Главная страница
Навигация по странице:

  • 4 Обозначения и сокращения

  • 5 Технические возможности магнитопорошкового контроля

  • Национальны мстандар троссийско йфедераци иго с тр


    Скачать 1.34 Mb.
    НазваниеНациональны мстандар троссийско йфедераци иго с тр
    Дата29.11.2022
    Размер1.34 Mb.
    Формат файлаpdf
    Имя файла4293762306.pdf
    ТипДокументы
    #819038
    страница2 из 10
    1   2   3   4   5   6   7   8   9   10
    область эффективной намагниченности (area effective magnetize): Область на поверхно­
    сти намагниченного объекта, внутри которой тангенциальная составляющая напряженности магнитно­
    го поля достаточна для проведения МПК, а отношение нормальной и тангенциальной составляющих напряженности магнитного поля менее или равно 3.
    3.22 приложенное магнитное поле (applied magnetic field): Внешнее магнитное поле, как прави­
    ло, превышающее по напряженности магнитное поле Земли, в котором находится объект магнитопо­
    рошкового контроля или его часть во время проведения контроля.
    3.23 поле рассеяния дефекта; поле рассеяния (flux leakage field; magnetic dispersion): Одна из составляющих магнитного поля дефекта, обусловленная изменением направления магнитного потока в материале объекта контроля вследствие локального изменения магнитной проницаемости материала в зоне дефекта.
    3.24 размагничивание (demagnetization; magnetic neutralization): Операция магнитопорошкового контроля, в результате которой под воздействием внешнего магнитного поля уменьшается намагничен­
    ность материала объекта контроля до допустимого уровня.
    3.25 соленоид (solenoid): Полая цилиндрическая катушка индуктивности, при прохождении по ко­
    торой электрического тока возникает магнитное поле, намагничивающее или размагничивающее объ­
    ект, расположенный в полости соленоида или возле его торца.
    3.26 тангенциальная составляющая напряженности магнитного поля (tangential component magnetic field strength): Составляющая напряженности магнитного поля, направленная параллельно поверхности объекта в зоне контроля.
    3.27 тесламетр (teslameter): Магнитоизмерительный прибор, предназначенный для измерения магнитной индукции, шкала которого градуирована в теслах.
    3.28 ферромагнитный материал; магнитный материал (ferromagnet; ferromagnetic; magnetic material): Материал, обладающий свойствами ферромагнетика или ферримагнетика.
    П р и м е ч а н и е — Ферромагнитные материалы характеризуются остаточной индукцией, магнитной вос­
    приимчивостью, магнитной проницаемостью, коэрцитивной силой и другими характеристиками. Эти материалы разделяются на два основных класса: магнитомягкие и магнитотвердые.
    3.29 цветной магнитный порошок (magnetic particles coloured): По ГОСТ Р 55612.
    3.30 центральный проводник (central conductor): Проводник, вставляемый внутрь полого объ­
    екта или в имеющееся в нем отверстие, по которому пропускается электрический ток при циркулярном намагничивании объекта контроля.
    3.31 эквивалентный диаметр (детали) [equiavalent diameter (detail)]: Диаметр круга, площадь которого равна площади поперечного сечения детали.
    3.32 электроконтакты (electrical contact; contactor; electric feeler): Устройства для намагничивания локальных участков крупногабаритных объектов контроля путем пропускания по ним тока.
    3.33 электромагнит (electromagnet): Намагничивающее и размагничивающее устройство обычно в виде П-образного ферромагнитного сердечника, на который намотаны одна, две или более обмоток, включенных согласно, при прохождении по которым электрического тока в сердечнике возникает и кон­
    центрируется магнитное поле, которым намагничивается или размагничивается объект, расположен­
    ный в межполюсном пространстве электромагнита.
    4 Обозначения и сокращения
    4.1 В настоящем стандарте применены следующие сокращения:
    КЗУ — контактное зажимное устройство;
    МПК — магнитопорошковый контроль;
    НТД — нормативно-техническая документация;
    СОН — способ остаточной намагниченности;
    СПП — способ приложенного поля;
    ТМС — техническое моющее средство;
    ТУ — технические условия;
    УФ — ультрафиолетовый.
    4

