Главная страница
Навигация по странице:

  • 4.1. Лабораторная работа № 1 (78) Исследование полупроводникового диода ВВЕДЕНИЕ

  • ЦЕЛИ РАБОТЫ 1) изучение вольт-амперной характеристики диода;2) изучение зависимости сопротивления диода от величины приложенного напряжения. ЗАДАЧА

  • Момент импульса. Законы сохранения момента импульса энергии

  • Примесные полупроводники n -типа

  • Примесные полупроводники р -типа

  • Контакт электронного и дырочного полупроводников ( р-n- переход)

  • Внешнее электрическое поле изменяет высоту барьера и нарушает равновесие потоков носителей тока через р - n -переход.

  • ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА

  • ТРЕБОВАНИЯ ПО ТЕХНИКЕ БЕЗОПАСНОСТИ

  • ЗАДАНИЯ 1) построение вольт-амперной характеристики диода; 2) построение зависимости сопротивления диода от величины приложенного напряжения. МЕТОДИКА ВЫПОЛНЕНИЯ ЗАДАНИЙ

  • Задание 1. Построение вольт-амперной характеристики диода

  • Задание 2. Построение зависимости сопротивления диода от величины приложенного напряжения

  • Г. П. Михайлов физика твердого тела, атома и атомного ядра


    Скачать 1.94 Mb.
    НазваниеГ. П. Михайлов физика твердого тела, атома и атомного ядра
    Дата10.11.2022
    Размер1.94 Mb.
    Формат файлаpdf
    Имя файлаlab-praktikum1.pdf
    ТипПрактикум
    #780271
    страница2 из 16
    1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   16
    4. ЭЛЕМЕНТЫ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА
    4.1. Лабораторная работа № 1 (78)
    Исследование полупроводникового диода
    ВВЕДЕНИЕ
    Полупроводниковым диодом называется прибор с двумя внешними выводами, содержащий внутри один p-n-переход. Такой переход реализуется на границе полупроводника p-типа, называемого акцепторным, и n-полупроводника, называемого донорным. Это одно из самых распространенных устройств электроники. p-n-переход диода имеет одностороннюю проводимость. Ниже изложены физические принципы работы диода.
    ЦЕЛИ РАБОТЫ
    1) изучение вольт-амперной характеристики диода;
    2) изучение зависимости сопротивления диода от величины приложенного напряжения.
    ЗАДАЧА
    Приобретение навыков проведения измерений и умения обработки экспериментальных данных, характеризующих работу диода в электрических схемах.
    ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ
    Полупроводниками называется группа веществ, удельное сопротивление которых изменяется в широких пределах: от 10
    –5
    до
    10
    +8
    Ом
    м. Характерным для полупроводников является изменение их электропроводности под действием внешних факторов: температуры, освещения, давления, что позволяет создавать чувствительные термосопротивления, фотосопротивления и т. п.
    С точки зрения зонной теории полупроводниками являются кристаллические вещества, у которых при 0 К валентная зона полностью заполнена электронами, а ширина запрещенной зоны невелика (порядка 1 эВ). Поэтому при абсолютном нуле полупроводник, как и диэлектрик, обладает нулевой проводимостью.

    Различают собственные и примесные полупроводники. К числу собственных относятся химически чистые полупроводники
    (германий, кремний, селен и др.). Электрические свойства примесных полупроводников определяются имеющимися в них искусственно вводимыми примесями.
    Момент импульса. Законы сохранения момента импульса
    энергии
    В таких полупроводниках атомы нейтральны и связаны друг с другом ковалентными связями. Чтобы создать проводимость, необходимо разорвать хотя бы одну из связей, удалив электрон из атома, например германия, и перенеся его в какую-либо другую кристаллическую ячейку, где все связи заполнены, и этот электрон будет лишним. Такой электрон в дальнейшем может свободно переходить из одной кристаллической ячейки в другую, перенося с собой избыточный отрицательный заряд, т. е. становиться электроном проводимости. В атоме же германия, в его валентной оболочке, образуется вакантное место, которое называется дыркой.
    Дырка перемещается по кристаллу, поскольку электрон соседнего атома быстро занимает место ушедшего. Отсутствие электрона означает наличие у атома германия единичного положительного заряда, который переносится вместе с дыркой.
    На рис. 4.1, а показаны энергетические зоны собственного полупроводника при
    0 К
    T

