Методы расчета показателей надежности СЖАТ. Особенности надежности и безопасности сжат
Скачать 434.34 Kb.
|
РАСЧЕТ ЭКСПЛУАТАЦИОННОЙ НАДЕЖНОСТИ СЖАТ.ИСХОДНЫЕ ДАННЫЕ Кэ (коэффицент эксплуатации) =1 Кпр (коэффицент приёмки) =5 Кпопр = от 0,1 до 0,7 – необходимо обосновать выбор значение коэффициента (стр. 6 Методики) t =25 0С ƛбаз(базовая интенсивность микросхем) =5*10-6 1/час. Рисунок 8. Логическая схема.Рисунок 9. Электронная принципиальная схема.ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ МИКРОСХЕМИнтегральная микросхема серии ТТЛ.Микросхемы: КМ155ЛИ1 представляют собой 4 двухвходовых логических элемента И (λ=4,67*10-8 1/ч), КМ155ЛЛ1 - 4 двухвходовых логических элемента ИЛИ (λ=4,4*10-8 1/ч), КМ155ЛН1 - 6 логических элементов НЕ (λ=4,39*10-8 1/ч).Корпус типа 201.14-1, масса не более 1 г (полимерный).Предельно допустимые режимы эксплуатации микросхем КМ155ЛИ1, КМ155ЛЛ1 и КМ155ЛН1:Напряжение питания 4,75 - 5,25 В;Входное напряжение низкого уровня .......... < 0,4 В;Входное напряжение высокого уровня .......... > 2,4 В;Входной ток низкого уровня .......... < 16 мА;Выходной ток высокого уровня .......... < -0,8 мА;Температура окружающей среды: -45 + 85 °С.Расчет коэффициента Ксл характеризующего сложность ИС и температуру окружающей среды:Ксл=АeВ(t+225)=1,62где А=12,23*10-4, В=20,79*10-3, t=25 оСКоэффициент Ккорп учитывающий тип корпуса равен 3,0Коэффициент Ку учитывающий снижение максимальных значений напряжения питания равен 1,0Коэффициент Кэ при использовании в стационарной аппаратуре равен 1,0Коэффициент Кпр отражает уровень качества изготовления изделий, в данном случае приемка 5, а коэффициент равен 1,0Коэффициент Кис учитывающий степень освоенности технологического процесса, равен 1,0λэ1= λс1 Ксл Ккорп Ку Кэ Кпр Кис=4,39*10-8 *1,62*3*1*1*1=21,33*10-8 1/чλэ2= λс2 Ксл Ккорп Ку Кэ Кпр Кис=4,4*10-8 *1,62*3*1*1*1=21,34*10-8 1/чλэ3= λс3 Ксл Ккорп Ку Кэ Кпр Кис=4,67*10-8 *1,62*3*1*1*1=22,69*10-8 1/чλэ4= λс4 Ксл Ккорп Ку Кэ Кпр Кис=4,4*10-8 *1,62*3*1*1*1=21,34*10-8 1/чРАСЧЕТ НАДЕЖНОСТИ СОЕДИНЕНИЙλэ11= Кэ∑Ni λбi=1*1*14*0,04*10-8=0,56*10-8 1/чλэ12= Кэ∑Ni λбi=1*1*16*0,04*10-8=0,34*10-8 1/чλэ13= Кэ∑Ni λбi=1*1*15*0,04*10-8=0,3*10-8 1/чλэ14= Кэ∑Ni λбi=1*1*17*0,04*10-8=0,38*10-8 1/чλэ=∑ λi+∑ λj= λэ1+ λэ2+ λэ3+ λэ4+ λэ11+ λэ12+ λэ13+ λэ14=89,18*10-8 1/ч В процессе эксплуатации на устройства и системы ЖАТ оказывают воздействия различные внешние факторы, поэтому при расчете надежность СЖАТ необходимо учитывать и влияние природных факторов. Для этого при расчете надежности используют поправочные коэффициенты: общие коэффициенты для всех типов изделий и коэффициенты для конкретных моделей ЭРИ. Также при расчетах учитываются и способы соединения микросхем. По расчетам эксплуатационная интенсивность отказов рассматриваемой схемы составляет: λэ = 89,18*10-8 1/ч3. ВЫВОДЫ ОБ ОСОБЕННОСТЯХ ПРИМЕНЕНИЯ И ЭФФЕКТИВНОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ РАЗЛИЧНЫХ МЕТОДОВ ПРИ РАСЧЕТАХ НАДЕЖНОСТИ СЖАТТеоретические методы расчета показателей надежности аппаратуры дают приближенную оценку ожидаемого уровня. Наиболее полная и достоверная оценка надежности может быть получена только по результатам экспериментального определения фактических значений показателей надежности в реальных условиях работы аппаратуры. Сущность статистической оценки показателей надежности невосстанавливаемых и восстанавливаемых систем состоит в том, что на основании полученных из опыта ограниченных по объему исходных статистических данных по разработанным методам производится определение её фактического возможного значения с заданной точностью и достоверностью.