Главная страница
Навигация по странице:

  • Ас1иа1 Оеу1се Ноигз а!

  • РаИиге Ра!е а! 60% СЕ апД Т

  • МоТез

  • 2.6.1 Методика расчета безотказности электронных модулей БРЭА КА

  • Моделирование ЭСР. 2 Разработка методов оценки надежности бортовой радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов


    Скачать 212.37 Kb.
    Название2 Разработка методов оценки надежности бортовой радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов
    Дата05.04.2023
    Размер212.37 Kb.
    Формат файлаdocx
    Имя файлаМоделирование ЭСР.docx
    ТипДокументы
    #1038593
    страница4 из 6
    1   2   3   4   5   6

    где: Кр - константа скорости химической реакции; ЕА - энергия активации; к - постоянная Больцмана; Т, - рабочая температура кристалла (кристаллической решетки); То - номинальная температура кристалла (кристаллической решетки).

    Выражение (Х.6) используется для оценки коэффициента ускорения при проведении испытаний ИС. На рис. 2.6, в качестве примера, приведен фрагмент 1)е\'1се геНаЫШу герог! компании ХГЕХХХ, содержащий интенсивности отказов кристаллов ИС семейства ХС4УхХххх.

    ТаЫе 2-24: НТОЕ Тез! РезиИз Тог 0.09 рт 5! Са!е СМОЗ Оеу1се Туре ХС4УхХххх

    е71се

    ЬоТ

    ОиапШу

    РаП ОиапШу

    Оеу|се ОиапШу

    Ас1иа1 Оеу1се Ноигз а!

    Т)> 125°С

    Ечи(7а1еп! □еу1се Ноигз а! Т3 = 125°С

    РаИиге Ра!е а! 60% СЕ апД Ти = 55°С (Р1Т)

    ХС4УЕХ60

    5

    1(И

    226

    344,295

    719,573




    ХС4УЕХ80

    3

    0

    165

    265,545

    712,858

    ХС4УЕХ100

    1

    0

    45

    90,855

    259,245

    ХС4УРХ60

    1

    0

    42

    84,630

    182,316

    ХС4У5Х25

    1

    0

    37

    75,757

    100,039

    ХС4У8Х55

    1

    0

    45

    90,045

    222,731

    ХС4УхХххх

    12

    1

    560

    951,127

    2,196,762

    12 НТ

    МоТез:

    1. ЕаИиге Дие Ю 5иЬ51га(е Де1ес1. Ргосеяб ппргоуетеЫ Ьаз Ьееп ипр1етеп1еД.

    Рис. 2.6. Интенсивность отказов кристаллов ИС семейства ХС4УхХххх

    Выражение (2.6) в том или ином виде входит в математические модели коэффициентов, учитывающих влияние температуры на интенсивность отказов ЭРИ. Так, например, в стандарте МГЕ-НОБК-217Е [34] для класса «Интегральные микросхемы» приведена следующая математическая модель коэффициента (пт), учитывающего величину температуры окружающей среды:

    еа

    (2.7)

    где: ЕА - энергия активации; к - постоянная Больцмана; Т - температура кристалла, То - 298 0К; а - эмпирический коэффициент.

    В справочнике «Надежность ЭРИ» [37] для учета величины температуры окружающей среды используется коэффициент Крс.т). Так, например, математическая модель коэффициента Кс.т, учитывающего величину температуры, для класса «Интегральные микросхемы» имеет вид:

    Кст= А ехр\В(Т + 273)] ,

    (2.8)

    где А, В - постоянные коэффициенты модели; Т - температура окружающей среды.

    Аналогичные модели приведены и для других классов ЭРИ. Таким образом, математические модели коэффициентов пт, Крс.т) показывают, что рабочие температуры ЭРИ существенно влияют на их надежность, а, следовательно, и на надежность БРЭА в целом.

    1. Методы учета влияния ионизирующих излучений космического пространства на надежность БРЭА КА

    Влияние ИИ КП на работоспособность БРЭА КА настолько существенно, что в отличие от всех остальных деструктивных воздействий, задача обеспечения радиационной стойкости БРЭА выделено в самостоятельную задачу, такую же, как обеспечение надежности.

