Спектральная пирометрия Магунов. Оглавлениепредисловие Глава Задачи, методы и проблемы оптической пирометрии

• Название: Оглавлениепредисловие Глава Задачи, методы и проблемы оптической пирометрии
• Анкор: Спектральная пирометрия Магунов
• Дата: 01.03.2023
• Размер: 4.34 Mb.
• Имя файла: Спектральная пирометрия Магунов.pdf
• Тип: Документы; #962483
• страница: 21 из 22

Рефракция света. Другая причина искажения регистрируемых спектров теплового излучения была обнаружена при исследованиях сжатия и нагревания веществ в алмазных наковальнях. Вследствие больших градиентов температуры в плоскости образца и хроматических аберраций алмазной наковальни [8.36, 8.45], спектр излучения,
регистрируемого под углом к поверхности алмаза, был заметно искажен из-за неоднородного по спектру бокового смещения световых пучков, что проявлялось в изменении вычисляемой температуры на сотни К.
Для оценки влияния хроматических аберраций измерили температуру плавления платины, когда между платиной и собирающей линзой поставлено кварцевое стекло толщиной 6 мм [8.46]. Вычисленная по спектру (
λ = 600–800 нм) температура плавления составила 25 К, когда калибровка системы проводилась без стекла. При проведении калибровки со стеклом получилась температура плавления 25 К, близкая к литературным данным. При пространственно однородной температуре образца этот вид искажения спектра отсутствует. Устранить или существенно ослабить влияние хроматической аберрации позволил бы переход к регистрации спектра в более длинноволновой области (например, для интервала длин волн 1,5–2 мкм отличие показателей преломления на порядок меньше, чем для интервала мкм. Разрабатывается метод, позволяющий учесть влияние хроматической аберрации на результат температурных измерений При регистрации теплового излучения с помощью системы, включающей собирающую линзу или объектив, также возникает искажение спектра из-за хроматических аберраций. Например, при измерении температуры образца, нагреваемого лазерным пучком диаметром мкм в алмазных наковальнях, расстояние между фокальными точками для синего и красного света составляет около 30 мкм, что приводит к систематическим ошибкам порядка 1000 К [8.48]. Чтобы избежать этого, применяют зеркальные собирающие объективы, в которых хроматические аберрации отсутствуют

ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Традиционные методы пирометрии, основанные на измерении интенсивности излучения на одной или двух длинах волн, часто не обеспечивают необходимой точности в исследованиях ив технологическом контроле, хотя в условиях метрологических лабораторий при измерениях температуры эталонных объектов с помощью этих же методов достигается высокая точность. Основной недостаток традиционных методов состоит в малой информативности первичных данных,
получаемых в эксперименте. Для проведения точных температурных измерений необходимо предварительное изучение оптических свойств объекта. Для недостаточно изученных объектов измерение температуры приходится проводить на основе непроверяемых гипотез. Вследствие этого результаты измерения температур новых и малоизученных объектов методами яркостной и цветовой пирометрии часто выглядят недостоверными.
Вопрос о том, можно ли проводить измерение температуры по тепловому излучению, не имея априорных данных о коэффициенте излучения объекта, активно обсуждается несколько десятилетий. Одно из направлений оптической пирометрии заключается в измерении интенсивности на четырех–пяти длинах волн и вычислении как искомой температуры, таки излучательной способности (задаваемой, например, полиномом второй или третьей степени. Этот метод пригоден для термометрии изученных материалов при небольших изменениях их свойств. Общего значения и широкого распространения метод не приобрел. Задача пирометрии новых объектов, для которых нет никаких данных об излучательной способности, остается здесь нере- шенной.
Другой метод, подробно обсуждаемый в этой книге, состоит в регистрации и анализе широкого спектра теплового излучения объекта.
Это направление, называемое спектральной пирометрией или спектро- радиометрией, связано с появлением ПЗС-спектрометров, позволяющих накапливать и считать фотоэлектроны в линейке из 1000–3600
пикселов, каждый из которых соответствует узкому интервалу длин волн (обычно от 0,1 до 1 нм. Информативность первичных данных в спектральной пирометрии намного выше, чем в методах яркостной и цветовой пирометрии. Это позволяет уменьшить зависимость результатов измерений от существенной неопределенности, которой всегда характеризуется коэффициент излучения исследуемого объек-

