Главная страница
Навигация по странице:

  • 3. ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ

  • ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №5-5 ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОНЦЕНТРАЦИИ РАСТВОРОВ ПРИ ПОМОЩИ САХАРИМЕТРА

  • тюменский государственный нефтегазовый университет


    Скачать 234.79 Kb.
    Названиетюменский государственный нефтегазовый университет
    Дата17.03.2022
    Размер234.79 Kb.
    Формат файлаpdf
    Имя файла2490.pdf
    ТипМетодические указания
    #402411
    страница2 из 3
    1   2   3
    ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 5-3
    ИССЛЕДОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ СВЕТА НА
    ОТРАЖАТЕЛЬНОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКЕ
    Цель работы:
    Изучение явления дифракции и применения дифракционных реше- ток.
    Содержание работы:
    1. Определение параметров дифракционной решетки – числа штрихов N в решетке; угловой дисперсии D
    φ
    ; разрешающей способности решетки R;
    2. Исследование спектрального состава (длин волн λ) излучения.
    1. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ
    Дифракцией называют совокупность явлений, наблюдаемых при рас- пространении волн в среде с резкими неоднородностями и связанных с от- клонением от законов геометрической оптики. Дифракция света была объ- яснена Френелем с волновой точки зрения с помощью приближенного ме- тода, называемого принципом Гюйгенса-Френеля. В основе этого принци- па лежат несколько основных положений:
    - источник света можно заменить эквивалентной системой фиктив- ных вторичных источников – малых участков волновой поверхности, охва- тывающей источник;
    - вторичные источники когерентны, и поэтому излучаемые ими вто- ричные волны тоже когерентны и при наложении интерферируют.
    Дифракцию можно наблюдать, например, если на пути распростра- нения световой волны с длиной волны

    поместить непрозрачную прегра- ду либо с одиночной узкой щелью шириной a, либо преграду, содержащую
    N параллельных щелей одинаковой ширины a, разделенных непрозрачны- ми промежутками шириной b (дифракционную решетку).
    Дифракционные решетки бывают двух типов: прозрачные и отража- тельные. Прозрачные решетки изготавливаются из стеклянных или квар- цевых пластинок, на поверхность которых наносится алмазным резцом ряд параллельных штрихов. Прозрачные для света промежутки между штри- хами служат щелями. В настоящее время используются решетки с очень большим числом штрихов на единице длины (300, 600, 1200, 1800 и даже

    14 2400 штрихов на 1мм). При падении на такую пластинку световой волны часть светового потока проходит через прозрачные участки – щели, а часть рассеивается на штрихах (царапинах) и не проходит. Все точки щели, до которых доходит фронт световой волны, являются, согласно принципу
    Гюйгенса-Френеля, источниками вторичных когерентных волн, способных интерферировать. Результатом интерференции вторичных волн является дифракция света, наблюдаемая по другую сторону решетки на экране.
    Отражательные решетки наносятся алмазным резцом на поверхности металлического зеркала и представляют собой совокупность большого числа узких зеркальных полосок шириной a, разделенных друг от друга неотражающими, непрозрачными штрихами шириной b. Расстояние
    b
    a
    d


    называется постоянной (периодом) дифракционной решетки
    (рис.1). Теория отражательной решетки принципиально не отличается от теории прозрачной решетки. При дифракции, так же, как и при обычной интерференции, наблюдается перераспределение интенсивности световых волн в пространстве, т.е. чередование максимумов и минимумов интен- сивности.
    В данной работе изучается дифракционная картина на отражатель- ной решетке.
    Рис.1. Дифракция на отражательной решетке
    Пусть плоская монохроматическая волна с длиной волны

    падает наклонно под углом

    на отражательную дифракционную решетку (лучи 1,
    L
    B
    A
    Э
    B
    A
    A
    M
    A
    B
    A
    a
    B
    A
    d
    B
    A
    b
    B
    A
    1
    A


    1
    /






    2 2
    /
    3 3
    /

    15 2, 3 на рис.1). Рассмотрим сначала элемент такой решетки – зеркальную полоску AB между двумя темными штрихами. По принципу Гюйгенса-
    Френеля все точки зеркальной полоски AB шириной a становятся источни- ками вторичных когерентных волн, которые, накладываясь друг на друга,
    интерферируют и образуют отраженную волну под углом

    . Для таких лу- чей выполняется один из законов геометрической оптики – закон отраже- ния света: угол падения

    равен углу отражения,

    =

    (например, лучи 2 и
    2’ в точке M).
    Лучи 1 и 3, падающие в точки A и B, где имеется неоднородность среды (граница раздела отражающей и неотражающей свет поверхности),
    будут отражаться под углами

