Главная страница
Навигация по странице:

  • 13 Нанесение магнитного индикатора на объекты контроля

  • 14 Осмотр контролируемых поверхностей и обнаружение дефектов. Оценка и оформление результатов контроля

  • 15 Размагничивание объектов контроля

  • Национальны мстандар троссийско йфедераци иго с тр


    Скачать 1.34 Mb.
    НазваниеНациональны мстандар троссийско йфедераци иго с тр
    Дата29.11.2022
    Размер1.34 Mb.
    Формат файлаpdf
    Имя файла4293762306.pdf
    ТипДокументы
    #819038
    страница5 из 10
    1   2   3   4   5   6   7   8   9   10
    ГОСТ Р 56512—2015
    При включении соленоида с находящимся в нем объектом контроля напряженность магнитного поля будет несколько отличаться от расчетной. Но это отличие для магнитопорошкового контроля не­
    существенно.
    12.21 При последовательном намагничивании объекта продольным, а затем циркулярным полем промежуточное размагничивание не проводят, если остаточная намагниченность не оказывает влияния на последующие операции контроля.
    12.22 При контроле СОН режим намагничивания объектов (значение намагничивающего тока или напряженность магнитного поля) выбирают так, чтобы напряженность поля была близка техническому магнитному насыщению материала. В обоснованных случаях допускается применять поле меньшей напряженности.
    12.23 При контроле СПП значения тангенциальной Ht и нормальной Нп составляющих вектора на­
    пряженности магнитного поля на контролируемой поверхности должны удовлетворять условию:
    Значение Ht выбирают в соответствии с рекомендациями, приведенными в приложении И.
    12.24 При применении СПП для объектов, у которых различные участки резко отличаются друг от друга по сечению, контроль следует проводить в два или более приемов, подбирая в каждом случае ток циркулярного намагничивания соответственно размеру (диаметру) объекта в контролируемых зонах.
    12.25 При контроле объектов с большим размагничивающим фактором, имеющих отношение дли­
    ны к корню квадратному из площади поперечного сечения (или максимальному размеру поперечного сечения) менее 5, при продольном намагничивании в разомкнутой цепи составляют объекты контроля в цепочки, размещая торцевыми поверхностями друг к другу, либо применяют удлинительные наконечни­
    ки, либо используют переменный намагничивающий ток с частотой 50 Гц и более или импульсный ток.
    Площадь соприкосновения деталей, составленных в цепочки, должна быть не менее 1/3 площади их торцевых поверхностей.
    12.26 Для уменьшения вероятности прижогов и локального нагревания намагничивающих устройств и мест контакта проверяемых объектов при контроле СПП рекомендуется применять пре­
    рывистый режим намагничивания, при котором ток по проводникам намагничивающего устройства про­
    пускают в течение (0,1— 3,0) секунд с перерывами до 5 с.
    12.27 При невозможности одновременного намагничивания всего объекта (например, при контро­
    ле объектов больших размеров или сложной формы) намагничивание с последующим выполнением других операций контроля следует проводить по отдельным участкам. Для этого, как правило, исполь­
    зуют выносные намагничивающие средства: выносные электроконтакты, приставные электромагниты, устройства на постоянных магнитах, витки гибкого кабеля, накладываемые на намагничиваемые участ­
    ки объекта, разъемные соленоиды и другие средства.
    12.28 Намагничивание материала контролируемых объектов осуществляется максимальным (ам­
    плитудным) значением тока. Но в системах измерения намагничивающего тока могут быть использова­
    ны амперметры, которые в зависимости от принципа действия и градуировки при изготовлении могут определять среднеквадратичное (действующее, эффективное), среднее за полупериод или же ампли­
    тудное (максимальное) значение тока. Чаще всего шкалы амперметров градуируют в действующих значениях тока. Для контроля за процессом намагничивания объектов значение тока, рассчитанного по формулам, пересчитывают с учетом типа применяемого амперметра и вида намагничивающего тока.
    12.29 Пересчет значений тока выполняют по соотношению:
    где 1пр — значение намагничивающего тока, показываемое измерительным прибором — амперметром;
    к — коэффициент пропорциональности, зависящий от вида намагничивающего тока;
    — рассчитанное требуемое амплитудное значение тока.
    12.30
    При использовании в дефектоскопе амперметра, определяющего среднеквадратичное (дей­
    ствующее, эффективное) значение тока, коэффициент пропорциональности к равен:
    (
    1 2
    )
    (13)
    Вид намагничивающего тока
    Переменный синусоидальный
    Выпрямленный однополупериодный
    Выпрямленный двухполупериодный
    Трехфазный полупериодный
    Значение коэффициента к
    0,707 0,500 0,707 0,840 19

