. В ка- честве источников излучения при этом контроле используются все три типа источников излучения.
    Разновидностью радиографического контроля является флюорографический метод, при котором распределение интенсив- ности ионизирующего излучения преобразуется в видимый свет на сцинцилляторном экране и затем регистрируется с помощью оптической системы на флюорографической плёнке (рис. 7.13, а, б).
    Наибольшее распространение в качестве детектора при радиографическом методе контроля получили радиографические плёнки. Радиографические пленки подразделяют на две группы:
    безэкранные для использования без флуоресцентных экранов или с металлическими усиливающими экранами, и экранные пленки,
    применяемые совместно с флуоресцентными экранами. Основными характеристиками пленок являются спектральная чувствитель-
    Рис. 7.13. Схема радиографического контроля с использованием:
    а – радиографической пленки; б – флюорографической пленки;
    1 – источник излучения; 2 – контролируемый объект;
    3 – радиографическая пленка; 4 – монокристаллический экран;
    5 – зеркало с поверхностным отражением; 6 – оптическая система;
    7 – кассета с флюорографической пленкой
    2 3
    4 1 ность, контрастность и разрешающая способность. На рис. 7.14
    представлена схема строения радиографической пленки. Основой пленки служит гибкая прозрачная подложка 4 из негорючей пласт- массы – ацетилцеллюлозы. На подложку с двух сторон наносят
    Рис. 7.14. Схема строения радиографической пленки

    146 147
    чувствительную к излучению эмульсию 2, представляющую собой слой желатины толщиной 10-30 мкм, в которой равномерно распределены микрокристаллы бромистого серебра. Размеры микрокристаллов не превышают 3 мкм. Для увеличения прочности соединения между эмульсией и подложкой лежит слой специаль- ного клея 3, называемый подслоем. Снаружи на эмульсию наносят защитный слой 1 из задубленной желатины толщиной до 1 мкм для предохранения эмульсии от механических повреждений.
    Под воздействием излучения бромистое и хромистое серебро разлагаются и выделяют серебро чёрного цвета. Двойной слой фотоэмульсии увеличивает чувствительность в два раза.
    Чувствительность плёнки определяется оптической плот- ностью почернения
    )
    F
    /
    F
    lg(
    D
    0 0
    =
    , где
    F
    /
    F
    0
    – непрозрачность пленки, F
    0
    , F – интенсивность светового потока, падающего на пленку и проходящего через нее. Плотность почернения совершенно проз- рачного снимка (
    F
    F
    0
    =
    ) равна нулю. Плотность почернения пропорциональна экспозиции H
    Э
    , которая равна произведению времени выдержки на интенсивность падающих лучей. На рис.
    7.15 представлен примерный вид характеристической кривой пленки, являющийся зависимостью плотности почернения от логарифма экспозиции.
    Начальный участок характеристической кривой соответст- вует отсутствию излучения. Он характеризует плотность вуали
    01
    D
    – величину плотности обработанной плёнки, не подвергнутой облучению. Её величина лежит в пределах
    3
    ,
    0
    D
    1
    ,
    0 01


    Рис. 7.15. Характеристическая кривая радиографической пленки
    При длительном хранении
    01
    D
    увеличивается. Участок кри- вой АБ называют областью недодержек. В этой области почернение пленки с увеличением экспозиции незначительно. На участке БВ
    плотность почернения пропорциональна экспозиции. Эта область соответствует области рабочих экспозиций в радиографии. Тангенс угла наклона рабочего участка называют коэффициентом контраст- ности плёнки. Участок ВГ соответствует области передержек.
    Чувствительность пленки измеряют величинами, обратными величине дозы излучения, необходимой для получения плотности,
    превышающей на 0,85 плотность вуали.
    Случайно возникающие скопления и разряжения зерен серебра создают впечатление зернистости изображения и ухудшают выявляемость мелких дефектов при радиографическом контроле.
    Зернистость называют также гранулярностью G. С увеличе- нием энергии излучения гранулярность возрастает. Большую гранулярность имеют изображения, полученные с применением усиливающих флуоресцентных экранов. Гранулярность радио- графических снимков, а также рассеяние излучения в эмульсии радиографических пленок приводит к тому, что скачкообразное изменение интенсивности излучения на границах дефекта регистрируется как плавное изменение плотности почернения радиографической пленки. Количественную характеристику величины размытия называют собственной нерезкостью радио- графических детекторов излучения u п
    . Величина собственной нерезкости безэкранных радиографических пленок зависит от спектрального состава излучения и равна 0,4 мм при использова- нии в качестве источника излучения
    60
    Co, 0,28 мм при использова- нии
    192
    Ir и 0,1мм для
    170
    Tm. При использовании тормозного излучения с максимальной энергией в спектре от 150 до 250 КэВ
    величина собственной нерезкости изменяется от 0,1 до 0,17 мм.
    Радиографические плёнки можно использовать в комбина- ции с экранами (металлическими или флуоресцентными).
    Экранные радиографические пленки предназначены для регистрации излучения оптического диапазона, возникающего при воздействии ионизирующего излучения на флуоресцентные экраны.
    Они сенсибилизированы в оптическом диапазоне излучения, их

