Главная страница
Навигация по странице:

  • К наноматериалам

  • Первая задача нанометрологии

  • Лекция 1 Нанометрология термины и определения


    Скачать 44.15 Kb.
    НазваниеЛекция 1 Нанометрология термины и определения
    Дата13.10.2019
    Размер44.15 Kb.
    Формат файлаpptx
    Имя файлаLektsia_201_20Metrologia_20nanostruktur_1.pptx
    ТипЛекция
    #89825

    Лекция 1 Нанометрология – термины и определения

    Метрология (от греч. métron - мера и lógos - учение) – наука о методах и средствах измерений, обеспечение единства измерений, включающее стандартизацию единиц физических величин, их воспроизведение с наивысшей точностью с помощью Первичных эталонов, а также передача размеров таких единиц иерархическим образом всем средствам измерений.

    Нанометрология —  наука, отличающаяся измерениями, методами и средствами их обеспечения единствами и способами достижения требуемой точности в диапазоне нанометров.

    Нанометр — это расстояние, проходимое светом за 10-9/с секунды, и использовать данное определение в измерениях

    К наноматериалам

    К нанотехнологиям

    • относят дисперсные и массивные материалы, содержащие структурные элементы (зерна, кристаллиты, блоки, кластеры и т.п.), геометрические размеры которых хотя бы в одном измерении не превышают 100 нм, и обладающие качественно новыми функциональными и эксплуатационными характеристиками.
    • можно отнести технологии, обеспечивающие возможность контролируемым образом создавать и модифицировать наноматериалы, а также осуществлять их интеграцию в полноценно функционирующие системы большего масштаба.
    • фундаментальные исследования свойств материалов на наномасштабном уровне;
    • развитие нанотехнологий для целенаправленного создания наноматериалов, а также поиска и использования природных объектов с наноструктурными элементами, создание готовых изделий с использованием наноматериалов и интеграция наноматериалов и нанотехнологий в различные отрасли промышленности и науки;
    • развитие средств и методов исследования структуры и свойств наноматериалов, а также методов контроля и аттестации изделий и полуфабрикатов для нанотехнологий.
    • стремлением к миниатюризации изделий,
    • уникальными свойствами материалов в наноструктурном состоянии,
    • необходимостью разработки и внедрения материалов с качественно и количественно новыми свойствами,
    • развитием новых технологических приемов и методов, базирующихся на принципах самосборки и самоорганизации,
    • практическим внедрением современных приборов исследования, диагностики и модификации наноматериалов (сканирующая зондовая микроскопия),
    • развитием и внедрением новых технологий, представляющих собой последовательность процессов литографии, технологий получения нанопорошков и т.п.,
    • приближением к фундаментальным ограничениям (скорость света, соизмеримость наноструктурных элементов с длиной волны электрона и т.п.).

    Предмет и задачи нанометрологии

    Первая задача нанометрологии

    Вторая задача нанометрологии

    • обеспечение единства измерений геометриче­ских параметров нанообъекта, опирающаяся на метрологию линейных измерений.
    • измерения механических, электрических, магнитных, оптических и мно­гих других параметров и свойств объекта нанотехнологии требуют осуществления позиционирования зонда измерительного устройства в требуемое место с эталонной точностью.

    Направления работ в области нанометрологии

    • Разработка рабочего эталона (установки высшей точности) на базе приборов нанометрового диапазона с интерференционными и другими датчиками перемещений.
    • Разработка комплекса параметрических мер для калибровки приборов нанометрового диапазона, а также для передачи размера единицы длины в нанометровом диапазоне от первичного эталона к рабочему.
    • Разработка Государственной поверочной схемы для передачи размеров единицы длины от государственного исходного эталона к рабочим средствам измерений.
    • Разработка нормативно-технической документации, включая методику испытаний и поверки средств измерений на приборах нанометрового диапазона геометрических параметров двух - и трехмерных наноструктур.
    • Законодательное оформление разработанного рабочего эталона в качестве Государственного рабочего эталона в области измерений нанометрового диапазона.
    • Организация работ по международному сличению мер линейных размеров.
    • Создание Центра нанометрологии и нанодиагностики


    написать администратору сайта