    ГОСТ Р 56512— 2015
    При использовании в дефектоскопе амперметра, определяющего среднее значение тока, коэф­
    фициент пропорциональности к равен:
    12.31 Значение намагничивающего тока как при циркулярном, так и продольном (в соленоидах, электромагнитах) и других способах намагничивания допускается определять и/или проверять экспери­
    ментально следующими способами:
    - по выявлению естественных или искусственных дефектов на контрольных образцах, представ­
    ляющих собой проверяемые объекты с трещинами минимальных размеров, расположенных в прове­
    ряемых зонах, либо по выявлению искусственных дефектов на таких образцах — объектах контроля, отбракованных по каким-либо другим параметрам;
    - по установлению заданного значения тангенциальной составляющей магнитного поля на прове­
    ряемых объектах в зонах контроля, оцениваемого с помощью приборов измерения напряженности маг­
    нитного поля. При этом, если выполняется контроль СПП, должно учитываться соотношение нормаль­
    ной и тангенциальной составляющих поля согласно 12.25. При измерении напряженности магнитного поля датчики приборов необходимо располагать непосредственно на поверхности объектов контроля.
    Применение контрольных образцов в виде пластин, стержней, дисков и других образцов, отлича­
    ющихся от объектов контроля, с трещинами или искусственными дефектами минимальных размеров, для определения режимов намагничивания конкретных объектов контроля не допускается.
    12.32 Режим намагничивания объектов проверяют с помощью приборов и устройств для изме­
    рения электрического тока или напряженности магнитного поля с погрешностью измерения не более
    12.33
    При намагничивании объектов контроля напряженность магнитного поля (значение намаг­
    ничивающего тока) должна поддерживаться в пределах ± 10 % назначенного значения.
    13 Нанесение магнитного индикатора на объекты контроля
    13.1 При магнитопорошковом контроле магнитный индикатор наносят на поверхность проверяе­
    мых объектов в сухом виде, в виде магнитной суспензии или магнитогуммированной пасты.
    13.2 В сухом виде магнитный порошок наносят на контролируемую поверхность распылением с помощью резиновых груш, пульверизаторов, качающихся сит и т. п. или с помощью установки, образую­
    щей воздушную взвесь. Порошок наносят равномерно, без образования на поверхности более темных
    (обогащенных) или светлых (обедненных порошком) мест.
    Воздушную взвесь применяют при контроле на повышенной чувствительности, при выявлении подповерхностных дефектов, а также дефектов под слоем немагнитного покрытия толщиной от 80 до
    200 мкм.
    13.3 Магнитную суспензию наносят на контролируемую поверхность поливом, распылением или погружением на 1—2 мин. небольших объектов в ванну с хорошо перемешанной суспензией. Полив и распыление суспензий должны осуществляться при низком давлении струи с тем, чтобы не удалять магнитный порошок, накапливающийся над дефектами. Во всех случаях, в том числе после извлечения из ванны, рекомендуется обеспечивать условия для стекания магнитной суспензии с контролируемой поверхности, чтобы она не застаивалась в отдельных местах — углублениях, «карманах», между ре­
    брами и т. д.
    При контроле небольших локальных участков поверхности объектов контроля суспензию можно наносить кистью.
    13.4 При нанесении магнитного порошка на объект контроля распылением из аэрозольного балло­
    на его держат вертикально на расстоянии 250— 300 мм от контролируемой поверхности. Распыляющее сопло распылительной головки направляют в сторону зоны контроля. На распылительную головку кра­
    тковременно (в течение нескольких секунд) нажимают указательным пальцем и распыляют порошок.
    Направление аэрозольной струи должно быть примерно нормальным к контролируемой поверхности
    20
    Вид намагничивающего тока
    Выпрямленный однополупериодный
    Выпрямленный двухполупериодный
    Трехфазный однополупериодный
    Трехфазный двухполупериодный
    Значение коэффициента к
    0,318 0,637 0,826 0,955
    ± 10 %.