    : валентная зона I заполнена электронами полностью, уровни зоны проводимости II свободны.
    Рис. 4.1. Энергетическая зонная диаграмма собственного полупроводника. На вертикальной оси энергия электронов
    а
    б

    С повышением температуры вследствие термического возбуждения электронов валентной зоны часть из них приобретает энергию, достаточную для преодоления запрещенной зоны (
    a
    E

    ) и перехода в зону проводимости. Это приводит к появлению в зоне проводимости свободных электронов, а в валентной зоне – дырок, которые ведут себя как частицы с положительным зарядом
    (рис. 4.1, б).
    При наложении электрического поля электроны зоны II начинают переходить на более высокие энергетические уровни, т. к. они свободны. В зоне I электроны под действием поля также получают возможность переходить на более высокие энергетические уровни, занимая вакантное место дырки, в результате чего появляется новая дырка ниже первоначальной, наблюдается движение дырок в зоне I сверху вниз. Таким образом, в собственных полупроводниках электроны в зоне II являются отрицательными носителями тока, дырки в зоне I – положительными носителями.
    Примесные полупроводники n-типа
    Предположим, что в кристаллической решетке германия (Gе) часть атомов замещена атомами большей валентности, например атомами пятивалентного мышьяка (As) (рис. 4.2, а).
    Рис. 4.2. Энергетическая зонная диаграмма n-полупроводника

    Для образования ковалентной химической связи с соседними атомами германия атом мышьяка расходует четыре валентных электрона, пятый электрон в образовании связи не участвует.
    При сообщении этому «лишнему» электрону энергии ≈ 0,01 эВ он может оторваться от атома мышьяка и свободно перемещаться в решетке германия, превращаясь, таким образом, в электрон проводимости (рис. 4.2, б). Примеси, являющиеся источниками электронов, называются донорными, а полупроводники, содержащие такую примесь, электронными полупроводниками или полупроводниками n-типа.
    С точки зрения зонной теории этот процесс можно представить следующим образом. При абсолютном нуле между заполненной валентной зоной I и свободной зоной проводимости II располагаются энергетические уровни мышьяка, заполненные электронами
    (рис. 4.2, в). Эти уровни, называемые донорными, находятся непосредственно у «дна» зоны II, на расстоянии


    D
    E
    0,01 эВ от нее.
    Энергия
    D
    E

    называется энергией ионизации донорного примесного атома. С повышением температуры тепловое движение
    «выбрасывает» в зону II электроны с донорных уровней (рис. 4.2, г).
    При наложении электрического поля эти электроны перемещаются в зоне II, т. к. энергетические уровни этой зоны свободны.
    Образующиеся при переходах 1 (рис. 4.2, г) положительные заряды локализуются на донорных уровнях и в проводимости не участвуют.
    Наряду с переходами типа 1 возможны переходы электронов из валентной зоны I в зону проводимости II. Поскольку энергия ионизации донорного атома много меньше ширины запрещенной зоны (
    a
    D
    E
    E

    

    ), то при не очень высоких температурах первый из этих процессов (1 на рис. 4.2, г) оказывается доминирующим.
    Концентрация электронов в зоне II при этом во много раз больше концентрации дырок в зоне I. В таких условиях электроны называются основными носителями, а дырки – неосновными.
    Примесные полупроводники р-типа
    Полупроводники р-типа могут быть получены, если в решетке германия часть атомов замещена атомами меньшей валентности, чем атомы германия, например, при введении в качестве примеси индия
    (In) (рис. 4.3, а).
    Три электрона атома In участвуют в образовании валентной связи с соседними атомами германия, но на образование связи с
    четвертым атомом германия у индия не хватает электрона. Индий обладает свойством притягивать к себе электроны, являясь акцептором. На образование четвертой связи он «заимствует» электрон у атома германия. Расчет показывает, что для этого требуется энергия