    ГОСТ Р 56512—2015
    4.2
    В настоящем стандарте применены следующие условные обозначения видов и способов на­
    магничивания и вида намагничивающего тока:
    Ц — циркулярное намагничивание;
    ЦО — циркулярное намагничивание путем пропускания электрического тока по объекту;
    ЦП — циркулярное намагничивание путем пропускания электрического тока по вспомогательному центральному проводнику;
    ЦЭ — циркулярное намагничивание путем пропускания тока по участку детали с применением ручных электроконтактов;
    ЦТ — циркулярное намагничивание с применением тороидальной обмотки;
    ЦИ — циркулярное индукционное намагничивание;
    П — полюсное намагничивание;
    ПС — полюсное намагничивание с применением соленоида;
    ПЭ — полюсное намагничивание с применением электромагнита;
    ПМ — полюсное намагничивание с применением постоянного магнита;
    МК — намагничивание с помощью магнитного контакта;
    ВП — намагничивание во вращающемся магнитном поле;
    К — комбинированное намагничивание;
    ПТ — постоянный ток;
    ПР — переменный ток;
    ВО — выпрямленный однополупериодный ток;
    ВД — выпрямленный двухполупериодный ток;
    ВТ — выпрямленный трехфазный ток;
    И — импульсный ток;
    ТП — прерывистый ток (ток-пауза).
    5 Технические возможности магнитопорошкового контроля
    5.1 Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля основан на притяжении магнитных ча­
    стиц силами неоднородных магнитных полей, образующихся над дефектами в намагниченных объ­
    ектах, с образованием в зонах дефектов индикаторных рисунков в виде скоплений магнитных частиц.
    Наличие и протяженность индикаторных рисунков регистрируют визуально, с помощью оптических при­
    боров или автоматическими устройствами обнаружения и обработки изображений.
    5.2 Объектами МПК являются разнообразные полуфабрикаты, детали, узлы, элементы конструк­
    ций и изделий, сварные, клепаные и болтовые соединения, в том числе с защитными или защитно­
    декоративными покрытиями, включая объекты, находящиеся в конструкции летательных аппаратов, механизмов, машин, оборудования, средств транспорта и другой техники.
    5.3 Магнитопорошковый метод позволяет обнаруживать поверхностные и подповерхностные де­
    фекты типа нарушений сплошности материала: трещины различного происхождения (шлифовочные, ковочные, штамповочные, закалочные, усталостные, деформационные, травильные и др.), флокены, закаты, надрывы, волосовины, расслоения, дефекты сварных соединений (трещины, непровары, шла­
    ковые, флюсовые и окисные включения, подрезы) и др.
    Необходимым условием применения МПК для выявления дефектов является наличие доступа к объекту контроля для намагничивания, обработки индикаторными материалами, осмотра и оценки результатов контроля.
    5.4 Магнитопорошковый метод позволяет обнаруживать при соответствующих условиях визуаль­
    но невидимые и слабо видимые поверхностные дефекты со следующими минимальными размерами: раскрытием 0,001 мм; глубиной 0,01 мм; протяженностью 0,5 мм, а также более крупные.
    5.5 Результаты контроля объектов магнитопорошковым методом зависят от следующих факторов:
    - магнитных характеристик материала объектов;
    - формы и размеров объектов контроля;
    - вида, местоположения и ориентации отыскиваемых дефектов;
    - степени доступности зон контроля, особенно в случае контроля объектов, установленных в кон­
    струкции изделия;
    - шероховатости поверхности;
    - наличия и уровня поверхностного упрочнения;
    - толщины немагнитных покрытий;
    5