    ГОСТ Р 56512—2015
    или составлять с нормалью угол 30— 40°. Направлять струю по касательной к контролируемой поверх­
    ности не допускается, так как это приводит к удалению образующихся индикаторных рисунков дефек­
    тов. Если зона контроля превышает диаметр факела распыления, аэрозольную струю перемещают по объекту контроля так, чтобы покрыть им всю зону контроля.
    13.5 При контроле СПП суспензию начинают наносить перед включением намагничивающего тока в намагничивающем устройстве, а заканчивают до того, как будет выключено намагничивающее поле.
    Ток в намагничивающем устройстве выключают после стекания основной массы суспензии с поверх­
    ности объекта. Осмотр поверхности проводят при намагничивании и/или после выключения тока в на­
    магничивающем устройстве.
    13.6 При контроле СОН магнитный индикатор наносят на контролируемую поверхность после сня­
    тия намагничивающего поля (после выключения тока в намагничивающем устройстве), но не позднее, чем через 3—4 часа после намагничивания (при отсутствии касания намагниченных деталей с другими деталями во время хранения). Осмотр контролируемой поверхности проводят после стекания излиш­
    ков суспензии.
    13.7 На вертикальные поверхности и на поверхности, расположенные над головой, суспензию наносят из аэрозольного баллона или с помощью пластмассовой емкости объемом от 200 до 500 мл, в пробку которой вставлена трубка диаметром 5...6 мм.
    13.8 Магнитогуммированные пасты готовят к применению и наносят на объекты контроля по ре­
    комендациям поставщика.
    14 Осмотр контролируемых поверхностей и обнаружение дефектов.
    Оценка и оформление результатов контроля
    Протяженность индикаторных рисунков выявляемых дефектов и их координаты на поверхности проверяемых объектов определяют с помощью линеек, угольников, кронциркулей, изготовленных из немагнитных материалов, измерительных шкал смотровых оптических приборов (луп, микроскопов, эндоскопов) и других средств измерений линейных размеров.
    14.1 При магнитопорошковом контроле дефекты обнаруживают и оценивают по наличию на кон­
    тролируемой поверхности индикаторного рисунка в виде видимых осаждений магнитного порошка, вос­
    производимых повторно после каждого нового нанесения магнитной суспензии или порошка.
    14.2 Индикаторные рисунки, образующиеся на дефектах типа нарушений сплошности материала, имеют следующие характерные особенности:
    - плоскостные дефекты (трещины, расслоения, несплавления и т. п.) проявляются в виде удлинен­
    ных, как правило, тонких индикаторных рисунков в виде валиков магнитного порошка;
    - объемные дефекты (поры, раковины, включения) образуют округлые индикаторные рисунки;
    - подповерхностные дефекты обычно дают нечеткое осаждение порошка.
    14.3 Для обнаружения индикаторных рисунков дефектов осмотр контролируемой поверхности объектов проводят визуально или с применением автоматизированных устройств обнаружения и об­
    работки изображений.
    14.4 При использовании магнитной суспензии осмотр выполняют после стекания основной ее массы с контролируемого участка поверхности объекта.
    14.5 При осмотре принимают меры для предотвращения стирания валиков магнитного порошка с дефектов. В случаях стирания отложений порошка суспензию наносят повторно. В случае образования нечетких индикаторных рисунков проводят повторный МПК.
    14.6 При визуальном осмотре объектов могут применяться оптические устройства: лупы 2—7-крат- ного увеличения, а при контроле небольших объектов — бинокулярные стереоскопические микроскопы или другие средства.
    Осмотр внутренних полостей объектов проводят с помощью специальных зондов, эндоскопов, по­
    воротных зеркал и других смотровых устройств, изготовленных из немагнитных материалов.
    14.7 Освещенность контролируемой поверхности объектов при использовании черных и цветных нелюминесцирующих магнитных порошков или суспензий на их основе должна быть не менее 1000—
    1500 лк или более в зависимости от требуемой чувствительности к дефектам и оптических свойств по­
    верхности объектов контроля [4]. Освещенность контролируют с помощью люксметра один раз в месяц, если иное не установлено отраслевыми нормами.
    21

