Наноэлектроника. Практикум. Евсевичев.. Физических процессов в микро и наноэлектронике Лабораторный
Скачать 1.21 Mb.
|
Расчет концентрации неравновесных носителей заряда контакта двух полупроводников Неравновесный режим контакта двух полупроводников создается приложением внешнего напряжения. В том случае, если внешнее напряжение увеличивает потенциальный барьер, то такое напряжение, совпадающее по полярности с контактной разностью потенциалов, получило название обратного напряжения. В том случае, если приложенное внешнее напряжение снижает величину потенциального барьера, это напряжение противоположно по полярности контактной разности потенциалов и получило название прямого напряжения. Увеличение потенциального барьера при приложении обратного внешнего напряжения препятствует переходу подвижных носителей заряда через область контакта (рис. 4.5). Поэтому существование неосновных носителей зарядов – электронов в p-области и дырок в n-области будет определяться собственной проводимостью полупроводников. Рис. 4.5. Структура контакта двух полупроводников при приложении обратного напряжения 49 Приложение обратного напряжения приводит к изменению уровней Ферми в p- и n-областях полупроводников. Приложение к контакту двух полупроводников прямого напряжения снижает потенциальный барьер и уменьшает ширину области, обедненной подвижными носителями заряда (рис. 4.6). Рис. 4.6. Структура контакта двух полупроводников при приложении прямого напряжения В этом случае неосновные носители заряда могут инжектироваться в соответствующие области. Электроны могут инжектироваться в p-область, а дырки в n-область за счет приложенного внешнего напряжения. В каждой из областей эти носители зарядов являются неравновесными. Приложение прямого напряжения приводит к повышению уровня Ферми для электронов в n-области, что приводит при выравнивании энергии электронов с энергией потенциального барьера к инжекции электронов в p-область. Аналогичные явления происходят и с дырочными носителями заряда в p-области. При этом необходимо учитывать, что отсчет энергии для электронов осуществляется в направлении зоны проводимости, а для дырочных носителей зарядов отсчет энергии осуществляется в направлении валентной зоны. 50 Для расчета концентрации неравновесных носителей заряда воспользуемся выражением для контактной разности потенциалов: po no k p p ln e T k (4.19) Воздействие на контакт двух полупроводников прямого напряжения будет определять появление неравновесных дырок в n-области po n k p p ln e T k u (4.20) Сделав преобразования, получим: po n k p p ln ) u ( T k e (4.21) Логарифмируя это выражение, получим для концентрации неравновесных носителей заряда: ) u ( T k e exp p p k po n . (4.22) Аналогично, для электронов в p-области. ) u ( T k e exp n n k no p . (4.23) Расчет ширины области обеднения При контакте двух полупроводников в приконтактной области формируется объемный заряд ионизированных доноров и акцепторов. В равновесном состоянии и при приложении обратного напряжения в этой области отсутствуют подвижные носители заряда, и эту область можно рассматривать как поляризованный диэлектрик. Для расчета протяженности этой области используем уравнение Пуассона, которое устанавливает связь между объемным зарядом в какой-либо области и распределением потенциала в этой области: 51 2 , (4.24) где – распределение потенциала в области контакта; – объемная плотность заряда в контактной области; – диэлектрическая проницаемость полупроводника; 2 – оператор Лапласа. Полагая, что изменение объемной плотности заряда в контактной области происходит только в направлении оси x, то уравнение Пуассона запишется: ) x ( 1 ) x ( dx d 2 2 (4.25) Решение этого уравнения будет иметь вид x 0 x 0 dx dx ) x ( 1 ) x ( (4.26) Для вычисления интеграла необходимо знать распределение объемного заряда в приконтактной области. Для этого рассмотрим два случая – резкий переход со скачкообразным распределением примесей и линейный переход с непрерывным распределением примесей. В приконтактной области, имеющей протяженность d, объемная плотность заряда будет определяться ионизированными атомами доноров и акцепторов: 0 x 2 d при N e 0 x 2 d при N e ) x ( d a , (4.27) Учитывая, что в приконтактной области значение потенциала будет определяться суммой контактной разности потенциалов и приложенного обратного напряжения, для