Заключение
229
та. Отсутствие данных по зависимости излучательной способности объекта от длин волны компенсируется обширной спектральной информацией. Новый подход основан на гипотезе, что все необходимые данные о свойствах и температуре объекта содержатся в спектре излу- чения.
Сравнение зарегистрированного спектра со спектром черного тела позволяет во множестве случаев выявить их подобие хотя бы на некоторых участках (в частности, подобие практически всегда наблюдается в коротковолновой области спектра. Выполнение модели серого тела не принимается априорно, но проверяется в каждом эксперименте.
По признакам, содержащимся в спектре, можно определить, является ли объект изотермическим или пространственно неоднородным, существенно ли влияние селективной излучательной способности. Температура объекта вычисляется как параметр наблюдаемого распределения интенсивности, при этом часто нет необходимости измерять или вычислять коэффициент излучения
ε(λ).
Многочисленность объектов, спектры излучения которых подобны спектру черного тела, позволяет считать, что серые тела действительно существуют. Эксперименты показывают, что излучательными свойствами, близкими к свойствам серого тела, обладают металлы,
полупроводники и диэлектрики как ниже, таки выше точки плавления;
малые частицы, в том числе наночастицы кавитационные пузырьки в жидкости оптически тонкое пламя и взрывы оптически тонкая эрозионная плазма. Преимуществом спектральной пирометрии по сравнению с традиционными методами (яркостной и цветовой пирометрии)
является более широкая область применения, включающая многочисленные новые объекты, об оптических свойствах которых нет никаких данных. Регистрация широкого спектра в каждом эксперименте позволяет разделить сложный интегральный спектр на составляющие и исключить атомарные линии и молекулярные полосы, которые присутствуют в излучении пламен, взрывов, плазмы.
Если зарегистрирован широкий спектр излучения, включая коротковолновую область, ион спрямляется в координатах Вина — значит,
объект является серым излучателем, и температура определяется наклоном прямой. Если спектр в широком диапазоне длин волн не спрямляется, температуру следует определять по коротковолновому краю спектра, где любой объект является серым излучателем. Для объектов с пространственно неоднородной температурой по коротковолновому краю спектра определяется температура, близкая к максимальной. Если зарегистрированный спектр является узкими не относится к коротковолновой области, вычисляемая температура может существенно отличаться от действительной даже тогда, когда спектр спрямляется в координатах Вина

230
Заключение
Возник ряд методических задач. Не всегда имеется обоснование теплового характера спектра, неизвестны причины широкой распространенности серых излучателей, а также причины отклонений от планковской формы, бывает сложно определить доверительные интервалы измеренных температур. Неясно, могут ли наблюдаться спектры,
подобные планковским спектрам с характерными температурами, существенно отличающимися от действительной температуры объектов
(т. е. определение температуры по спектру является недостоверным).
При измерении температуры по узкому интервалу оптического спектра неоднородно нагретого объекта можно получить любую температуру,
лежащую между максимальными среднеарифметическим значениями. Требуются методы обработки спектров с высоким уровнем шумов, методы разделения интегральных спектров при наложении излучения от источников разной природы. Количественные критерии,
позволяющие утверждать, что спектр является широким или узким, а в координатах Вина он спрямляется или отклоняется от прямолинейности, в настоящее время не разработаны. Для измерения нестационарной температуры в быстрых процессах необходимо увеличить как быстродействие ПЗС-линеек, таки светосилу спектро- метров.
В целом метод спектральной пирометрии уже занял прочное место в исследованиях многих новых объектов. Перспективы развития и применения метода связаны с новыми технологиями синтеза и обработки материалов. Примерный перечень областей, в которых может успешно применяться метод выращивание полупроводниковых и
диэлектрических кристаллов высокотемпературные процессы при создании приборов полупроводниковой электроники и оптоэлектроники (например, в быстрых термических процессах, осуществляемых в установках кластерного типа лазерные технологии обработки материалов (резка, сварка,
упрочнение поверхности, синтез микро- и наночастиц плазменные технологии обработки материалов (модификация поверхности металлов, наплавка упрочняющих покрытий, осаждение пленок, диспергирование вещества взаимодействие гиперзвуковых потоков газа с летательными аппаратами (при разработке аэрокосмической техники авиационная и ракетная техника (диагностика реактивных двигателей радиационные технологии (ионная имплантация полупроводников, ионно- и электронно-пучковая модификация поверхности микроволновые технологии (синтез керамики, нагрев твердофазных реагентов

Заключение
231
Итог последних десятилетий в области термометрии состоит в том,
что в оптической пирометрии возникло новое направление — спектральная пирометрия. Наметились новые измерительные возможности,
которые необходимо изучать и использовать. Метод пригоден для измерения температуры объектов с неизвестной и изменяющейся неизвестным образом излучательной способностью, это общий признак многих объектов в новых технологиях. Выявлен ряд нерешенных проблем и препятствий, не имеющих аналогов в традиционной пирометрии.
Поставленные проблемы и ненайденные пока решения составляют в настоящее время перспективу спектральной пирометрии