Неисправность логического элемента приводит на выход элемента к отказам двух видов:ложное появление сигнала 1 вместо 0;ложное появление сигнала 0 вместо 1.интенсивность отказов и восстановления элементов сложной системы являются величинами постоянными;топологический метод нельзя использовать для многосвязных графов.ЗАКЛЮЧЕНИЕ О ПРИМЕНЕНИИ РАЗЛИЧНЫХ СПОСОБОВ ПОВЫШЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ И БЕЗОПАСНОСТИ УСТРОЙСТВ И СИСТЕМ ЖАТМетоды обеспечения безопасности весьма разнообразны, но могут быть сведены к двум основным принципам.Первый принцип связан с введением избыточности в создаваемые элементы, узлы, устройства и системы. Избыточность может быть параметрической (введение в состав узла запаса прочности), схемной (введение в состав устройства так называемых безопасных логических элементов, компараторов, ключей и т.д.), структурной или аппаратной (дублирование, троирование и т.д. в устройстве или в системе аппаратных средств, функциональных узлов и элементов), программной (решение задачи двумя независимыми программными продуктами), функциональной (создание возможности решения одной и той же задачи путем реализации полной или упрощенной функции, но с меньшей точностью), информационной (кодирование информации внутри системы с последующим декодированием и проверкой ее безошибочности перед использованием), временной (увеличение времени восприятия или выдачи воздействия), комбинированной (при использовании нескольких из перечисленных методов). Таким образом, требования безопасности накладывают дополнительные условия на комплектующие изделия и материалы, на конструкцию, на схемные решения и структуру системы, на представление информации в ней и т.д. В соответствии со вторым принципом обеспечение безопасности достигается применением средств, локализующих развитие неблагоприятных процессов. Для этих целей используются контролирующие и диагностирующие устройства, которые оценивают значения выходных параметров системы и значения специальных диагностических признаков, а в необходимых случаях и окружающей среды (вибрации, температура, электромагнитная обстановка и др.). Сравнение измеренных сигналов с их заданными значениями, обработка информации и принятие решения о необходимых действиях для предотвращения аварийной ситуации должны осуществляться устройствами, которые сами обладают высокой достоверностью, т.е., в данном случае, отвечающих требованиям безопасности. Естественно, возможно и одновременное использование обоих методов реализации требований безопасности при построении одной системы.Список литературыУчебное пособие “Надежность систем железнодорожной автоматики, телемеханики и связи” / под редакцией Вл.В. Сапожникова;Методические указания “Статистические оценки показателей надежности” / Т.А. Белишкина, А.Г. Вяткин;Методические указания “Расчет надежности комбинационных схем” / Т.А. Белишкина, В.Б. Культин;Методические указания “Расчет показателей надежности восстанавливаемых систем методом марковских процессов” / Т.А. Белишкина, А.Г. Вяткин;Методические указания “Структурный метод расчета надежности” / Т.А. Белишкина, В.Б. Культин;Методические указания “Топологический метод расчета надежности резервированных систем” / Т.А. Белишкина, А.Г. Вяткин;Методические указания “Расчет эксплуатационной надежности СЖАТ” / Т.А. Белишкина, В.Б. Культин;«Килоом.ру – электричество это наше все», 2000г.-[Электронный ресурс]: https://kiloom.ru «Электроника и связь», 2003г.-[Электронный ресурс]: http:// https://eandc.ru |