Главная страница
Навигация по странице:

  • Углеродные нанотрубки. Способы получения.

  • Дуговой разряд

  • Метод лазерной абляции

  • Химическое осаждение из газовой фазы

  • Сканирующий зондовый микроскоп.

  • Группа ЕЭМ-1-21. Нанотехнологии в энергетике. Модуль 1. Модульное задание Нанотехнологии в энергетике


    Скачать 111.28 Kb.
    НазваниеМодульное задание Нанотехнологии в энергетике
    Дата22.04.2022
    Размер111.28 Kb.
    Формат файлаdocx
    Имя файлаГруппа ЕЭМ-1-21. Нанотехнологии в энергетике. Модуль 1.docx
    ТипДокументы
    #491216

    Модульное задание

    Нанотехнологии в энергетике

    Дон Алексей Олегович ЕЭМ-1-21

    1. Углеродные нанотрубки. Способы получения.

    2. Сканирующий зондовый микроскоп.

    Углеродные нанотрубки. Способы получения.

    Углеродная нанотрубка — это аллотропная модификация углерода, представляющая собой полую цилиндрическую структуру диаметром от десятых до нескольких десятков нанометров и длиной от одного микрометра до нескольких сантиметров, состоящие из одной или нескольких свёрнутых в трубку графеновых плоскостей.

    Углеродные нанотрубки подразделяются по числу слоев:

    • однослойные нанотрубки – самый простой вид нанотрубок. Большая их часть из них имеют диаметр порядка 1 нм при длине, которая может получиться в тысячи раз больше;

    • многослойные нанотрубки, состоящих из нескольких слоев графена, они складываются в форме трубки. Между слоями образуется расстояние 0,34 нм, то есть идентичное расстоянию между слоями в кристалле графита.



    Рисунок 1 – однослойные и многослойные нанотрубки

    Синтезировать углеродные нанотрубки можно разными способами, но наиболее распространенными являются:

    • Дуговой разряд. Метод обеспечивает получение нанотрубок на технологических установках для выработки фуллеренов в плазме дугового разряда, который горит в атмосфере гелия. Но здесь применяются иные режимы горения дуги: более высокое давление гелия и низкие плотности тока, а также катоды большего диаметра. В катодном осадке находятся нанотрубки длиной до 40 мкм, они растут перпендикулярно от катода и объединяются в цилиндрические пучки.

    • Метод лазерной абляции. Метод базируется на испарении мишени из графита в специальном высокотемпературном реакторе. Нанотрубки образуются на охлажденной поверхности реактора в виде конденсата испарения графита. Данный метод позволяет преимущественно получать однослойные нанотрубки с контролем необходимого диаметра посредством температуры. Но указанный метод существенно дороже других.

    • Химическое осаждение из газовой фазы. Данный метод предполагает подготовку подложки со слоем катализатора – это могут быть частицы железа, кобальта, никеля или их комбинаций. Диаметр нанотрубок, выращенных указанным способом, будет зависеть от размера используемых частиц. Подложка нагревается до 700 градусов. Для инициации роста нанотрубок вводятся в реактор углеродосодержащий газ и технологический газ (водород, азот или аммиак). Нанотрубки растут на участках катализаторов из металла.

    Сканирующий зондовый микроскоп.

    Сканирующие зондовые микроскопы — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением.

    Отличительной особенностью СЗМ является наличие:

    • зонда,

    • системы перемещения зонда относительно образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам,

    • регистрирующей системы.

    Регистрирующая система фиксирует значение функции, зависящей от расстояния зонд-образца. Обычно регистрируемое значение обрабатывается системой отрицательной обратной связи, которая управляет положением образца или зонда по одной из координат (Z). В качестве системы обратной связи чаще всего используется ПИД-регулятор.

    Основные типы сканирующих зондовых микроскопов:

    • Сканирующий атомно-силовой микроскоп

    • Сканирующий туннельный микроскоп

    • Ближнепольный оптический микроскоп

    Работа сканирующего зондового микроскопа основана на взаимодействии поверхности образца с зондом (кантилевер, игла или оптический зонд). При малом расстоянии между поверхностью и зондом действие сил взаимодействия (отталкивания, притяжения, и других сил) и проявление различных эффектов (например, туннелирование электронов) можно зафиксировать с помощью современных средств регистрации. Для регистрации используют различные типы сенсоров, чувствительность которых позволяет зафиксировать малые по величине возмущения. Для получения полноценного растрового изображения используют различные устройства развертки по осям X и Y (например, пьезотрубки, плоскопараллельные сканеры).



    Рисунок 2 – Схема работы атомно-силового микроскопа (слева) и сканирующего туннельного микроскопа (слева)

    Для получения СЗМ изображения осуществляют специальным образом организованный процесс сканирования образца. При сканировании зонд вначале движется над образцом вдоль определенной линии (строчная развертка), при этом величина сигнала на исполнительном элементе, пропорциональная рельефу поверхности, записывается в память компьютера. Затем зонд возвращается в исходную точку и переходит на следующую строку сканирования (кадровая развертка), и процесс повторяется вновь. Записанный таким образом при сканировании сигнал обратной связи обрабатывается компьютером, и затем СЗМ изображение рельефа поверхности Z = f(x,y) строится с помощью средств компьютерной графики. Наряду с исследованием рельефа поверхности, зондовые микроскопы позволяют изучать различные свойства поверхности: механические, электрические, магнитные, оптические и многие другие.

    Сканирующий зондовый микроскоп позволяет получать изображение как проводящей, так и непроводящей поверхности, тогда как для изучения непроводящих объектов с помощью растрового электронного микроскопа необходимо металлизировать поверхность. СЗМ может исследовать материалы в разных средах: в воздухе, в воде, в вакууме. Благодаря этому, с помощью СЗМ возможно изучать материалы и биологические объекты в нормальных для этих объектов условиях.

    К недостатку СЗМ следует отнести небольшой размер поля сканирования. Другая проблема заключается в том, что качество изображения определяется радиусом кривизны кончика зонда, что при неправильном выборе зонда или его повреждении приводит к появлению артефактов на получаемом изображении.


    написать администратору сайта