Методические указания к виртуальному лабораторному практикуму Вологда 2007

• Название: Методические указания к виртуальному лабораторному практикуму Вологда 2007
• Дата: 13.01.2022
• Размер: 1.84 Mb.
• Имя файла: virtlab (2).doc
• Тип: Методические указания; #330128
• страница: 15 из 24

Лабораторная работа № 5.2
ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ СВЕТА
НА ОДИНОЧНОЙ ЩЕЛИ И ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКЕ

Цель работы:   1) наблюдение картины дифракции Фраунгофера от одиночной щели и дифракционной решетки в монохроматическом свете;

2) экспериментальное определение ширины щели и периода дифракционной решетки
Схема экспериментальной установки

1
, 2, 3 – штативы; 4, 5 – регулировочные винты; Л – газовый лазер;

БП – блок питания лазера; Щ – пластинка со щелью;

ДР – дифракционная решетка; Э – экран
Теория метода
Установка для изучения дифракции света аналогична той, которая используется для наблюдения интерференционной картины в работе 5.1. Различие между ними заключается в том, что вместо пластинки П с горизонтальными щелями используется пластинка Щ с одной вертикальной щелью (упражнение 1) и дифракционная решетка ДР (упражнение 2). Их увеличенное схематическое изображение дано на схеме установки справа.

Рассмотрим прохождение через щель шириной b нормально падающей на нее плоской световой волны (на рис. 1 показан «вид сверху»). Согласно принципу Гюйгенса-Френеля каждая точка фронта волны (следовательно, каждая точка плоскости щели) является источником вторичных волн, распространяющихся во всех направлениях и заходящих в область геометрической тени. Так как эти вторичные волны когерентны, при наложении друг на друга они дают на экране Э картину интерференции. Сложность анализа этой картины заключается в необходимости учета бесконечного множества источников когерентных волн.
Р
ис. 1
Выясним результат наложения лучей в произвольной точке экрана М, расположенной на расстоянии x_M от центра картины (ось Ох направлена горизонтально в плоскости экрана). Если ширина щели b и расстояние x_M малы по сравнению с расстоянием D от щели до экрана (b << Dиx_M<< D), то попадающие в точку М лучи практически параллельны друг другу и составляют с первоначальным направлением распространения некоторый малый угол . Результат интерференции вторичных волн зависит от величины этого угла, и интенсивность света в точке М определяется выражением

(1)

где

(2)

I ₀ – интенсивность света, идущего от всей щели в направлении первичного пучка;  – длина волны света.

Из (2) следует, что (0) = 0; учитывая первый замечательный предел



получим, что при  = 0 (в центре картины) имеет место максимум освещенности: I_щ(0) = I ₀ .

Функция (1) обращается в нуль при условии () =  m, где m  N. Подставляя в это условие выражение (2), получим уравнение, позволяющее определить углы, при которых наблюдаются минимумы освещенности (темные полосы):

(3)

Условие (3) можно также получить, воспользовавшись методом зон Френеля. Разобьем фронт волны (плоскость щели) на участки, разность хода от которых до точки М равна половине длины волны; так как соответствующая разность фаз равна  , волны от двух таких соседних зон при наложении гасят друг друга. Таким образом, если для данной точки открыто четное число зон Френеля, то в ней наблюдается минимум интенсивности. Число зон можно найти, разделив разность хода крайних лучей  (см. рис. 1) на половину длины волны. Учитывая, что и положив количество зон равным четному числу 2m, придем к условию (3).


Между определяемыми этим условием минимумами наблюдаются слабо выраженные максимумы. На рис. 2 показан график зависимости интенсивности от синуса угла дифракции и соответствующая ему дифракционная картина на экране.