интегрального выражения (4.26) можно записать: 52 2 d 0 x 0 d 0 2 d x 0 a k dx dx N e 1 dx dx ) N e ( 1 u . (4.28) Произведя интегрирование, получим: ) N N ( 8 d e u d a 2 k (4.29) Отсюда ширина обедненной области определится как 2 1 d a k ) N N ( e ) u ( 8 d (4.30) Расчет барьерной емкости контакта двух полупроводников Образование объемного заряда ионизированных доноров и акцепторов в приконтактной области при приложении обратного напряжения будет определять барьерную емкость контакта двух полупроводников. Диэлектриком этой емкости будет являться область, обедненная подвижными носителями заряда, а пластинами – области полупроводников с электронной и дырочной проводимостью. Для контакта двух полупроводников с резким изменением концентрации примесей эту емкость можно рассматривать как плоский конденсатор, у которого площадь пластин S, а расстояние между ними d: d S C , (4.31) где C – барьерная емкость. Подставляя в это выражение значение d из (4.30), получим: 2 1 d a k ) N N ( e ) u ( 8 S C (4.32) После дополнительных преобразований получаем выражение для барьерной емкости: 53 2 1 k d a ) u ( 8 ) N N ( e S C , (4.33) где S – площадь контакта двух полупроводников. Лабораторное задание Для расчетов использовать данные, приведенные в таблице 4.1. Таблица 4.1 Электрофизические параметры кремния Материал Si Концентрация основных носителей донорной примеси, см -3 10 18 Концентрация основных носителей акцепторной примеси, см -3 10 16 ΔЕ g , эВ 1,12 E c p = E c n , эВ 4,2 E v p = E v n , эВ 3 E Fn p , эВ 3,92 E Fp p , эВ 3,2 E Fn n , эВ 4,11 E Fp n , эВ 3,8 Диэлектрическая проницаемость (ε) 12 m n /m 0,55 m p /m 0,37 Температура, К 300 Примечание: в таблице m= 9.1·10 -31 кг – масса свободного электрона. 1. Рассчитать значения равновесных концентраций электронных и дырочных носителей заряда в приконтактной области. 2. Рассчитать значения энергии Ферми для носителей зарядов в приконтактной области. 54 3. Рассчитать значение контактной разности потенциалов и высоту потенциального барьера в приконтактной области. 4. Рассчитать и построить графики значений концентраций неравновесных носителей заряда от приложенного напряжения к контакту двух полупроводников. 5. Рассчитать и построить график изменения значения ширины обедненной области от приложенного напряжения к контакту двух полупроводников. 6. Рассчитать и построить график значения барьерной емкости от приложенного напряжения. Вопросы для самостоятельной работы 1. Физические процессы в контакте двух полупроводников в равновесном состоянии. 2. Прямое и обратное напряжения в контакте двух полупроводников. 3. Физические процессы в контакте двух полупроводников при приложении прямого и обратного напряжений. 4. Что такое равновесные и неравновесные носители заряда? 5. Что является областью контакта и какова ее протяженность? 6. Физический смысл барьерной емкости. 55 Лабораторная работа №5 ИССЛЕДОВАНИЕ ДИФФУЗИОННЫХ ПРОЦЕССОВ ПРИ КОНТАКТЕ ДВУХ ПОЛУПРОВОДНИКОВ Расчет диффузионной длины носителей зарядов контакта двух полупроводников Приложение прямого напряжения к контакту двух полупроводников с разным типом проводимости приводит к понижению потенциального барьера между ними. Это определяет перераспределение концентрации носителей заряда в приконтактной области вследствие процесса диффузии. Для расчета распределения концентрации носителей заряда в приконтактной области воспользуемся уравнениями непрерывности: 0 g p p dx dp dx p d D 0 g n n dx dn dx n d D p p no n n p 2 n 2 p n n po p p n 2 p 2 n , (5.1) где D p и D n – диффузионные постоянные для дырок и электронов; p и n – время жизни дырок и электронов; g p и g n – скорости генерации дырок и электронов; – напряженность электрического поля в приконтактной области. В свою очередь, коэффициенты диффузии связаны с подвижностью носителей заряда соотношениями Эйнштейна: e T k D n n , (5.2) e T k D p p (5.3) 56 При приложении к контакту двух полупроводников прямого напряжения потенциальный барьер, определяемый ионизированными атомами акцепторной и донорной примесями, будет понижаться. При напряжениях, соизмеримых с контактной разностью потенциалов, можно полагать, что напряженность электрического поля в приконтактной области будет равна нулю. Полагая, что генерационные эффекты, связанные с возбуждением носителей зарядов в приконтактной области, отсутствуют, можно записать для дырочных