    Методы оценки стойкости к воздействию заряженных частиц космического пространства по одиночным сбоям и отказам приведены в РД 134-0139 [45]. В этом стандарте также приведены «типовые» значения параметров чувствительности ЭРИ к одиночным эффектам при воздействии заряженных частиц. Однако использование «типовых» параметров при оценке сбое- и отказоустойчивости дает большой разброс, а результаты расчетов далеки от действительности, т.к. значения параметров ЭРИ не обновлялись с 2005 года и с тех пор сильно устарели.

    Методы оценки стойкости БРЭА к воздействию электронного и протонного излучений космического пространства по дозовым эффектам приведены в ОСТ 134-1034 [46]. Расчет стойкости БРЭА по ОСТ 134-1034 [46] проводится «поэлементным» методом и заключается в сравнении уровня стойкости каждого типа ЭРИ с уровнем радиационного воздействия на него (поглощенных доз электронов, протонов и суммарной дозы), определенного расчетным путем. Уровень радиационных воздействий на БРЭА зависит от мест ее размещения на КА, классификация которых приведена в табл. 2.1.

    Результатом оценки является коэффициент запаса по радиационной стойкости (КЗ). В соответствии с ОСТ 134-1034 [12] ЭРИ имеет высокую предельную накопленную дозу, если КЗ > 3. Если же 1 < КЗ < 3, то необходимо проведение испытаний в составе аппаратуры, причем, желательно, сначала испытать до заданного в ТЗ уровня, а потом до отказа.

    Тем не менее, при расчете надежности БРЭА все же учитывается влияние ИИ КП. Для этого в математические модели эксплуатационной интенсивности отказов справочника «Надежность ЭРИ» [37] введен коэффициент Кии (коэффициент ионизирующих излучений), который учитывает влияние воздействующих ионизирующих излучений естественного и искусственного происхождения на надежность ЭРИ.

    Ориентировочные значения коэффициента ионизирующих излучений приведены в таблице 2.8.

    Таблица 2.8. Значения Кии при величине дозы ионизирующего излучения

    Доза, крад

    0-10

    20

    40

    1

    2

    3

    4

    Кии

    1

    1,035

    1,1

    Примечание:

    при отсутствии статистических данных об указанном воздействии следует

    принимать Кии = 1.

    Относительно небольшие значения Кии свидетельствуют не о том, что ИИ КП не влияет на надежность ЭРИ и БКА в целом, а подтверждают тот факт, что в БКА должны применяться только радиационно-стойкие ЭРИ и (или) конструкция БКА должна обеспечивать требуемый уровень их защиты от ИИ КП.

    1. Методики расчета показателей надежности электронных модулей БРЭА КА

    Рассмотренные выше методы учета влияния деструктивных факторов на надежность БРЭА, хотя и позволяют обеспечить выполнение требований ТУ на ЭРИ по тепловым режимам, стойкости к ЭСР, ИИ КП, и др. воздействиям, но не гарантирует обеспечения требований по надежности. Поэтому расчеты показателей надежности БРЭА должны проводиться на всех этапах ее разработки [47]. Поскольку основными конструктивными единицами БРЭА является электронные модули (ЭМ), то очевидно, что именно их характеристики надежности в значительной степени определяют и надежность БРЭА в целом.

    Что касается непосредственно показателей надежности, то особое значение для БРЭА имеют показатели безотказности, которые характеризуют свойство БРЭА непрерывно сохранять работоспособное состояние в течение заданного времени (или наработки) и показатели долговечности, которые определяют САС. Поэтому ниже приведены методики расчетной оценки именно этих показателей для электронных модулей 1-го уровня (ЭМ1).

    2.6.1 Методика расчета безотказности электронных модулей БРЭА КА

    Методика предназначена для проведения приближенного и уточненного расчета показателей безотказности электронных модулей.

    Приближенный расчет проводится с целью уточнения предельно-допустимых режимов работы ЭРИ аналитическим путем и формулирования требований ЧТЗ к составным частям на стадии эскизного или технического проекта.

    Приближенный расчет проводится при отсутствии реальных режимов работы ЭРИ. Результаты приближенного расчета показателей безотказности входят в состав пояснительной записки по разработке аппаратуры.

