КР ФОЭТ. Учебнометодическое пособие для студентов специальности 136 04 02 Промышленная электроника
Скачать 451.5 Kb.
|
Алгоритм решения задач Аналитическое выражение для величин диффузионных емкостей: Сдиф=(kT/q)*I*τn , (1) где Сдиф – величина диффузионной ёмкости p-n перехода (диода) с широкой базой (WБ > Lp), пФ; Индексы “n” и “p” у времён жизни и у диффузионных длин обозначают тип неосновных носителей заряда в базе. База – наиболее слаболегированная область p-n перехода. Сдиф=(kT/q)*I*tпр, (2) где Сдиф – величина диффузионной ёмкости p-n перехода (диода) с тонкой базой (WБ < Lp), пФ; tпр=W2Б/2 Dn или tпр=W2Б/2Dp; Индекс у коэффициента диффузии (D) обозначает тип неосновных носителей в базе. I=Is (exp qU/kT – 1); (3) где U – приложенное к p-n переходу напряжение, В; IS=ISp+ ISn; ISp= S*( q*n2i*Dp/Nd(Wp или Ln)) и ISn= S*( q* n2i *Dn/Na(Wp или Ln)); В знаменатели выражений для токов насыщения подставляется Wp и Wn, когда Wp Dp=µр*( kT/q); Dn=µn*( kT/q); µ=µ0/[ 1+ ( N/1017)1/2] где µ0 – подвижность в собственном полупроводнике при 300 К; N- концентрация легирующей примеси; Величины k, q – брать из таблицы 1. Величины µ0, ni – брать из таблицы 2. Чтобы решить, какое выражение для величины Сдиф. (1) или (2) использовать, нужно определить соотношение между L и WБ, L=√Dτ. 3. Условие задач, имеющих номера с 21 по 27 Рассчитать величины токов инжекции, генерации и рекомбинации p-n перехода (диода) площадью 10-3 см2 и со следующими параметрами: Таблица 4 – Данные к задачам
Алгоритм решения задачи Записывайте выражения для расчетов токов Iин, генерации Iген и рекомбинации Iрек. Iин=Is (exp qU/kT – 1); Iген=S*(q*ni*Xd/2τ0); Iрек=S*(q*ni*Xd/2τ0)*exp qU/2kT; Токи насыщения ISp и ISn, находите по выражениям, приведённым в концепции вариантов № 11-20. Ширины запрещённых зон находите по выражениям, приведённым в концепции вариантов № 1-10. Время жизни свободных носителей в обеднённой области p-n перехода τ0 определяется как τ0= (τn+ τp)/2. 4.Условие задач, имеющих номера с 28 по 36 Рассчитать коэффициент передачи постоянных токов эмиттера αN, базы βN, коллектора αI идеализированной модели биполярного n-p-n транзистора.
Алгоритм решения задач Коэффициент передачи постоянного тока эмиттера: αN=Iэn/Iэ* Iкn/Iэn* Iкn / Ik=γN * αT * M; где М=1; γN – коэффициент инжекции при нормальном включении транзистора γN= Iэn/( Iэn+ Iэp)=1/(1+ Iэp/ Iэn)=[1+(WБ*NАБ*Dpэ/ WЭ*Ndэ*DnБ)]-1; где коэффициенты диффузии дырок в эмиттере Dpэ и электронов в базе DnБ определяются из соотношения Эйнштейна. D=*( kT/q). В свою очередь величина подвижности носителей заряда в зависимости от концентрации примесей определяется выражением: µ=µ0/[ 1+ ( N/1017)1/2], где µ0 - подвижность в собственном полупроводнике при 300 K; N- концентрация легирующей примеси; Выражение для коэффициента переноса носителей через базу αN можно записать как: αT = 1- (WБ2/2(4)* DnБ* τn); в котором коэффициент 2 подставляем в выражение αT для бездрейфового транзистора, а 4- для дрейфового. Будем полагать, что варианты 28-31 – бездрейфовый транзистор, а варианты 32-36 дрейфовый транзистор. Коэффициент усиления тока базы βN рассчитываем по формуле ΒN= αN/(1- αN); Коэффициент передачи тока коллектора (инверсное включение транзистора) рассчитываем по формуле: αI=γI* αT; где γI=( 1+(WБ*NАБ*Dpk/ WК*Ndk*DnБ))-1; где Dpk – коэффициент диффузии дырок в коллекторе. αT = 1- (WБ2/2* DnБ* τn), т.е. считаем, что электрическое поле в базе отсутствует ( хотя оно будет тормозящим). 5. Условие задач, имеющих номера с 37 по 50 Рассчитать величину порогового напряжения Uпор и частоту отсечки кремниевых МОП – транзисторов со следующими параметрами
Решение задач следует начать с записи конечного выражения для искомых величин, затем находить частные величины, входящие в окончательную величину. Uпор=φмп-Qпс/С0± Qос/С0± Qк/С0, где φмп – разность работ выхода металл затвора - полупроводник (в вольтах); Qпс – удельный заряд плотности поверхностных состояний; Qос – удельный заряд обеднённого слоя; Qк – удельный заряд, необходимый для образования канала; С0 – удельная ёмкость затвора Для алюминиевого затвора: φмп=-0,6 ±φF. Для поликремниевого затвора n+ - типа: φмп= - φg /2±φF. Для поликремниевого затвора p+ - типа: φмп= φg /2±φF. Знак “-“ подставляется в выражение для определения φмп транзистора с p-подложкой, а знак “+“ подставляется для определения φмп транзистора с n-подложкой. φF – разница энергий между уровнем Ферми и серединой запрещенной зоны. φF=kT/q*ln Nп/ni; φg – Ширина запрещенной зоны полупроводника в вольтах. Знак «+» перед величинами правой части выражения для определения Uпор подставляется для n-канальных МОП-транзисторов, а знак «-» для p-канальных. С0=εε0/d, Qпс=q*Nnc, Qк=2φF; Qос=q*Nn*Xdэ; Xd =(2*εε0*2 φF / q*Nn)1/2, где d - толщина подзатворного диэлектрика, Nnc – потность поверхностного состояния. Частота отсечки fT определяется выражением: fT=µэфф*( Uзи-Uпор)/2πL2; После нахождения величины Uпор. Все параметры необходимые для вычисления fT известны. Величины Eg(φg), q, k, ε0, εSi, εSiO2, µ0 взять из таблиц 1 и 2. 6. Условие задач, имеющих номера 51-60 Рассчитать минимальную длину lk и ширину Z канала n-канального кремниевого мощного СВЧ V-МОП транзистора, имеющего следующие параметры
Алгоритм решения задач Минимальную длину канала lk (Uси пр.) найдем из условия сквозного обеднения За величину Uси пр. принимаем величину Uси max . Минимальную ширину канала находим из выражения: . , где = 20 В; = 0,0534 В-1 - эмпирический коэффициент, характеризующий уменьшение подвижности под действием поперечного поля затвора; - коэффициент характеризующий влияние подложки р-типа на ток стока находим из следующего выражения При заданном напряжении Uзи ток стока достигает своего максимального значения при напряжении насыщения Разницу величин работы выхода материал затвора – кремний можно определить, пользуясь алгоритмом решения задач 37…50. |