    ГОСТ Р 56512— 2015
    14.8 На стационарных рабочих местах осмотра объектов должно применяться только комбини­
    рованное освещение (общее совместно с местным). Как правило, должны использоваться разрядные лампы: для общего освещения — типа ЛБ, ЛХБ, МГЛ, для местного — типа ЛБЦТ, ЛДЦ, ЛДЦ УФ. Для местного освещения допускается применение ламп накаливания, но только в молочной или матиро­
    ванной колбе. Могут использоваться галогенные лампы. Но ксеноновые лампы применяться не долж­
    ны. Для исключения появления бликов на полированных объектах контроля, смоченных магнитной суспензией, рабочие места осмотра оборудуют светильниками с непросвечивающими отражателями или рассеивателями так, чтобы их светящиеся элементы и лучи, отраженные от объектов контроля, не попадали в поле зрения работающих. Местное освещение рабочих мест должно быть оборудовано регуляторами освещения.
    14.9 На стационарных рабочих местах осмотра объектов в виде стола материал и цвет покрытия его рабочей поверхности выбирают так, чтобы уменьшить яркостные контрасты в поле зрения дефекто- скописта, ускорить переадаптацию при чередовании наблюдения объекта контроля и фона, обеспечить устойчивость контрастной чувствительности глаза, а также не допустить слепящего действия света, отраженного от покрытия. Например, при осмотре шлифованных объектов контроля и других объектов со светлой поверхностью рабочую поверхность стола покрывают неблестящим светло-зеленым, свет­
    ло-голубым или зеленовато-голубым пластиком.
    При осмотре объектов, контролируемых с применением люминесцирующего магнитного индика­
    тора, рабочая поверхность стола должна рассеивать или поглощать ультрафиолетовые лучи.
    14.10 Осмотр объектов контроля, обработанных суспензией с люминесцентным магнитным по­
    рошком, проводят при ультрафиолетовом облучении. Уровень облученности контролируемой поверх­
    ности ультрафиолетовым излучением должен быть не ниже 2000 мкВт/см2. Длина волны ультрафиоле­
    тового излучения должна быть в диапазоне от 315 до 400 нм с максимумом излучения примерно 365 нм.
    При этом освещенность зоны контроля видимым светом должна быть не более 20 лк.
    УФ-облученность контролируют ультрафиолетовым радиометром или другим измерителем ин­
    тенсивности ультрафиолетового излучения один раз в месяц, если иное не установлено отраслевыми нормами.
    14.11 При анализе и расшифровке индикаторных рисунков дефектов различают осаждения маг­
    нитного порошка на реальных дефектах от ложных осаждений. При отсутствии дефектов осаждения магнитного порошка могут наблюдаться в местах:
    - резких переходов от одного сечения контролируемого объекта к другому;
    - резкого местного изменения магнитных свойств металла (например, по границе зоны термиче­
    ского влияния или по границе «металл шва — основной металл») и т. п.;
    - касания намагниченного объекта каким-либо ферромагнитным предметом (отверткой, другой деталью и др.);
    - расположения риски, царапины и грубой обработки поверхности;
    - границы наклепанной поверхности;
    - группы мелких забоин;
    - расположения карбидной полосчатости металла;
    - расположения границ незачищенных сварных швов и границ сварных швов, выполненных аусте­
    нитными электродами.
    Как правило, в указанных местах образуются размытые, нечеткие осаждения магнитного порош­
    ка. Для определения причин осаждения магнитного порошка в таких случаях оценивают особенности конструкции объекта в этой зоне, проводят осмотр очищенной поверхности с использованием оптиче­
    ских средств, выполняют повторный магнитопорошковый контроль либо контроль другим методом.
    14.12 Участок осмотра объектов целесообразно обеспечивать отбракованными объектами контро­
    ля с выявленными дефектами и дефектограммами, изготовленными в соответствии с приложением Г.
    14.13 В целях повышения качества контроля целесообразно через каждый час работы по осмо­
    тру контролируемой поверхности, в том числе при осмотре на экране компьютера, делать перерыв на
    10— 15 мин.
    14.14 Результаты контроля оценивают в соответствии с нормами, предусмотренными документа­
    цией на изготовление, ремонт, реконструкцию или эксплуатацию объектов контроля.
    Качество объектов контроля допускается оценивать как по индикаторным рисункам, так и по ха­
    рактеру реальных обнаруженных дефектов: их размерам, количеству и распределению по поверхности проверяемых объектов.
    22