    ГОСТ Р 56512— 2015
    - напряженности магнитного поля и его распределения по поверхности объекта контроля;
    - угла между направлением намагничивающего поля и плоскостями выявляемых дефектов;
    - свойств магнитного индикатора;
    - способа его нанесения на объект контроля;
    - интенсивности магнитной коагуляции порошка в процессе выявления дефектов;
    - способа и условий регистрации индикаторных рисунков выявляемых дефектов.
    Указанные факторы учитывают при разработке технологий МПК объектов.
    5.6 Магнитопорошковый метод может быть использован для контроля объектов с немагнитным покрытием (слоем краски, лака, хрома, меди, кадмия, цинка и др.). Объекты с немагнитными покрытия­
    ми суммарной толщиной до 40— 50 мкм могут быть проконтролированы без существенного уменьшения выявляемое™ дефектов.
    5.7 При МПК возможно снижение выявляемое™ дефектов:
    - плоскости которых составляют угол менее 30° с контролируемой поверхностью или с направле­
    нием магнитного потока;
    - подповерхностных;
    - на поверхности объектов с параметром шероховатости Ra > 10 мкм;
    - при наличии на поверхности объектов нагара, продуктов коррозии, шлаков, термообмазок.
    5.8 Магнитопорошковый метод относится к индикаторным (неизмерительным) методам неразру­
    шающего контроля. Метод не позволяет определять длину, глубину и ширину поверхностных дефектов, размеры подповерхностных дефектов и глубину их залегания.
    5.9 Магнитопорошковым методом не могут быть проконтролированы детали, узлы и элементы конструкций:
    - изготовленные из неферромагнитных сталей, цветных металлов и сплавов;
    - на поверхности которых зона контроля не обеспечена необходимыми подходами для намагничи­
    вания, нанесения магнитного индикатора и осмотра;
    - с существенной магнитной неоднородностью материала;
    - сварные швы, выполненные немагнитным электродом.
    5.10 Магнитопорошковый контроль проводят по инструкциям (методикам) и по операционным
    (технологическим) картам. Рекомендуемое содержание технологических инструкций (методик) магнито­
    порошкового контроля объектов приведено в приложении А, а операционных (технологических) карт — в приложении Б.
    5.11 Объем контроля, а также виды недопустимых дефектов и их размеры устанавливают в НТД отрасли или предприятия на контроль объектов.
    5.12 Проведение магнитопорошкового контроля в ночную смену не рекомендуется.
    5.13 В НТД отрасли или предприятия на контроль объектов магнитопорошковым методом реко­
    мендуется применять условные обозначения видов и способов намагничивания и вида намагничиваю­
    щего тока.
    6 Выбор аппаратуры
    6.1
    В зависимости от целей и задач контроля, условий проведения работы и других факторов при
    МПК объектов может быть использована следующая аппаратура:
    - универсальные стационарные дефектоскопы;
    - специализированные стационарные дефектоскопы, в том числе автоматизированные, разрабо­
    танные применительно к контролю однотипных объектов;
    - универсальные портативные (переносные) магнитопорошковые дефектоскопы, разработанные применительно к контролю разнотипных элементов конструкций, деталей, узлов и других объектов, а также специализированные портативные дефектоскопы;
    - стационарные или переносные источники освещения или УФ-облучения контролируемой по­
    верхности;
    - приборы для измерения намагничивающего и размагничивающего магнитного поля (напряжен­
    ности или индукции) с погрешностью не выше 10 %;
    - индикаторы магнитного поля;
    - приборы для определения кинематической или условной вязкости магнитных суспензий (виско­
    зиметры);
    - приборы для измерения уровня освещенности и УФ-облученности контролируемой поверхности;
    6

    ГОСТ Р 56512—2015
    - размагничивающие устройства;
    - приборы для оценки уровня размагничивания (при необходимости размагничивания объектов после контроля);
    - приборы для количественной оценки чувствительности магнитных индикаторов и концентрации магнитного порошка в суспензиях;
    - устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов: смотровые оп­
    тические приборы (лупы, бинокулярные стереоскопические микроскопы, зеркала, эндоскопы), теле­
    визионные системы, а также автоматизированные устройства обнаружения, регистрации и обработки изображений;
    - контрольные образцы для оценки работоспособности магнитопорошковых дефектоскопов и маг­
    нитных индикаторов.
    6.2 В состав магнитопорошковых дефектоскопов (намагничивающих устройств) в зависимости от их назначения и конструктивного исполнения могут входить следующие функциональные устройства:
    - блок питания;
    - программный блок;
    - блок формирования намагничивающего тока;
    - намагничивающие (и размагничивающие) устройства (КЗУ, соленоиды, электромагниты, гибкие кабели, центральные стержни, электроконтакты, постоянные магниты);
    - система или блок измерения намагничивающего тока (напряженности магнитного поля);
    - система или блок управления операциями контроля;
    - устройство для нанесения на объекты контроля магнитного индикатора;
    - приборы и устройства для проверки качества магнитных индикаторов;
    - источники освещения или УФ-облучения;
    - устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов.
    Размагничивающие устройства, средства проверки качества магнитных индикаторов, средства осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов могут быть выполнены в виде отдель­
    ных блоков, устройств или приборов.
    В цеховых условиях источники освещения или УФ-облучения помимо дефектоскопов устанавли­
    вают также на специализированных рабочих местах (в смотровых кабинах) осмотра объектов с целью поиска индикаторных рисунков дефектов.
    6.3 Требования к магнитопорошковым дефектоскопам и намагничивающим устройствам должны соответствовать ГОСТ Р 53700. Требования к специализированным, в том числе автоматизированным, магнитопорошковым дефектоскопам устанавливаются в НТД отрасли или предприятия.
    Требования к портативным электромагнитам переменного тока, к гибким кабелям, к электрокон­
    тактам, к источникам УФ-излучения и к смотровым кабинам для осмотра объектов контроля при исполь­
    зовании люминесцентных магнитных индикаторов — по ГОСТ Р 53700.
    6.4 Магнитопорошковые дефектоскопы выбирают с учетом:
    - номенклатуры, конфигурации и размеров объектов контроля;
    - условий проведения работ (в цехе, на открытой площадке, в конструкции технического изделия, на стапелях, в том числе на высоте, и т. п.) и степени доступности зон контроля;
    - требуемого значения намагничивающего тока или напряженности магнитного поля;
    - используемого способа МПК;
    - требуемой производительности труда;
    - технических и экономических возможностей предприятия.
    6.5 Для обеспечения высокой выявляемости дефектов способом остаточной намагниченности с применением соленоида, электромагнита и др. рекомендуется использовать источник питания или блок регулирования тока, обеспечивающий при выключении уменьшение намагничивающего тока от макси­
    мального значения до нуля за время не более 5 мс.
    6.6 Автоматизированные магнитопорошковые дефектоскопы применяют в цеховых условиях с це­
    лью повышения достоверности контроля и производительности труда, а также уменьшения влияния человеческого фактора на результаты контроля. Автоматизированные дефектоскопы должны обеспе­
    чивать выполнение некоторых или всех основных и вспомогательных операций МПК, в том числе:
    - намагничивание объектов контроля;
    - подготовка объекта контроля (обезжиривание, мойка, сушка и т. п.);
    - нанесение в зону контроля магнитного индикатора;
    - поиск и распознавание дефектов;
    7