    A
    E
    0,01 эВ, называемая энергией ионизации акцепторного атома. В валентной оболочке германия образуется вакантное место – дырка (рис. 4.3, б).
    Представим этот процесс с точки зрения зонной теории.
    Введение индия в кристалл германия приводит к появлению в запрещенной зоне III примесного уровня, называемого акцепторным, который располагается у «потолка» зоны 1 на расстоянии
    A
    E

    от нее.
    При абсолютном нуле он ничем не заполнен, т. к. при этих условиях невозможен отрыв электрона от атома германия (рис. 4.3, в).
    С повышением температуры электроны из валентной зоны переходят на примесные уровни (рис. 4.3, г), в результате чего в зоне
    I появляются дырки, являющиеся носителями положительного заряда. Электроны, перешедшие из зоны I на примесный уровень, связываются с атомами индия и в проводимости не участвуют.
    Наряду с переходом 1 (рис. 4.3, г), возможен переход 2, приводящий к появлению в зоне II отрицательных носителей тока – электронов.
    Но т. к
    a
    A
    E
    E

    

    , первый процесс является доминирующим,
    Ge
    Ge
    Ge
    In
    Ge
    Ge
    Ge
    Ge
    Е
    A
    Е
    а
    I
    II
    в e
    Ge
    Ge
    Ge
    In
    Ge
    Ge
    Ge
    Ge
    2
    I
    III
    г
    1
    II
    Е
    Рис. 4.3. Энергетическая зонная диаграмма р-полупроводника
    поэтому дырки в зоне I являются основными носителями, а электроны зоны II – неосновными.
    Полупроводники описанного типа называются дырочными или полупроводниками р-типа. Часто их называют акцепторными полупроводниками.
    Контакт электронного и дырочного полупроводников
    (р-n-переход)
    p-n-переходом называется электрический контакт двух примесных полупроводников с различным типом проводимости.
    Равновесное состояние р-n-перехода
    Равновесное состояние соответствует отсутствию внешнего напряжения на р-n-переходе (рис. 4.4).
    Верхняя часть рисунка изображает область диода вблизи
    p-n-перехода (точка x
    0
    ). Шарики моделируют свободные носители заряда. Дырки показаны заштрихованными, электроны – с символом заряда внутри. И те, и другие оторвались от примесных атомов, превратившихся в ионы, также показанные символами зарядов.
    Поскольку концентрация электронов в полупроводнике n-типа больше, чем в полупроводнике р-типа, часть электронов диффундирует из n-области в р-область
     дырки же, наоборот, диффундируют из р-области в n-область. Электроны, оказавшиеся в
    р-полупроводнике, рекомбинируют с дырками, т. е. занимают вакантные места в атоме германия (нижняя часть рис. 4.4).
    В результате рекомбинации электрон как носитель тока исчезает, ион германия превращается в нейтральный атом, а на атоме акцептора
    Рис. 4.4. Образование обедненного слоя на границе p-n-полупроводников
    появляется нескомпенсированный отрицательный заряд. Дырка, оказавшаяся в результате диффузии в
    n-полупроводнике, рекомбинирует с основным носителем – электроном, в результате чего на донорном атоме появляется нескомпенсированный положительный заряд. Т. к. акцепторные и донорные атомы находятся в узлах кристаллической решетки и не могут перемещаться, по обе стороны границы между двумя полупроводниками образуется двойной слой пространственного заряда – отрицательные заряды ионов акцепторных атомов в
    р-области и положительные заряды ионов донорных атомов в
    n-области (область QR на рис. 4.4). Возникающее при этом контактное электрическое поле противодействует дальнейшей диффузии основных носителей тока, т. е. создает для них потенциальный барьер. Высота барьера U
    k
     0,7 В для Ge и U
    k
     1,1 В для Si.
    В условиях равновесия диффузионный поток электронов из n- в
    р-область, создающий ток основных носителей I
    n через р-n-переход, уравновешивается встречным потоком электронов из р- в n-область, создающим ток неосновных носителей I
    gen
    . То же самое можно сказать и о токе, создаваемом дырками.
    Следовательно, в условиях равновесия
    I
    gen
    + I
    n
    = 0 и результирующий ток, создаваемый потоком носителей, равен нулю.
    Выпрямляющие свойства р-n-перехода
    Внешнее электрическое поле изменяет высоту барьера и
    нарушает равновесие потоков носителей тока через р-n-переход.
    Приложим к р-n-переходу, находившемуся в равновесии
    (рис. 4.5, а), внешнюю разность потенциалов U в прямом направлении, подключив к n-области отрицательный полюс источника, к р-области – положительный (рис. 4.5, б). На рис. 4.5, б и
    4.5, в, E и Е
    k
    – напряженности электрических полей внешнего и контактного соответственно. Эта разность потенциалов вызывает понижение потенциального барьера для основных носителей до значения (
    k
    eU
    eU

