Главная страница
Навигация по странице:

  • Расчёт надёжности соединений

  • Курсовой проект по дисциплине Основы теории надежности тема работы Методы расчета показателей надежности сжат


    Скачать 428.29 Kb.
    НазваниеКурсовой проект по дисциплине Основы теории надежности тема работы Методы расчета показателей надежности сжат
    Дата15.11.2022
    Размер428.29 Kb.
    Формат файлаdocx
    Имя файлаOTN_kursach uffffffffffff111111.docx
    ТипКурсовой проект
    #790855
    страница5 из 5
    1   2   3   4   5

    5. Топологический метод расчета надежности резервированных систем



    Дана некоторая система, состоящая из трех последовательно включенных блоков (рис.1).


    1

    3

    2



    Рис.1. Структурная схема системы для выполнения практической работы
    Исходные данные приведены в таблице 1.

    Таблица 1

    № вар

    Интенсивность отказа, 1/ч

    Время восста-новления, ч

    Кол-во рем. бригад

    Вид резервиро-вания

    Реализация резервирования, кратность резервирования m

    λ1

    λ2

    λ3

    ТВ1

    ТВ2

    ТВ3

    Эл. 1

    Эл. 2

    Эл.3

    14

    3∙10-4

    2∙10-4

    1∙10-4

    10

    2

    10

    2

    Раздельное

    Пост, m1=2

    Пост, m2=2

    Замещ, m3=2



    1. Построим структурную схему систему после резервирования (рис.2)

    3

    2

    1







    2

    3

    1

    1




    2

    3






    Рис.2. Структурная схема после резервирования


    1. Найдем время наработки на отказ системы без резервирования. Для экспоненциального закона распределения интенсивностей отказов и восстановлений получим:

    (ч)


    1. Найдем интенсивность отказа первого элемента после резервирования λ. На основании данных из таблицы для постоянно включенного резерва получим:

    , где Ʌi - интенсивность переходов для графа.





    Интенсивность восстановления Мi вычисляется по формуле:



    С учетом того, что обслуживанием занимаются 2 ремонтные бригады (r=2), получим:




    Найдем наработку на отказ дублированного элемента 1:





    (ч)
    Учитывая экспоненциальный закон распределения интенсивностей переходов, найдем интенсивность отказа дублированного элемента 1:

    (1/ч)
    Интенсивность восстановления резервированного элемента 1:

    (1/ч)
    Аналогично найдем интенсивность отказа и интенсивность восстановления для резервированного (дублированного) элемента 2:

    (1/ч)
    Интенсивность восстановления резервированного элемента 2:

    (1/ч)

    1. Найдем интенсивность отказа третьего элемента после резервирования λ. На основании данных из таблицы для резервирования с замещением получим:

    , где Ʌi - интенсивность переходов для графа.


    Интенсивность восстановления Мi вычисляется по формуле:



    С учетом того, что обслуживанием занимаются 2 ремонтные бригады (r=2), получим:




    Найдем наработку на отказ дублированного элемента 3:

    (ч)
    Учитывая экспоненциальный закон распределения интенсивностей переходов, найдем интенсивность отказа дублированного элемента 1:

    (1/ч)
    Интенсивность восстановления резервированного элемента 3:

    (1/ч)


    1. Найдем время наработки на отказ системы с резервированием. По экспоненциальному закону распределения интенсивностей отказов получим:

    (ч)


    1. Выигрыш надежности по времени наработки на отказ


    6. Расчет эксплуатационной надежности СЖАТ




    Рис. 1. Комбинационная схема на логических элементах.


    Рис. 2. Принципиальная электрическая схема на микросхемах.
    Параметры работы микросхем:

    К155ЛН1

    Номинальное напряжение питания – 5В

    Выходное напряжение низкого уровня – 0,4В

    Выходное напряжение высокого уровня – 2,4В

    К155ЛИ1

    Номинальное напряжение питания – 5В

    Выходное напряжение низкого уровня – 0,4В

    Выходное напряжение высокого уровня – 2,4В

    К155ЛЛ1

    Номинальное напряжение питания – 5В

    Выходное напряжение низкого уровня – 0,4В

    Выходное напряжение высокого уровня – 2,4В

    Расчёт надёжности интегральных микросхем



    исходная интенсивность отказов группы микросхем

    - коэффициент, учитывающий сложность ИС и температуру окружающей среды.

    , где

    А и В – постоянные коэффициенты, t- температура окружающей среды.

    = 0,6.

    – коэффициент, учитывающий тип корпуса микросхемы. Все корпуса пластмассовые, поэтому = 3.

    - коэффициент, учитывающий снижение максимальных значений напряжения питания. У всех микросхем питание осуществляется менее, чем 10 В, поэтому = 1.

    - коэффициент, учитывающий использование ИС в цехах и предприятиях, он равен 1,1.

    - коэффициент приёмки, он равен 1, так как приёмка равняется 5.

    - коэффициент, учитывающий степень освоенности технологического процесса, равен 1.

    Для микросхемы К155ЛН1:

    = 0,6 3 1 1,1 1 1= 1,95 (1/ч).

    Для микросхемы К155ЛИ1:

    = 0,6 3 1 1,1 1 1= 1,95 (1/ч).

    Для микросхемы К155ЛЛ1:

    = 0,6 3 1 1,1 1 1= 1,95 (1/ч).

    Расчёт надёжности соединений



    – количество соединений одного вида в элементе;

    - 1,5;

    (Ручная пайка ЭРИ с печатным монтажом) – 0,04 (1/ч).

    = 12*1,5 16 0,04 1,152 (1/ч);

    Суммарная интенсивность отказов устройства:



    эксплуатационная интенсивность отказов микросхем;

    – эксплуатационная интенсивность отказов соединений.

    = 9,3 (1/ч)
    1   2   3   4   5


    написать администратору сайта