    ГОСТ Р 56512— 2015
    - необходимое перемещение объектов контроля по рабочим зонам вдоль технологического пото­
    ка, их подъем и вращение в процессе выполнения технологических операций, в том числе при поиске дефектов, а также их выведение из последней рабочей зоны;
    - выведение в зону брака или маркировку объектов с обнаруженными дефектами;
    - позиционирование видеокамер;
    - отстройку от влияния мешающих факторов;
    - звуковую сигнализацию в случае обнаружения дефектов;
    - отображение параметров и результатов контроля на экране компьютера или на информацион­
    ном стенде;
    - автоматическую обработку результатов контроля и их документирование на бумажных и элек­
    тронных носителях;
    - проверку работоспособности систем и каналов дефектоскопа;
    - размагничивание объектов, на которых не обнаружены дефекты, после контроля.
    6.7 Системы поиска и распознавания дефектов автоматизированных магнитопорошковых дефек­
    тоскопов должны базироваться на использовании разнообразных признаков индикаторных рисунков дефектов и должны быть близки человеческому зрительному анализу и восприятию изображений. Для обнаружения и идентификации дефектов в этих системах должны использоваться 5—6 или более при­
    знаков дефектов из числа следующих:
    - месторасположение индикаторных рисунков дефектов на поверхности объектов контроля;
    - направление распространения линий рисунков относительно оси объектов, направления их обра­
    ботки, а на объектах, бывших в эксплуатации, относительно направления действующих рабочих нагрузок;
    - протяженность линий рисунков;
    - конфигурация рисунков, наличие изгибов и изломов линий рисунков;
    - ширина линий рисунков;
    - подобие контуров протяженных рисунков;
    - резкость или размытость контуров рисунков;
    - цвет или яркость люминесценции индикаторных рисунков;
    - контраст рисунков на фоне бездефектной поверхности;
    - текстура поверхности рисунков;
    - микрорельеф поверхности в местах расположения рисунков.
    6.8 В автоматизированных дефектоскопах должна быть предусмотрена автоматизация контроля за режимами обработки объектов на каждой операции в отдельности и возможность изменения этих ре­
    жимов. Участки МПК, где располагаются такие дефектоскопы, рекомендуется обеспечивать системами и устройствами очистки и обезвреживания стоков и выбросов, а при использовании магнитных суспен­
    зий на водной основе — системами замкнутого водоснабжения. Автоматизированные дефектоскопы должны создавать комфортные условия труда дефектоскопистов.
    6.9 В эксплуатационной документации на магнитопорошковые дефектоскопы должны быть ука­
    заны:
    - возможность контроля способами остаточной намагниченности и/или приложенного магнитного поля;
    - способность к выявлению дефектов минимальных размеров;
    - напряжение питания и потребляемая мощность;
    - масса и габаритные размеры;
    - рабочие диапазоны значений температуры, влажности и атмосферного давления.
    В эксплуатационной документации на магнитопорошковый дефектоскоп с намагничивающим устройством, работающим от источника намагничивающего тока, должны быть дополнительно приве­
    дены:
    - максимальная потребляемая мощность;
    - вид намагничивающего тока;
    - напряжение и частота намагничивающего тока;
    - максимальное и минимальное значения намагничивающего тока;
    - способ регулирования намагничивающего тока (ступенчатый, плавный, ток не регулируется);
    При использовании повторно-кратковременного режима намагничивания в эксплуатационной до­
    кументации должны быть указаны:
    - продолжительность включения и длительность паузы;
    - максимальный ток, при котором дефектоскоп может работать непрерывно.
    1   2   3   4   5   6   7   8   9   10


    написать администратору сайта