    ).

    Поэтому поток электронов из n- в р-полупроводник увеличит ток основных носителей. Ток неосновных носителей останется без изменения, т. к. поток неосновных носителей от высоты потенциального барьера не зависит. Через р-n-переход будет протекать отличный от нуля результирующий ток (прямой ток).
    Приложим теперь к р-n-переходу внешнюю разность потенциалов (U) в обратном направлении, подключив к р-области отрицательный полюс источника напряжения, к n-области – положительный (рис. 4.5, в). Под действием этой разности потенциалов потенциальный барьер перехода повысится до значения
    (eU
    k
    +
    eU), что вызовет уменьшение потока основных носителей и электрического тока, созданного ими. Более подробный анализ показывает, что зависимость тока через диод от внешнего напряжения U имеет вид
    ( )
    1 .
    eU
    kT
    gen
    I U
    I
    e








    Как видно, при этом I (0) = 0 и |I (–∞)| = I
    gen
    Зависимость тока от напряжения для диода характеризуется резко выраженной нелинейностью. Левую и правую полуплоскости системы координат, ввиду малости обратного тока, приходится вычерчивать в разных масштабах (рис. 4.6). Это приводит к появлению излома на графике в центре координат.
    Ek

    +
    +
    +
    +
    +
    p
    n





    k
    E

    E

    +
    +
    +
    +
    +
    p
    n





    k
    E

    E

    +
    +
    +
    +
    +
    p
    n





    Рис. 4.5. Взаимная ориентация внешнего и внутреннего электрических полей в р-n-переходе при различной полярности подключения источника ЭДС

    ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА
    Объект исследования (ОИ) представляет собой вилку с переключателем, в корпусе которой установлены образцы – промышленные диоды. ОИ вставлен в БУИ – блок управления и индикации. На переднюю панель БУИ выведены:
    1) кнопки набора режимов работы «ВАХ-ФВХ», «прямая- обратная» и лампочки для индикации выбранных режимов;
    2) кнопки «+», «–», предназначенные для установки напряжения в режимах «ВАХ» «прямая» и «ВАХ» «обратная»;
    3) розетка для установки объекта исследования.
    ТРЕБОВАНИЯ ПО ТЕХНИКЕ БЕЗОПАСНОСТИ
    Электропитание экспериментальной установки осуществляется от розетки, расположенной на стене, к которой подведено сетевое напряжение 220
    В.
    Установка подключается проводом с двухполосной вилкой. Заземление установки осуществляется через одну из полос, поэтому специальный «земляной» провод отсутствует.
    Все токоведущие части установки закрыты, что исключает их касание.
    При выполнении работы необходимо:
    1) внимательно ознакомиться с заданием и экспериментальной установкой;
    2) проверить изоляцию токоведущего провода, о замеченных неисправностях немедленно сообщить преподавателю;
    0 0,2 0,4 0,6
    –15 –10 –5 20 15 10 5
    I
    обр
    , мкА
    U
    пр
    , В
    U
    обр
    , В
    I
    пр
    , мА
    20 40
    I
    gen
    Рис. 4.6. Вольт-амперная характеристика диода IД507А