    ., отличными от угла падения

    , т.е. будут дифрагировать (лучи 1’ и 3’). Если бы при встрече с неоднородностью со- блюдался закон отражения света, как и для лучей, падающих на зеркаль- ную поверхность, то все лучи, пройдя через линзу L, дали бы на экране Э
    изображение источника света.
    В действительности, картина, наблюдаемая на экране, гораздо слож- нее и представляет собой чередование максимумов и минимумов интен- сивности. Это является следствием дифракции света (с учетом. интерфе- ренции вторичных волн, отклоненных под различными углами

    ).
    При падении световой волны на всю дифракционную решетку, со- держащую N зеркальных полос, кроме дифракции на каждой отдельной полоске будет наблюдаться дополнительно обычная интерференция свето- вых потоков (волн), отраженных от соседних полосок. На рис.2 изображен ход лучей, демонстрирующий это явление.
    Рис.2. Интерференция вторичных волн
    Пусть лучи 1 и 2 падают под углом

    в соответственные точки A и C,
    Рис.2






    1
    A
    2 1
    /
    2
    /
    A
    B
    A
    D
    C
    a
    B
    A
    b
    B
    A
    d
    B
    A

    16
    где имеются неоднородности. Рассмотрим дифрагирующие лучи 1’ и 2’,
    отклоняющиеся под одинаковым углом

    ., отличном от угла

    Вследствие когерентности при наложении они будут интерфериро- вать. Найдем условие усиления света, т.е. когда наблюдаются главные ди- фракционные максимумы. Для этого рассчитаем оптическую разность хода

    дифрагирующих лучей. Опустим перпендикуляр AB из точки A на на- правление луча 2 и перпендикуляр DC из точки C на направление луча 1’.
    До точек A и B лучи 1 и 2 проходят одинаковый оптический путь. После этих точек их пути различны. Оптическая разность хода для них равна:

    sin
    1




    d
    BC
    (1)
    Лучи 1’ и 2’ после точек D и C проходят одинаковый путь. До этих точек их пути различны. Поэтому оптическая разность хода для них равна:





    sin
    2
    d
    AD
    (2)
    Результирующая оптическая разность хода дифрагирующих лучей равна:
    )
    sin
    (sin
    1 2










    d
    (3)
    Преобразуем выражение (3):
    2
    cos
    2
    sin
    2










    d
    (4)
    Введем угол дифракции

    , т.е. угол отклонения луча от направления,
    соответствующего выполнению закона отражения света (угол падения ра- вен углу отражения):





    (5)
    Тогда выражение (4) принимает вид:
    2
    cos
    2
    sin
    2








    d
    (6)
    Как известно из теории интерференции, лучи 1’ и 2’ при наложении будут усиливать друг друга, если оптическая разность хода равна:




    k
    (7)
    где k – порядок дифракционного максимума (
    ,
    2
    ,
    1



    k
    ).

    17
    Приравнивая выражения (6) и (7), получим:









    k
    d
    2
    cos
    2
    sin
    2
    (8)
    Формула (8) – это условие главных максимумов.
    Из выражения (3) следует, что для лучей, для которых угол падения

    равен углу отражения

    (угол дифракции при этом равен нулю), оптиче- ская разность хода
    0


    , что, согласно выражению (7), соответствует
    0

    k
    . Такие лучи образуют центральный максимум нулевого порядка. На- блюдать максимумы других порядков (
    ,
    2
    ,
    1



    k
    ) можно, изменяя угол дифракции

    , чего можно добиться, поворачивая дифракционную решетку на различные углы

    (рис. 3).
    Рис.3. Связь угла поворота решетки

    с другими углами
    Поэтому углы

    и

    можно представить:





    0
    ;
    (9)





    0
    (10)
    где

    – угол поворота решетки.
    Из выражений (5), (9) и (10) следует, что угол дифракции равен:


    2





    (11)
    Тогда условие главных максимумов (8) принимает вид:







    k
    d
    0
    cos sin
    2
    (12)
    Из выражения (12) следует , что угол поворота решетки

    , (а следо-
    Рис.3




    0


    0
    ДР


    18
    вательно, и положения максимумов) зависит от длины волны

    излучения.
    Это позволяет использовать дифракционную решетку для разложения сложного света в спектр (в частности, белого света на монохроматические волны). Поэтому дифракционная решетка является спектральным
    прибором.
    Спектральный прибор, служащий для разложения сложного света на монохроматические компоненты, составной частью которого является ди- фракционная решетка, называется дифракционным спектрографом.
    Кроме дифракционной решетки, эти приборы имеют фокусирующую оп- тику, обеспечивающую четкое изображение входной щели.
    Определяя экспериментально положение спектральных линий (ди- фракционных максимумов), можно из выражения (12) найти длину волны излучения:
    k
    d
    0
    cos sin
    2