    Уточненный расчет показателей безотказности ЭМ1 проводится с целью определения аналитическим путем показателей безотказности с учетом реальных режимов работы ЭРИ, которые должны быть внесены в карты рабочих режимов (КРР), оценки их соответствия требованиям ТУ и ЧТЗ. Уточненный расчет показателей безотказности проводится на стадии разработки рабочей документации опытного образца и является составной частью отдельного документа РР01, входящего в состав КД.

    Расчет показателей безотказности проводится при допущении условия, что интенсивность отказов ЭМ1 во времени является величиной постоянной, что имеет место в период нормальной эксплуатации аппаратуры, когда справедлива экспоненциальная модель отказов (рис. 2.7).



    Рис. 2.7. Зависимость интенсивности отказов от времени

    ЭМ1 не имеет структурной избыточности.

    Расчет показателей безотказности сводится к определению следующих основных показателей:

    • То - средняя наработка до отказа;

    • Р(1Э) - вероятность безотказной работы за время непрерывной работы 1Э.

    Расчет показателей безотказности ЭМ1, в соответствии с ОСТ-4Г0.012.242 [48], проводится следующей последовательности:

    1. Формулируется критерий отказа ЭМ1 из условия обеспечения нормального функционирования.

    2. Рассчитывается интенсивность отказов ЭМ, как сумма интенсивностей отказов комплектующих ЭРИ по формуле:



    (2.9)
    л = Х л

    7=1

    где X, - интенсивность отказов 1-го ЭРИ; I - общее число ЭРИ в ЭМ.

    Значения интенсивностей отказов ЭРИ рассчитываются по методикам справочника [37] с применением методов учета влияния деструктивных факторов, приведенных выше, в п.п. 2.2- 2.5.

    Для ЭМ1, которые входят в состав БРЭА, работающей в «сеансном» режиме (см. табл 2.2), значение эксплуатационной интенсивности отказов определяется для всех режимов применения (нагруженного, облегченного, ненагруженного).

    Для ненагруженного режима принимают: (2.10)

    Лнр = Лхр,

    где ЛХр - интенсивность отказов в режиме хранения.

    Интенсивности отказов ЭМ1 в режиме хранения рассчитываются по методикам справочника [37].

    Для «сеансного» режима работы, когда ЭМ1 в составе БРЭА в общем случае может находиться в режиме работы (нагруженном), ожидания (облегченном), хранения (ненагруженном), ЛС рассчитывается по формуле [49]:



    Лс

    [Ррр + [Рор + [Рнр
    ЛРР ' [Ррр+ ЛОР ' [Рор+ ЛНР ' [Рнр

    (2.11)

    где: ЛРР, Лор, Лнр - интенсивности отказов ЭМ1 в режиме работы, облегченном режиме и ненагруженном режиме; 1^рр, 1^ор, 1^нр - суммарные времена нахождения ЭМ1 в режиме работы, облегченном режиме и ненагруженном режиме за период САС.

    Если БКА разрабатывается и изготовляется по положению «РК*» (ракетно­космическая аппаратура), то тогда суммарная интенсивность отказов аппаратуры (ЛЭМ) рассчитывается по формуле справочника [37]:

    ЛэМ = Кс, (

    (2.12) где: Ка - коэффициент качества производства аппаратуры.

    Коэффициент качества производства аппаратуры учитывает уровень требований к разработке и изготовлению аппаратуры (отработанность техпроцесса и уровень организации производства аппаратуры) и отражает среднестатистическую разницу в интенсивности отказов ЭРИ в аппаратуре, разрабатываемой и изготовляемой по требованиям различной НД. Для РЭА, разрабатываемой и изготовляемой по комплексу стандартов «Мороз-6», Ка = 1, а для РЭА, разрабатываемой и изготовляемой по положению «РК*», Ка = 0,2.

    1. Рассчитываются показатели безотказности ЭМ1:






    т = _Х_
    0 Л эм .


    ;

    Р('э )

    _ е^Лэм '{э

    (

    (2.13)

    (2.14)



    Для автоматизации расчетов показателей безотказности ЭМ может использоваться система АСОНИКА-К-ЭМ программного комплекса АСОНИКА-К [40]. На рис. 2.8 приведен пример результатов расчета показателей безотказности в системе АСОНИКА-К- ЭМ.



    Рис. 2.8. Система АСОНИКА-К-ЭМ: Результаты расчета показателей безотказности электронного модуля

    1   2   3   4   5   6


    написать администратору сайта