    3) не загромождать лабораторный стол с установкой посторонними предметами;
    4) не оставлять без присмотра работающую установку;
    5) по окончании работы выключить установку, не отсоединяя провода от сети, и привести в порядок рабочее место.
    ЗАДАНИЯ
    1) построение вольт-амперной характеристики диода;
    2) построение зависимости сопротивления диода от величины приложенного напряжения.
    МЕТОДИКА ВЫПОЛНЕНИЯ ЗАДАНИЙ
    Задание 1. Построение вольт-амперной характеристики
    диода
    1. Переключатель на ОИ поставить в положение, указанное преподавателем.
    2. Включить переключатель «Сеть» на задней панели БУИ.
    При этом на всех индикаторах должны установиться нули и загореться лампочки «ВАХ» и «прямая». (На последнем разряде индикаторов возможно появление цифр 1–3, что следует отнести к систематической ошибке прибора.)
    3. Дать прогреться установке 2 минуты.
    4. Начать увеличивать напряжение от 0,00 до 1,00 В с шагом
    U = 0,05 В. Вначале (при малых U < 0,50 В) прямой ток заметен не будет; микроамперметр будет показывать нули. Продолжать увеличивать напряжение U. Когда вместо нулей на индикаторе тока появятся отличные от нуля (0,0
    А) цифры, начать заполнять табл. 4.1 вольт-амперной характеристики (ВАХ) p-n-перехода, включенного в прямом пропускном направлении. В режиме автоматического выбора пределов измерения амперметра, в ходе увеличения U произойдет переключение пределов измерений от микроампер к миллиамперам. В табл. 4.1 следует выбрать миллиамперы. По достижении величины U = 1,00 В нажать кнопку
    «Сброс».
    Таблица 4.1
    U
    пр
    , В
    I
    пр
    , мА

    5. Построить график ВАХ p-n-перехода для прямого включения, выбрав удобный масштаб (размер графика – не менее 10 × 10 см
    2
    ).
    Для этого нанести экспериментальные точки на вашу координатную сетку и соединить экспериментальные точки гладкой кривой. Пример графика показан на рис. 4.7.
    Задание 2. Построение зависимости сопротивления диода от
    величины приложенного напряжения
    В отличие от резистора у диода нет определенного сопротивления, это нелинейный прибор. Но для диода можно ввести так называемое дифференциальное сопротивление, зависящее от приложенного напряжения U по формуле
    ( )
    ,
    U
    dU
    R U
    dI


     



    (4.1)
    при расчетах
    R дифференциалы заменяются конечными приращениями
    U = U
    2
    U
    1
    для напряжения и
    I = I
    2
    I
    1
    – для тока, соответственно,
    1 2
    1 2
    )
    (
    I
    I
    U
    U
    U
    R



    . (4.2)
    Для определения сопротивления R(U) необходимо:
    1. Для каждого U из табл. 4.1 вычислить величину
    )
    (
    )
    (
    1 2
    U
    I
    U
    U
    I
    I
    I
    I







    , (4.3) взяв
    U = 0,05 В.
    2. Для каждого значения U вычислить отношение R =
    U / I.
    Это будут значения R для напряжений, равных полусумме соседних
    Рис. 4.7. Вольт-амперная характеристика диода Д7
    значений напряжения в табл. 4.1. Например, на рис. 4.1 показано построение, необходимое для вычисления R =
    U / I при
    U = 0,825 В.
    3. Занести полученные данные в табл. 4.2.
    Таблица 4.2
    U
    пр
    , В
    R
    пр
    , Ом
    4. Построить график зависимости R = R(U).
    5. Рассчитать абсолютную ∆R и относительную

    R
    погрешности величины R для одного значения U по указанию преподавателя.
    При этом за абсолютную погрешность числителя и знаменателя в формуле (4.1) нужно взять цену деления соответствующего прибора. Вычислить относительную погрешность

    R
    определения дифференциального сопротивления по формуле
    R
    U
    I
      
     


    ,
    (4.4) где ɛ
    U
    и ɛ
    I
    – относительные погрешности определения величин ∆U и
    I в числителе и знаменателе формулы (4.2) соответственно.
    Подробно эта формула выглядит так:
    2 1
    2 1
    ΔR
    U
    I
    R
    U
    U
    I
    I






    ,
    где
    U – цена деления вольтметра, I – цена деления амперметра.
    Зная ɛ
    R
    , определите абсолютную погрешность ∆R по формуле
    R
    R R
     

    1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   16


    написать администратору сайта