    (13)
    Качество дифракционной решетки определяется ее разрешающей способностью и угловой дисперсией.
    Угловая дисперсия D

    – это отношение угла
    
    между направле- ниями на дифракционные максимумы k-го порядка для двух монохромати- ческих излучений с близкими длинами волн

    1
    и

    2
    к разности длин волн
    1 2


    


    :
    
    


    D
    (14)
    Дифференцируя выражения (10) и (13), получим:
    

    






    k
    d
    0
    cos cos
    2
    ;
    (15)
    



    



    )
    (
    0
    (16)
    Подставив (15) и (16) в формулу (14), получим:
    0
    cos cos
    2





    
    d
    k
    D
    (17)

    19
    Разрешающая способность R решетки определяет минимальную раз- ность длин
    
    двух излучений с длинами волн

    1
    и
    




    1 2
    (
    1

    
    
    ),
    главные дифракционные максимумы k-го порядка для которых восприни- маются раздельно. Согласно критерию Рэлея, два близких максимума вос- принимаются глазом раздельно, если максимум для одной длины волны совпадает с минимумом для другой. На рис.4 представлено распределение интенсивностей от двух разрешимых спектральных линий

    1
    и

    2
    Рис.4. Критерий Рэлея
    Разрешающая способность решетки определяется соотношением:
    N
    k
    R





    

    (18)
    где N – общее число штрихов решетки,
    2 2
    1





    Чем больше число штрихов N, тем выше разрешающая способность решетки.
    2. ОПИСАНИЕ УСТАНОВКИ
    В данной работе для определения длины световой волны использует- ся спектрограф СДМС с отражательной дифракционной решеткой. Опти- ческая схема спектрографа приведена на рис.5.
    Свет от исследуемого источника света S через кварцевый конденсор
    (1) попадает на входную щель (2), находящуюся в фокальной плоскости объектива (3). Поворотное зеркало (4) и первый объектив (3) направляют
    Рис.4

    20
    k = -2
    k = -1
    k=0
    k = +1
    k = +2
    к ф к ф ф к ф к параллельный пучок света на дифракционную решетку (5) под углом

    Дифрагированный пучок лучей, отраженный под углом

    , фокусируется вторым объективом (6) в плоскости (7) и наблюдается через окуляр (8).
    Рис.5. Оптическая схема спектрографа
    Дифракционная решетка (5) может поворачиваться (на угол

    ), при этом изменяются углы

    и

    3. ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ
    1. Ознакомиться с прибором. Определить цену деления основной шкалы и шкалы барабана.
    2. Перед входной щелью спектрографа установить ртутную лампу с линейчатым спектром излучения. После ее включения добиться резкого изображения дифракционного спектра.
    Наблюдаемая картина в поле зрения окуляра имеет вид, представ- ленный на рис.6.
    Рис.6. Дифракционный спектр
    В центре расположен яркий дифракционный максимум нулевого по-

    21
    рядка (
    0

    k
    ). Симметрично по обе стороны располагаются спектры 1-го,
    2-го и т. д. порядков. В спектре каждого порядка видны цветные линии
    (фиолетовые, синие, зеленые и т.д.).
    3. Установить с помощью барабана с делениями в поле зрения оку- ляра центральную светлую линию нулевого порядка так, чтобы указатель совпадал с ее серединой.
    4. Сделать отсчет по шкале

    01
    . Эту операцию проделать 3 раза и данные занести в таблицу 1. Найти среднее значение

    0 5. Совместить указатель с серединой требуемой спектральной линии
    (например, фиолетовой), находящейся слева от центральной в спектре пер- вого порядка (
    1

    k
    ). Сделать отсчет по шкале

    1
    . Измерения проделать три раза. Результаты занести в табл. 1.
    6. Провести измерения для других спектральных линий спектра того же порядка (зеленой, желтой).
    7. Провести аналогичные измерения для спектров 2-го и 3-го поряд- ков (k = 2 и k = 3 ) по указанию преподавателя. Каждый из отсчетов проде- лать 3 раза.
    8. Аналогичные измерения провести для спектральных линий того же порядка, находящихся справа от центральной линии.
    Таблица 1. Результаты измерений и вычислений
    Постоянная решетки, мм
    1200 1

    d
    Длина решетки
    l = 80 мм
    992 0
    cos
    0


    Число штри- хов
    d
    l
    N

    01

    02

    03

    0

    Нуль прибора
    i
    0

    Первый порядок,
    1

    k
    Отсчеты

    0





    k
    cos
    sin
    d
    0 2






    ,
    нм
    Спектраль- ная линия
    (цвет)

