УМК. Программа дисциплины "Методы исследования, контроля и испытания материалов"

• Название: Программа дисциплины "Методы исследования, контроля и испытания материалов"
• Дата: 21.09.2022
• Размер: 193.27 Kb.
• Имя файла: УМК.docx
• Тип: Программа; #689245
• страница: 3 из 14

Тема 5. 5. Методы исследования строения материалов

Оптическая (световая) микроскопия.

Физические основы оптической микроскопии, длина волны света и разрешающая способность метода. Методы обработки изображений, основы стереометрической металлографии. Принципиальная схема микроскопа.

Микроскопия в проходящем и отраженном свете, темнопольная микроскопия. Способы подготовки образцов. Техника и оборудование для отбора и подготовки образцов. Варианты использования оптической микроскопии для исследования материалов.

Тема 6. 8. Методы исследования специальных свойств материалов

Исследование технологических свойств материалов, покрытий и происходящих в них процессов на различных стадиях их получения, обработки и переработки.

Методы исследования вязкостных и упругих свойств, проявляемых при переработке (реологические свойства), поведения при нагреве и охлаждении.

Методы измерения температуры, дифференциальный анализ структурночувствительных свойств, дифференциальный термический анализ (ДТА), технологические пробы. Методы физического и математического моделирования процессов.

Тема 7. 5. Методы исследования строения материалов

Иерархия структуры материалов. Взаимосвязь составов, структуры и свойств материалов. Оптическая (световая) микроскопия.

Физические основы оптической микроскопии, длина волны света и разрешающая способность метода. Методы обработки изображений, основы стереометрической металлографии.

Рентгеноструктурный (РС) и рентгенофазовый (РФ) анализ. Дифракция рентгеновских лучей, условия Вульфа-Брегга, радиальная функция распределения. Принцип устройства и конструкция рентгеновского дифрактометра, образцы, проведение экспериментов, расшифровка рентгенограмм. Компьютерный рентгеновский томограф. Примеры использования и возможности РСА, РФА и компьютерной томографии в исследовании материалов и покрытий различной природы. Пример исследования фазового состава литого Fe-Ni-Mg КМ

Электронная микроскопия. Физические основы электронной микроскопии, волны Де Бройля, способы получения электронных пучков и основы электрон-ной оптики, взаимодействие электронов с веществом. Принципы просвечиваю-щей (трансмиссионной) и растровой (сканирующей) электронной микроскопии, зависимость разрешающей способности метода от длины волны электрона.

Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), принципиальная схема и устройство электронного микроскопа. Методы подготовки образцов, тонкие пленки и срезы, метод реплик, оттененение и контрастирование. Примеры использования и возможности ПЭМ в исследовании материалов и покрытий различной природы.

Растровая электронная микроскопия (РЭМ), принципиальная схема и устройство электронного микроскопа, подготовка образцов. Примеры использования и возможности РЭМ в исследовании материалов и покрытий различной природы.

Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), принципиальная схема и устройство туннельного микроскопа. Примеры использования и возможности СТМ в исследовании материалов и покрытий различной природы.

Атомно-силовая микроскопия, принципиальная схема и устройство АСМ. Примеры использования и возможности АСМ в исследовании материалов различной природы.

Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР). Спектры ЭПР и ЭПР релаксация. ЭПР-спектрометры и их характеристики. Анализ результатов и связь регистрируемых параметров со структурой вещества. Методы подготовки образцов. Области применения ЭПР.

Методы ядерного магнитного резонанса (ЯМР). Магнитный резонанс как явление, лежащее в основе различных радиоспектроскопических методов, классификация методов. ЯМР томография.

Спектроскопия ЯМР. Связь спектров ЯМР со структурой вещества. Условия проведения эксперимента, подготовка образцов. Области применения методов. Метод ЯМР-релаксации. Характерные примеры использования ЯМР-релаксации для получения информации о молекулярной подвижности, состоянии и структуре материала и фазовых переходах. Импульсные методики и их возможности при использовании ЯМР-релаксометров и ЯМР-анализаторов в контроле изделий, препаратов, в условиях кристаллизации, плавлении и др. превращениях.

Термический анализ. Классификация термических методов анализа. Термо-гравиметрия и дифференциальный термическй анализ, схема и устройство приборов, применение метода для исследования материалов.

Дифференциальная сканирующая калориметрия, схема прибора, применение метода.

Радиационные неразрушающие методы дефектоскопии, контроля состава и структуры. Радиографические, рентгенографические, гаммаграфические, люминесцентные методы дефектоскопии.

Акустические, ультрозвуковые методы дефектоскопии и контроля структуры. Эхометод. Методы прохождения и комбинированные методы. Методы колебаний. Акустико-эмиссионный метод. Электромагнитно-акустический метод.

Капиллярные методы дефектоскопии.

Вихретоковые (электромагнитные), магнитные методы дефектоскопии. Магнитопорошковый, магнитографический, магнитоферрозондовый, индукци-онный методы.

Установки и приборы для испытаний, получаемые результаты, методы их обработки и использования.