Рис. 2
Как видно из рис. 2, координата х точки М на экране (индекс «М» при х здесь и в дальнейшем опустим) связана с углом  простым соотношением x = Dtg. Поскольку угол  мал, имеем

(4)

Подставляя данное соотношение в условие (3), найдем координаты точек x_m , в которых имеет место m-й по счету, начиная от центра, минимум освещенности. Ограничившись положительной полуосью (x >0), получим:

(5)

Координату m-го минимума можно найти экспериментально путем обработки дифракционной картины (рис. 2). Для этого необходимо отметить по обе стороны от центрального максимума минимумы одного и того же порядка m (в примере на рисунке m = 3) и измерить расстояние между ними L_m ; расстояние от центра картины до m-го минимума находится из очевидного соотношения

. (6)

Если известна длина волны лазерного излучения  и расстояние от щели до экрана D, то с помощью выражения (5) можно определить ширину щели b:


. (7)
Рис. 3
Дифракционная решетка (ДР) представляет собой пластинку с множеством параллельных узких щелей одинаковой ширины b, находящихся на расстоянии d друг от друга (рис. 3). Расстояние между центрами соседних щелей d называется постоянной (или периодом) дифракционной решетки.

При прохождении через решетку нормально падающей на нее плоской световой волны (см. рис. 3) происходят следующие явления: 1) интерференция вторичных волн, создаваемых точками в плоскости каждой из щелей (это явление подробно рассмотрено выше); 2) интерференция световых пучков от различных щелей. В результате наложения этих явлений на экране наблюдается дифракционная картина, имеющая довольно сложный характер. Так же, как и при дифракции от одиночной щели, интенсивность света в точке М экрана зависит от угла дифракции ; в случае решетки она определяется выражением

(8)

где

(9)

N – общее число щелей (штрихов) решетки, накрываемых падающей световой волной; I_щ() – функция, определяемая выражениями (1)-(2).

Благодаря множителю I_щ() выражение (8) обращается в нуль при углах дифракции, определяемых условием (3); применительно к решетке оно является условием наблюдения главных минимумов.

Найдем значение I() при () = k, где k  Z . Раскрыв неопределенность в фигурных скобках выражения (8), вычислим предел:



Интенсивность света при этом будет равна N ²I_щ . Условие () = k с учетом выражения (9) имеет вид

(10)

и определяет углы, под которыми наблюдаются главные максимумы освещенности. Число k называется порядком главного максимума. В частности, при k = 0 и, следовательно,  = 0 (в центре картины) имеет место наиболее яркий центральный максимум интенсивностью I_max= N ²I₀ . Все остальные главные максимумы имеют меньшую интенсивность, зависящую от множителя I_щ().

Отметим, что условие главного максимума (10) можно получить на основе более простых соображений. Как было показано в описании к работе 5.1, пучки света от соседних щелей усиливают друг друга, если разность хода между ними  кратна целому числу длин волн. Из рис. 3 видно, что в случае дифракционной решетки Подставляя это соотношение в вышеупомянутое условие, придем к (10).

Дробь в фигурных скобках выражения (8) обращается в нуль при где l – целое число, не равное kN. Поэтому в промежутках между соседними главными максимумами наблюдается по (N –1) вторичных минимумов, чередующихся со слабо выраженными вторичными максимумами. При большом числе щелей N интенсивность самого яркого вторичного максимума составляет менее 5% интенсивности ближайшего главного максимума. В условиях данной лабораторной работы вторичные максимумы практически неразличимы и образуют бледную светлую полосу, на фоне которой в виде ярких пятен наблюдаются главные максимумы.

На рис. 4 показан график зависимости интенсивности I от sin и соответствующая ему дифракционная картина на экране.

Р
ис. 4
Так же, как и при дифракции на одиночной щели, в данном случае координата х на экране и угол дифракции  связаны соотношением (4), с учетом которого условие (10) позволяет определить координату k-го главного максимума:

(11)

Экспериментально значение х_k можно найти путем обработки дифракционной картины. Для этого слева и справа от центрального максимума нужно отметить положения главных максимумов одного и того же k-го порядка (в примере на рис. 4 k = 4) и измерить расстояние между ними L_k , после чего определить координату x_k как

(12)

Зная x_k , а также расстояние от решетки до экрана D и длину волны света , из выражения (11) можно найти период дифракционной решетки:

(13)
Порядок измерений и обработки результатов
Упражнение 1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ШИРИНЫ ЩЕЛИ
1. Ознакомьтесь с приборами на рабочем столе; между лазером Л и экраном Э поместите пластинку Щ с вертикальной щелью.