    ГОСТ Р 56512—2015
    14.15 Результаты контроля записывают в журнал, протокол, маршрутную карту или другой доку­
    мент. Вид и объем записи устанавливают в НТД отрасли или предприятия на контроль объектов конкрет­
    ного типа. Регистрацию обнаруженных дефектов осуществляют описанием, схематическим рисунком, фотографированием, фиксацией с помощью прозрачной липкой ленты, прозрачного лака, твердеющей смолы, магнитной ленты, видеозаписи или считыванием автоматизированной системой обнаружения дефектов и фиксированием в памяти компьютера.
    14.16 При необходимости объекты, прошедшие МПК, могут подвергаться маркировке: дефект­
    ные — красной краской в виде линий, точек или других знаков; годные — белой, синей или зеленой кра­
    ской либо нанесением буквы «М» клеймением, тиснением, травлением, с помощью лазера или другим способом, не нарушающим прочностные свойства объектов контроля.
    15 Размагничивание объектов контроля
    15.1 Объекты контроля, на которых был проведен магнитопорошковый контроль, должны быть размагничены:
    - если их намагниченность вызывает погрешности в показаниях приборов, ухудшает работоспо­
    собность аппаратуры или датчиков, установленных в изделии;
    - если намагниченность в условиях эксплуатации объектов может вызвать накопление продуктов износа в подвижных сочленениях;
    - если остаточная намагниченность оказывает отрицательное влияние на последующие техноло­
    гические операции изготовления или ремонта технических изделий, а также в других случаях.
    Подлежат размагничиванию, например, валы, колеса, шестерни редукторов.
    15.2 Размагничивание осуществляют путем воздействия на объект контроля знакопеременного магнитного поля с убывающей до нуля амплитудой. Для этого используют стационарные или перенос­
    ные соленоиды и электромагниты, а также устройства (например, дефектоскопы), позволяющие про­
    пускать по объекту контроля ток, достаточный для создания необходимого размагничивающего поля.
    15.3 Способ размагничивания объектов конкретного типа устанавливают в НТД отрасли или пред­
    приятия на контроль этих объектов. В зависимости от формы и размеров объектов размагничивание может осуществляться следующими способами:
    - продвижением объекта контроля через соленоид, питаемый переменным током или постоян­
    ным током изменяющейся полярности, и удалением его на расстояние, при котором напряженность магнитного поля соленоида равна напряженности фона. Например, для стационарных соленоидов это расстояние должно быть не менее 0,7 м;
    - уменьшением до нуля тока в соленоиде переменного тока со вставленным в него размагничи­
    ваемым объектом. Если длина объекта больше длины соленоида, то размагничивание проводят по участкам;
    - удалением объекта от электромагнита (или электромагнита от объекта), питаемого переменным током либо постоянным током с периодически изменяющейся полярностью;
    - уменьшением до нуля переменного тока в электромагните, в междуполюсном пространстве ко­
    торого находится размагничиваемый объект или его участок;
    - воздействием на объект контроля разнополярного убывающего импульсного магнитного поля;
    - уменьшением до нуля амплитуды переменного тока, пропускаемого по объекту контроля, его части, кабелю или стержню, пропущенному через отверстие в объекте;
    - воздействием на объект контроля магнитным полем, направленным встречно магнитному полю намагниченного объекта. Напряженность размагничивающего поля должна подбираться эксперимен­
    тально так, чтобы после его выключения остаточная индукция объекта была близка к нулю (применяет­
    ся только для объектов простой формы).
    При использовании переменного тока размагничивается поверхностный слой объекта, не превы­
    шающий глубины проникновения поля данной частоты в материал объекта.
    Допускается применение других эффективных способов размагничивания.
    15.4 Участок конструкции или объект можно размагнитить непосредственно после контроля в при­
    ложенном поле (СПП), если при этом используется дефектоскоп, снабженный устройством для размаг­
    ничивания. При выключении такого дефектоскопа или при специальном переключении его на режим размагничивания происходит плавное уменьшение переменного размагничивающего тока.
    15.5 После размагничивания уровень остаточной намагниченности на проконтролированных объ­
    ектах не должен превышать 5 А/см, если в нормативной документации не установлены другие значения
    23

    1   2   3   4   5   6   7   8   9   10


    написать администратору сайта