носителей заряда: 0 p p dx p d D p no n 2 n 2 p . (5.4) Решение этого уравнения будет иметь вид p p p p no n D x exp B D x exp A p ) x ( p , (5.5) где A и B – постоянные интегрирования. Первое слагаемое этого решения не удовлетворяет физическим условиям, так как увеличение x приводит к росту концентрации неравновесных носителей заряда. Поэтому постоянная A должна равняться нулю. Для определения постоянной интегрирования B воспользуемся условием, что на границе приконтактной области с областью p концентрация неравновесных носителей заряда будет равна равновесной концентрации в p-области. Если начало координат совпадает с границей приконтактной области с p-областью, то можно записать: B p p p ) 0 ( p no po no n (5.6) Подставляя значение B в выражение распределения концентрации неравновесных носителей заряда в приконтактной области, получим: 57 p p no po no n D x exp ) p p ( p ) x ( p . (5.7) В этом выражении величина: p p p D L (5.8) получила название диффузионной длины дырочных носителей заряда. Диффузионная длина характеризует расстояние, на котором концентрация носителей зарядов уменьшается на величину экспоненты. Аналогично, для электронных носителей зарядов: n n po no po p D x exp ) n n ( n ) x ( n , (5.9) где диффузионная длина для электронов определится: n n n D L (5.10) Расчет тока проводимости контакта двух полупроводников Ток проводимости, протекающий через контакт двух полупроводников, с одной стороны, будет складываться из тока электронных и тока дырочных носителей заряда: p n j j j (5.11) С другой стороны, каждый из этих токов будет определяться движением носителей заряда вследствие диффузии и дрейфа: p n p n n n dx dn D j , (5.12) n p n p p p dx dp D j (5.13) В то же время концентрация неравновесных носителей заряда должна определяться решением уравнений непрерывности для электронов и дырок: 58 0 n n dx dn dx n d D n po p p n 2 p 2 n , (5.14) 0 p p dx dp dx p d D p no n n p 2 n 2 p (5.15) Решение уравнения непрерывности для электронов будет иметь вид 2 n 1 1 n 1 po p L x exp B L x exp A n ) x ( n , (5.16) где A 1 и B 1 – постоянные интегрирования; L n1 и L n2 – эквивалентные диффузионные длины для электронов, которые определяются из уравнения: 0 D 1 L 1 D L 1 n n 2 , 1 n n n 2 2 , 1 n . (5.17) Решая это уравнение, получим: n n 2 n n n n 1 n D 1 D 2 D 2 L 1 , (5.18) n n 2 n n n n 2 n D 1 D 2 D 2 L 1 . (5.19) Эквивалентная диффузионная длина L n2 не удовлетворяет физическим условиям, так как подстановка этой величины в решение уравнения непрерывности приводит к росту концентрации неравновесных носителей заряда с ростом координаты x. Поэтому будем полагать, что постоянная интегрирования B 1 будет равна нулю. Тогда решение уравнения непрерывности запишется: 1 n 1 po p L x exp A n ) x ( n (5.20) Постоянную интегрирования A 1 определим из условия, что при x=0, концентрация неравновесных носителей заряда определится: 59 ) u ( T k e exp n ) 0 ( n k no p (5.21) Тогда для постоянной A 1 получим: po k no 1 n ) u ( T k e exp n A (5.22) Подставляя это выражение в решение уравнения непрерывности для концентрации неравновесных носителей, получим: 1 n po k no po p L x exp n ) u ( T k e exp n n ) x ( n . (5.23) Аналогично эквивалентная диффузионная длина для дырочных носителей заряда определится: p p 2 p p p p 1 p D 1 D 2 D 2 L 1 . (5.24) Концентрация неравновесных дырочных носителей заряда в области n определится: 1 p no k po no n L x exp p ) u ( T k e exp p p ) x ( p . (5.25) Подставляя концентрацию неравновесных электронных носителей заряда в выражение электронного тока, получим: po 1 n po k no n 1 n po k no 1 n n n n L x exp n ) u ( T k e exp n e L x exp n ) u ( T k e exp n L D e j . (5.26) Аналогично для дырочного тока можно записать: no 1 p no k po p 1 p no k po 1 p p p p L x exp p ) u ( T k e exp p e L x exp p ) u ( T k e exp p L D e j . (5.27) 60 В силу непрерывности тока, создаваемого движением носителей заряда, ток во всех участках цепи должен иметь одинаковое значение. Поэтому в выражениях для дырочного и электронного токов значение x можно принять равным нулю. ) u ( T k e exp n e n ) u ( T k e exp n L D e j k no n po k no 1 n n n . (5.28) Аналогично для дырочного тока можно записать: ) u ( T k e exp p e p ) u ( T k e exp p L D e j k po p no k po 1 p p p . (5.29) Значение напряженности электрического поля может определяться как d u k . (5.30) |