    влево вправо влево вправо влево вправо
    2
    ВП
    ВЛ





    , нм
    1 2
    Фиолетовая-1 3

    =

    =

    22 1
    2
    Фиолетовая-2 3

    =

    =
    1 2
    Зеленая-1 3

    =

    =
    1 2
    Зеленая-2 3

    =

    =
    1 2
    Зеленая-3 3

    =

    =
    1 2
    Желтая-1 3

    =

    =
    1 2
    Желтая-2 3


    Второй порядок,
    2

    k
    1 2
    Фиолетовая-1 3


    1 2
    Фиолетовая-2 3

    =

    =


    23
    4. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ
    1. По формуле (13) рассчитать длину волны для всех наблюдаемых спектральных линий, определить
    2
    ВПРАВО
    ВЛЕВО





    (см. таблицу 1)
    для первого, второго и т.д. порядков.
    2. По формуле (17) определить угловую дисперсию дифракционной решетки.
    3. Определить разрешающую способность решетки по формуле (18)
    для наблюдаемых порядков спектра.
    5. КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
    1. Что называется дифракцией света?
    2. В чем состоит принцип Гюйгенса-Френеля?
    3. В чем состоит метод зон Френеля?
    4. Что представляет собой дифракционная решетка и для чего она ис- пользуется?
    5. Какие существуют типы решеток? Что такое период решетки?
    6. Запишите условие главных максимумов для отражательной решетки.
    7. Почему дифракционную решетку можно использовать как спек- тральный прибор?
    8. Объяснить ход лучей в спектрографе.
    9. Что такое разрешающая способность решетки и как она вычисляет- ся?
    10. Что такое угловая дисперсия и как она определяется?
    11. Как определить длину волны спектральной линии с помощью спек- трографа?

    24
    ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №5-5
    ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОНЦЕНТРАЦИИ РАСТВОРОВ
    ПРИ ПОМОЩИ
    САХАРИМЕТРА
    Цель работы:
    Изучение явления вращения плоскости поляризации.
    Содержание работы:
    1. Исследование зависимости угла вращения плоскости поля- ризации от концентрации раствора/
    2. Определение неизвестной концентрации раствора.
    3. Определение удельного вращения раствора.
    1. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ
    1.1 В
    РАЩЕНИЕ ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ СВЕТА ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫМИ
    ВЕЩЕСТВАМИ
    С точки зрения электромагнитной теории свет представляет собой поперечные электромагнитные волны. При этом векторы Е и Н образуют с направлением распространения волны право-винтовую систему (рис.1).
    Рис.1. Световая волна
    Вектор напряженности электрического поля Е световой волны обыч- но называют световым вектором. Свет, в котором направления колебаний вектора Е упорядочены каким-либо образом, называют поляризованным.
    Если световой вектор колеблется по прямой линии, то свет называют ли- нейно поляризованным (или плоско поляризованным). Когда вектор Е
    описывает эллипс, говорят об эллиптической поляризации. Если же свето- вой вектор описывает окружность, то говорят о круговой поляризации.
    Такое поведение вектора Е совершенно аналогично пoведению изу- чаемой в механике механической системы, в кoтopoй происходит сложе- ние двух взаимно перпендикулярных колебаний одинаковой частоты.
    В естественном свете колебания светового вектора совершаются хао-

    25
    Рис.2. Анализ поляризо-
    ванного света
    тически. Такой свет является не поляризованным. Это связано с тем, что световая волна в этом случае слагается из множества волн, испускаемых отдельными атомами случайно незави- симым друг от друга образом.
    Плоскополяризованный свет мож- но получить из естественного с помо- щью приборов, называемых поляризато- рами. Эти приборы свободно пропуска- ют колебания одного направления, кото- рое иногда называют направлением по- ляризации (рис.2). На этом рисунке та- кие направления поляризации условно обозначены стрелками. После поляризатора П естественный свет стано- вится плоскополяризованным. Поляризатор, стоящий на пути поляризо- ванного света называют анализатором. Если направление поляризации анализатора перпендикулярно направлению колебаний вектора Е поляри- зованного света (как это имеет место для анализатора А на рис. 2), то свет через анализатор не пройдет.
    При прохождении пучка поляризованного света через некоторые ве- щества свет остается линейно поляризованный, но плоскость колебаний электрического вектора Е и, соответственно, плоскость поляризации, по- ворачиваются на некоторый угол. Вещества, вызывающие поворот плоско- сти поляризации, называются
    1   2   3


    написать администратору сайта