2. Подключите к сети блок питания БП лазера. С помощью тумблера на панели БП включите лазер.

3. Запишите в тетрадь значение длины волны лазерного излучения  = 0,633 мкм.

4. Установите экран Э так, чтобы на нем наблюдалась четкая дифракционная картина.

5. Запишите значение D в табл. 1, выразив его в миллиметрах.
Таблица 1

Номер опыта	D, мм	m	Lm , мм	хm , мм	b, мкм	b, мкм	(b)2, мкм2
1
…	…	…	…	…	…	…	…
n
				 =		 =

6. Отсчитайте слева и справа от центра картины одинаковое число m минимумов; измерьте линейкой расстояние между ними L_m  (см. рис. 2). Значения m и L_m  (в мм) занесите в таблицу.

7. Изменяя расстояние D между щелью и экраном, повторите пп. 4-6 еще три-четыре раза (так, чтобы общее число опытов n было не менее четырех).

8. Для каждого опыта с помощью соотношения (6) найдите координату m-го минимума x_m . По формуле (7) рассчитайте ширину щели b; последнюю выразите в мкм. Значения x_m  и b занесите в таблицу.

9. Вычислите сумму найденных значений ширины щели и определите ее среднее значение .

10^*. Выполните все расчеты, необходимые для оценки случайной погрешности измерения ширины щели _s b. Найдите величину _s b, задаваясь доверительной вероятностью  = 0,95.

11^*. Оцените абсолютные приборные ошибки прямых измерений D и L_m , а также относительные ошибки E_D и E_L . Найдите абсолютную приборную погрешность косвенного измерения b, при необходимости воспользовавшись формулой:



12^*. Оцените полные абсолютную  и относительную Е погрешности. Сделав необходимые округления, запишите окончательный результат измерения ширины щели.
Упражнение 2. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЕРИОДА ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ
1. Замените штатив 2 со щелью Щ на штатив с дифракционной решеткой ДР.

2. Установите экран Э так, чтобы на нем наблюдалась картина дифракции. Запишите в табл. 2 расстояние D от решетки до экрана.

Таблица 2

Номер опыта	D, мм	k	Lk , мм	xk , мм	d, мм
1
…	…	…	…	…	…
N

3. Отсчитайте от центра картины (среднего из трех наиболее ярких максимумов) влево и вправо по одинаковому количеству k главных максимумов (не считая центрального!); измерьте расстояние между ними L_k , как показано на рис. 4. Значения k иL_k  занесите в таблицу.

4. Повторите пп. 2 и 3, изменяя расстояние D от решетки до экрана так, чтобы общее число опытов n было не менее четырех.

5. Для каждого опыта по формулам (12) и (13) рассчитайте координату k-го максимума x_k и период дифракционной решетки d. Результаты расчетов занесите в табл. 2.

6. Оцените среднее из измеренных значений и запишите его в тетрадь.

Контрольные вопросы

1. 
   Дифракция света. Принцип Гюйгенса-Френеля.
   
2. 
   Метод зон Френеля и его применение для анализа дифракционной картины.
   
3. 
   Дифракция Фраунгофера на одиночной щели. Условие наблюдения минимумов.
   
4. 
   Дифракционная решетка. Период решетки. Характер дифракционной картины. Условия наблюдения главных максимумов и минимумов.
   
5. 
   Дифракционная решетка как спектральный прибор. Угловая дисперсия и разрешающая способность решетки.
   

Литература:
[4] - §125-130; [8] - §5.1-5.9; [12] - §176-183.