Главная страница
Навигация по странице:

  • Расчет надежности интегральных микросхем

  • Расчет надежности соединений.

  • Суммарная интенсивность отказов устройства.

  • КП_ОТН_18_21_вариант_Канарев. Методы расчета показателей надежности сжат


    Скачать 0.57 Mb.
    НазваниеМетоды расчета показателей надежности сжат
    Дата24.05.2023
    Размер0.57 Mb.
    Формат файлаdocx
    Имя файлаКП_ОТН_18_21_вариант_Канарев.docx
    ТипКурсовая
    #1156478
    страница5 из 6
    1   2   3   4   5   6

    3.6 Расчет эксплуатационной надежности СЖАТ


    Исходные данные:

    Коэффициент приемки = 5

    t= № варианта *+10 = 18+10 = 28

    Базовая интенсивность отказа = № варианта 18* 10-7

    Тип соединения 2 (таблица №8)

    ФАЛ
    Логическая схема представлена на рисунке 1:



    Рисунок 1. Логическая схема

    Преобразуем логическую схему в схему электрическую с использованием интегральных микросхем. (Рисунок 2.)



    Рисунок 2. Электрическая схема с использованием интегральных

    D1-К155ЛН1

    D2-К155ЛИ5

    D3-К155ЛЛ1

    Используемые микросхемы:

    Условное графическое обозначение К155ЛИ5

    Микросхема представляет собой два логических элемента 3И с мощным открытым коллектором. Корпус К155ЛИ5 типа 201.14-2, масса не более 1 г.
    1 ,2,12,13 - входы;
    3,4,6,8,9.11 - свободные;
    5,10 - выходы;
    7 - общий;
    14 - напряжение питания; 

    Электрические параметры

    1

    Номинальное напряжение питания

    5 В   5 %

    2

    Выходное напряжение низкого уровня
        при IC=100 мА
        при IC=300 мА

      
    не более 0,5 В
    не более 0,7 В

    3

    Входной ток низкого уровня

    не более -1,6 мА

    4

    Входной ток высокого уровня

    не более 0,04 мА

    5

    Входной пробивной ток

    не более 1 мА

    6

    Ток потребления при низком уровне выходного напряжения

    не более 65 мА

    7

    Ток потребления при высоком уровне выходного напряжения

    не более 11 мА

    8

    Потребляемая статическая мощность

    не более 200 мВт

    9

    Время задержки распространения при включении

    не более 25 нс

    10

    Время задержки распространения при выключении

    не более 25 нс

    Условное графическое обозначение К155ЛЛ1

    Микросхема представляет собой четыре логических элемента 2ИЛИ. Корпус К155ЛЛ1 типа 201.14-1, масса не более 1 г.

    1 ,2,4,5,9,10,12,13 - входы;
    3,6,8,11 - выходы;
    7 - общий;
    14 - напряжение питания;

    Электрические параметры

    1

    Номинальное напряжение питания

    5 В   5 %

    2

    Выходное напряжение низкого уровня

    не более 0,4 В

    3

    Выходное напряжение высокого уровня

    не менее 2,4 В

    4

    Входной ток низкого уровня

    не более -1,6 мА

    5

    Входной ток высокого уровня

    не более 0,04 мА

    6

    Входной пробивной ток

    не более 1 мА

    7

    Ток потребления при низком уровне выходного напряжения

    не более 38 мА

    8

    Ток потребления при высоком уровне выходного напряжения

    не более 22 мА

    9

    Потребляемая статическая мощность на один логический элемент

    не более 39,4 мВт

    10

    Время задержки распространения при включении

    не более 22 нс

    11

    Время задержки распространения при выключении

    не более 15 нс

    Условное графическое обозначение К155ЛН1

    Микросхема представляет собой два логических элементов НЕ. Корпус К155ЛН1 типа 201.14-1, масса не более 1 г

    1 ,3,5,9,11,13 - входы;
    2,4,6,8,10,12 - выходы;
    7 - общий;
    14 - напряжение питания;

    Электрические параметры

    1

    Номинальное напряжение питания

    5 В   5 %

    2

    Выходное напряжение низкого уровня

    не более 0,4 В

    3

    Выходное напряжение высокого уровня

    не менее 2,4 В

    4

    Входной ток низкого уровня

    не более -1,6 мА

    5

    Входной ток высокого уровня

    не более 0,04 мА

    6

    Входной пробивной ток

    не более 1 мА

    7

    Ток потребления при низком уровне выходного напряжения

    не более 33 мА

    8

    Ток потребления при высоком уровне выходного напряжения

    не более 12 мА

    9

    Потребляемая статическая мощность на один логический элемент

    не более 19,7 мВт

    10

    Время задержки распространения при включении

    не более 15 нс

    11

    Время задержки распространения при выключении

    не более 22 нс

    Из справочника «Надежность электрорадиоизделий» возьмем сведения о показателях надежности (табл.1):

    Таблица 1

    Номер серии ИС

    Типономинал ИС

    Номер ТУ

    Технология

    Количество элементов, бит (для ЗУ)

    Тип корпуса

    Микросхемы интеграьные цифровые

    155

    155ЛИ5

    И63.088.042ТУ36




    26

    пластмассовый

    155ЛЛ1

    И63.088.042ТУ65




    32

    пластмассовый

    155ЛН1

    И63.088.042-43ТУ




    78

    пластмассовый

    Условия эксплуатация схемы представлены в таблицах 2 и 3.

