Методическое пособие к практическим занятиям. Приложение 4 Методические указания по проведению ЛР и ПР. Методические указания по выполнению лабораторных и практических работ по специальности Производство промышленных газов
 Скачать 240.03 Kb.
|
Практическая работа 3 «Статистические методы анализа и контроля качества»Теория для повторения. Для анализа результатов контроля качества широкое распространение получили методы статистического контроля качества (Statistical Quality Control - SQC). Наиболее известными среди них стали «семь инструментов контроля качества», которые сначала широко применялись в кружках качества в Японии, а затем и в других странах, благодаря своей эффективности и доступности для рядовых работников предприятий. В состав «семи инструментов» входят: метод расслоения, графики, диаграмма разброса, диаграмма Парето, причинно-следственная диаграмма, контрольные карты, гистограммы. 1. Диаграмма Парето (Pareto diagram), названная так по имени ее автора, итальянского ученого-экономиста Парето (1845-1923), позволяет наглядно представить величину потерь в зависимости от различных дефектов. Благодаря этому можно сначала сосредоточить внимание на устранении тех дефектов, которые приводят к наибольшим потерям. Для выяснения причин этих дефектов целесообразно дополнительно использовать причинно-следственную диаграмму. 2. Причинно-следственная диаграмма (Causeandeffectdiagram) применяется, как правило, при анализе дефектов, приводящих к наибольшим потерям. Она позволяет выявить причины таких дефектов и сосредоточиться на устранении этих причин. При этом анализируются четыре основных причинных фактора: человек, машина (оборудование), материал и метод работ. При анализе этих факторов выявляются вторичные, а может быть, и третичные причины, приводящие к дефектам и подлежащие устранению. Поэтому для анализа дефектов и построения диаграммы необходимо определить максимальное число причин, которые могут иметь отношение к допущенным дефектам. Такую диаграмму в виде рыбьего скелета предложил японский ученый К. Исикава. 3. Гистограмма (Histogram) представляет собой столбчатый график и применяется для наглядного изображения распределения конкретных значений параметра по частоте повторения за определенный период времени (неделя, месяц, год). При нанесении на график допустимых значений параметра можно определить, как часто этот параметр попадает в допустимый диапазон или выходит за его пределы. 4. Диаграмма разброса (Scatter diagram-корреляционная диаграмма) строится как график зависимости между двумя параметрами. Это позволяет определить, есть ли взаимосвязь между этими параметрами. И если такая взаимосвязь существует, можно устранить отклонение одного параметра, воздействуя на другой. При этом возможна положительная или отрицательная взаимосвязь, но возможно и отсутствие какой-либо взаимосвязи. 5. Контрольная карта (Control chart) - это разновидность графика, который отличается наличием контрольных границ, обозначающих допустимый диапазон разброса характеристик в обычных условиях течения процесса. Выход характеристик за пределы контрольных границ означает нарушение стабильности процесса, что требует проведения анализа причин и принятия соответствующих мер по их устранению. 6. Метод расслоения (послойный анализ-Stratification) применяют для выяснения причин разброса характеристик изделий. Существо метода заключается в разделении (расслоении) полученных характеристик в зависимости от различных факторов: квалификации работников, качества исходных материалов, методов работ, характеристик оборудования и т.д. При этом определяется влияние того или иного фактора на характеристики изделия, что позволяет принять необходимые меры для устранения их недопустимого разброса. 7. Графики используются для наглядности и облегчения понимания взаимозависимости количественных величин или их изменений во времени. Чаще всего применяются линейные, круговые, столбчатые и ленточные графики. Задача 1. В таблице 1 приведены данные социологического опроса покупателей утюгов. Оценить качество каждого утюга путем расчета средневзвешенного арифметического показателя. Таблица 1
Задача 2. На основе анализа диаграммы Парето выявить причину брака, требующую немедленного устранения. Рассчитать индексы брака по видам. Данные о браке в производстве приведены в табл. 2. Этапы построения диаграммы Парето: 1. Анализ данных о браке: количество случаев, сумма потерь, удельный вес брака по видам. 2. Виды брака располагают в порядке убывания сумм потерь, так чтобы в конце стояли виды, соответствующие меньшим потерям. 3. Строится столбиковый график, вертикальная сторона столбика соответствует величине потери от данного вида (основания всех столбцов равны), и строим кривую кумулятивной суммы, так называемую кривую Лоренца. На правой стороне графика откладывают значение кумулятивного процента, полученный график называется диаграммой Парето. 4. По оси абсцисс откладывают виды брака, а по оси ординат – сумму потерь от брака. 5. Подсчитывают накопленную сумму, ее принимают за 100%, и рассчитывают кумулятивный процент потерь от брака. Таблица 2.2 Данные о браке в производстве
На основе построенной диаграммы Парето провести анализ распределении брака по причинам, по наибольшей сумме потерь от брака установить убыточную причину и определить меры по ее устранению. Задача 3. Построить карту статистического контроля качества конденсаторов МБГП-2-2000-А-111 ГОСТ 7112-97 методом средних арифметических величин. Определить поле допуска исходя из номинальной емкости конденсатора и допускаемой величины отклонения. Установить внешние границы поля допуска, а также внутренние границы верхнего и нижнего предупредительного допуска. Определить среднеарифметическое значение емкости конденсаторов (X) в каждой j-й выборке и нанести его точками на карту. Определить среднеарифметическое значение всех исследуемых конденсаторов. Определить положение контрольных линий на диаграмме размахов, рассчитать величину размахов по каждой выборке и нанести ее точками на диаграмму. Рассчитать коэффициенты точности настройки процесса производства. Исходные данные для расчета. Номинальная емкость конденсатора. Допустимая относительная величина отклонения емкости конденсатора от номинальной величины составляет ±20 %. Фактическая величина емкости конденсаторов по выборкам представлена в табл. 3. Таблица 3. Фактическая величина емкости конденсаторов после замеров
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||