    148 149
    спектральная чувствительность согласована со спектром излуче- ния флуоресцентных экранов.
    По сравнению с безэкранными пленками экранные имеют большую чувствительность и меньший коэффициент контраст- ности. Собственная нерезкость экранных пленок при использова- нии тормозного излучения с максимальной энергией в спектре 150
    – 250 кэВ составляет 0,6 мм.
    Усиливающие металлические экраны применяют для сокра- щения времени просвечивания. Усиливающее действие метал- лических экранов основано на выбивании из них вторичных электронов под действием ионизирующего излучения. Выбитые электроны действуют на эмульсию пленки и вызывают дополни- тельную фотохимическую реакцию, усиливающую действие пер- вичного излучения.
    Металлические экраны выполняют из тяжёлых элементов –
    свинца, меди, реже – из вольфрама и титана. Экраны устанавли- вают позади и впереди радиографической плёнки. Применение экранов приводит к сокращению экспозиции. Задний экран защи- щает плёнку от рассеянного излучения. Толщина экрана для раз- личных источников излучения приведена в табл. 7.2.
    Флуоресцентные экраны изготовляют на основе люмино- форов. Усиливающее действие флуоресцентных экранов связано с дополнительным воздействием на пленку свечения, возникаю- щего в люминофоре под действием ионизирующего излучения.
    В качестве люминофоров используют смесь мелких кристаллов сульфида цинка и сульфида кадмия, активированных серебром
    )
    Ag
    (
    CdS
    );
    Ag
    (
    ZnS
    , а такжее
    )
    Tb
    (
    S
    O
    Gd
    ;
    SO
    )
    Pb
    ,
    Ba
    (
    ;
    CaWO
    2 2
    4 4
    Люминофор со связующим наносят на бумагу или картон.
    Радиографическую плёнку располагают между двумя флуоре- сцентными экранами, в случае использования односторонних радиографических пленок – один экран, расположенный с той стороны пленки, на которую нанесена эмульсия. При высоких энергиях излучения перед передним экраном или вместо него устанавливают металлический экран.
    Основными характеристиками усиливающих флуоресцент- ных экранов являются коэффициент усиления и величина собст-
    Т а б л и ц а 7.2
    Характеристики металлических экранов
    Толщина экрана, мм
    Источник излучения
    Материал экрана переднего заднего
    Рентген
    100-200 кВ
    Pb
    0,05 0,1
    Рентген
    200-300 кВ
    Pb
    0,1 0,2
    Co
    60
    Pb, Cu
    0,4 0,5
    Tm
    170
    Pb
    0,2 0,4
    Ускоритель
    3-12 МэВ
    Pb, Cu
    0,5 1-2 венной нерезкости. Коэффициент усиления – отношение времени экспозиции при использовании флуоресцирующих экранов,
    необходимого для получения снимка с заданной оптической плот- ностью, к времени экспозиции на той же пленке без усиливающих экранов. Величина коэффициента усиления зависит от энергии излучения.
    Собственная нерезкость флуоресцентных экранов связана с рассеянием света в экранах и зависит от плотности упаковки зерен флуоресцентного вещества в экране. Величина собственной нерез- кости флуоресцентных экранов значительно превышает величину собственной нерезкости радиографической пленки и составляет от 0,4 до 0,6 мм.
    Флуоресцентные экраны выпускают серийно. Некоторые сведения о флуоресцентных экранах приведены в табл. 7.3.
    Коэффициент контрастности флуоресцентных экранов k п
    =1.
    Коэффициент контрастности экранных радиографических пленок значительно ниже, чем коэффициент контрастности безэкранных пленок. Следовательно, при одинаковом радиационном контрасте общий контраст изображения на снимках, полученных с использо- ванием флуоресцентных экранов, значительно ниже, чем на сним- ках, полученных при использовании безэкранных пленок с метал- лическими экранами.

    150 151
    Радиационный контраст, создаваемый источниками излуче- ния, не зависит от детектора излучения, следовательно, примене- ние флуоресцентных экранов приводит к ухудшению выявляе- мости дефектов. Однако радиационный контраст может быть уве- личен при использовании флуоресцентных экранов на основе редкоземельных элементов с большим коэффициентом усиления,
    так как их применение позволяет снизить напряжение на рент- геновской трубке. Это, в свою очередь, увеличивает коэффициент ослабления излучения и позволяет получить контраст изображе- ния, превышающий контраст изображения, получаемый при использовании безэкранных пленок.
    Разновидностью радиографического контроля является ксерорадиография. Ксерорадиография – способ получения изоб- ражения на поверхности тонкого слоя полупроводящего материала,
    электропроводность которого зависит от интенсивности ионизи- рующего излучения.
    Ксерорадиографическая пластина – тонкий слой селена высокой чистоты (99,992%), напылённый в вакууме на полирован- ную проводящую подложку. В качестве материала подложки чаще всего используется алюминий, возможно использование латуни,
    стекла или бумаги с проводящими слоями. Толщина слоя селена составляет 100-400 мкм. Чувствительность пластин К определяют величиной, обратной дозе излучения, при которой достигается заданная плотность почернения. Перед проведением экспонирова- ния пластину сенсибилизируют, для чего её с заземлённой под-
    Т а б л и ц а 7.3
    Характеристики флуоресцентных экранов
    Количество люминофор на экране, мг/см
    2
    Тип экрана
    Люминофор переднего заднего
    «Стандарт»
    4
    CaWO
    60 60
    «УС»
    1   ...   7   8   9   10   11   12   13   14   ...   19


    написать администратору сайта