    Для этого воспользуемся ГОСТ 34012 «Аппаратура железнодорожной автоматики и телемеханики. Общие технические требования».

    Таблица 2

    Классификация по воздействиям механических нагрузок при эксплуатации

    Класс условий размещения

    Характеристика условий размещения

    МС2

    Стационарное наружное размещение в местах, расположенных на расстоянии от 1,8 до 5 м от внутренней грани головки ближайшего рельса


    Таблица 3

    Классификация по воздействиям климатических факторов при эксплуатации

    Класс условий размещения

    Характеристика условий размещения

    Категория размещения по ГОСТ 15150

    К3

    Стационарное наружное размещение в качестве встроенных или съемных элементов иных изделий без дополнительной защиты от нагрева солнцем

    2


    Расчет надежности интегральных микросхем

    В общем случае, значения эксплуатационной интенсивности отказов электрорадиоизделий (ЭРИ) рассчитываются по математическим моделям, имеющим вид:

    или (1) , где

    - исходная интенсивность отказов типа(группы) ЭРИ, приведенная к условиям:

    -электрическая нагрузка, равная номинальной;

    -температура окружающей среды t=28 °C;

    – коэффициенты, учитывающие изменения эксплуатационной интенсивности отказов в зависимости от различных факторов

    n – количество учитываемых факторов

    Математическая модель для расчета эксплуатационной интенсивности отказов отдельных типономиналов интегральных микросхем в рабочем режиме приведена в таблице 4.

    Таблица 4



    Таблица 5



    Определим эксплуатационную интенсивность отказов для интегральных микросхем.

    Значения коэффициента , учитывающего сложность ИС и температуру окружающей среды, рассчитывается по формуле:





    t - температура окружающей среды, °C (по заданию t=28°C)

    При температуре окружающей среды, равной 20°C, получим:



    Значения коэффициента модели для микросхем, cодержащих (>10-100 элементов) взяты из таблицы 6.

    Таблица 6



    Коэффициент эксплуатации при использовании ИС в условиях цехов промышленных предприятий, берется равным 1,5.

    Значения , учитывающего тип корпуса микросхемы берем из таблицы 7.

    Таблица 7



    Значения коэффициента , учитывающего снижение максимальных значений напряжения питания возьмем из таблицы 8.

    Таблица 8



    Значения коэффициента , учитывающего степень освоенности технологического процесса , примем равным 1.

    Коэффициент приемки отражает 2 уровня качества изготовленных изделий:

    -с приемкой 5

    -с приемкой 9

    Для изделий с приемкой 5 значение

    Все коэффициенты для расчета надежности интегральных микросхем сведем в таблицу 9.

    Коэффициенты модели условно разделены на 2 группы:

    - первая группа коэффициентов является общей для всех или большинства типов изделий и характеризует режимы и условия их применения, уровень качества производства

    - вторая группа коэффициентов включается в модели конкретных типов ЭРИ и характеризует конструкционные, функциональные и технологические особенности

    Таблица 9










    Общие коэффициенты моделей

    Коэффициенты моделей конкретных классов ЭРИ

    Тип микросхемы

    n





















    К155ЛИ5

    1

    18*10-6

    1

    1,5

    0,85

    1,5

    0,5

    0,853

    1

    3

    1,46*10-5

    К155ЛЛ1

    1

    18*10-6

    1

    1,5

    0,85

    1,5

    0,5

    0,853

    1

    3

    1,46*10-5

    К155ЛН1

    1

    18*10-6

    1

    1,5

    0,85

    1,5

    0,5

    0,853

    1

    3

    1,46*10-5

    Итого

    4,4*10-5


    Расчет надежности соединений.

    Математическая модель для расчета эксплуатационной интенсивности отказов соединений имеет вид:



    Коэффициент эксплуатации для соединений условиях цехов промышленных предприятий, берется равным 1,5.

    Базовое значение интенсивности отказов для ручной пайки ЭРИ с обьемным монтажом составляет .

    По схеме (рис. 2) определим количество соединений N=16.

    Таким образом
    Суммарная интенсивность отказов устройства.

    При условии, что любой отказ микросхемы или соединения приводит к отказу всего устройства, суммарная эксплуатационная интенсивность отказов устройства определяется как



    где

    - эксплуатационная интенсивность отказов интегральных микросхем;

    - эксплуатационная интенсивность отказов соединений;

    – количество интегральных микросхем в устройстве;

    – число соединений.

    Вывод :

    Для заданных условий интенсивность отказов данной схемы при температуре эксплуатации 28 °С составила 1/ч, из них 99% приходится на соединения.
    1   2   3   4   5   6


    написать администратору сайта