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
К главе 1
1.1. Quinn T. J. Temperature. — London: Academic, 1983 (Куинн Т. Температура М Мир, 1985).
1.2. Свет Д. Я. Оптические методы измерения истинных температур. — М.:
Наука, 1982.
1.3. Radiometric temperature measurements. I. Fundamentals / Ed. by
Z. M. Zhang, B. K. Tsai, G. Mashin. Experimental Methods in the Physical
Sciences. V. 42. — Amsterdam: Elsevier, 2009.
1.4. Radiometric temperature measurements. II. Applications
/ Ed. by
Z. M. Zhang, B. K. Tsai, G. Mashin. Experimental Methods in the Physical
Sciences. V. 43. — Amsterdam: Elsevier, 2010.
1.5. Магунов АН. Теплообмен неравновесной плазмы с поверхностью. М Физматлит, 2005.
1.6. Eckbreth A. C. Laser Diagnostics for Combustion Temperature and Species,
2
nd
ed. Combustion Sci. Technol. Series. V. 3. Cordon and Breach Publ. —
Amsterdam, 1996.
1.7. Muraoka K., Maeda M. Laser-Aided Diagnostics of Plasmas and Gases. —
Bristol: IOP Publ., 2001.
1.8. Магунов АН. Лазерная термометрия твердых тел. — М Физматлит,
2002.
1.9. Takaoka A., Ura K. // Meas. Sci. Technol. 1993. V. 4. P. 105.
1.10. LaBella V. P., Bullock D. W., Emery C. et al. // Appl. Phys. Lett. 2001.
V. 79, № 19. P. 3065.
1.11. Stone H. J., Tucker M. G., Meducin F. M. et al. // J. Appl. Phys. 2005.
V. 98, № 6. 064905.
1.12. Kisi E. H., Riley D. P. // Appl. Crystallography. 2002. V. 35. P. 664.
1.13. Siah L. F., Kriven W. M., Schneider J. // Meas. Sci. Technol. 2005. V. 16.
P. 1291.
1.14. Плясова Л. М, Аверьянов В. В, Паукштис Е. Аи др. // Кинетика и катализ. 2005. Т. 46, № 2. С. 302.
1.15. Стаднык Б. И, Луцик Я. Т. Ультразвуковая термометрия. — М Энер- гоатомиздат, 1992.
1.16. Ribaud G. Trait´
e de pyrom´
etrie optique. — Paris: Revue d’Optique, 1931
(Рибо Г. Оптическая пирометрия. — МЛ ГТТИ, 1934).
1.17. Greiner J., Bickert K., Luthardt R. et al. // Astron. Astrophys. 1997. V. 322.
P. 576.
1.18. Латыев Л. Н, Петров В. А, Чеховской В. Я, Шестаков Е. И. Излучательные свойства твердых материалов / Под ред. А. Е. Шейндлина. М Энергия, 1974.

Список литературы 1.19. Физические величины. Справочник / Под ред. И. С. Григорьева,
Е. З. Мейлихова. — М Энергоатомиздат, 1991. С. 766.
1.20. Температурные измерения. Справочник / Под ред. О. А. Геращенко. Киев Наукова думка, 1989. С. 447.
1.21. Childs P. R. N., Greenwood J. R., Long C. A. // Rev. Sci. Instrum. 2000.
V. 71, № 8. P. 2959.
1.22. Gardner J. L., Jones T. P., Davies M. R. // High Temperatures — High
Pressures. 1981. V. 13. P. 459.
1.23. Hunter G. B., Allemand C. D., Eagar T. W. // Opt. Eng. 1985. V. 24, № 6.
P. 1081.
1.24. Михляев СВ, Мухин Ю. Д, Нежевенко Е. С. // Автометрия. 1998. № С. 39.
1.25. Леонов АС, Русин С. П. // Теплофизика и аэромеханика. 2001. № С. 475.
1.26. Lellouch E., Laureijs R., Schmitt B. et al. // Icar. 2000. V. 47. P. 220.
1.27. Kawakita H., Watanabe J., Ando H. et al. // Science. 2001. V. 294.
Iss. 5544. P. 1089.
1.28. Schwarzschild B. // Physics Today. 2003. V. 56, № 4. P. 21.
1.29. Land D. V. // J. Microwave Power and Electromagnetic Energy. 2001.
V. 36, № 3. P. 139.
1.30. Голант В. Е. СВЧ-методы исследования плазмы. — М Наука, 1968.
1.31. Кадышевич А. Е. // УФН. 1962. Т. 76, № 4. С. 683.
1.32. Docquier N., Candel S. // Progress in Energy and Combustion Science.
2002. V. 28. P. 107.
1.33. Goroshin S., Frost D. L., Levine J. et al. // Propellants, Explosives, Py- rotechnics. 2006. V. 31, № 3. P. 1.
1.34. Левашов Е. А, Рогачев АС, Юхвид В. И, Боровинская И. П. Физико- химические и технологические основы самораспространяющегося высокотемпературного синтеза. — М Изд. БИНОМ, 1999.
1.35. Мержанов А. Г. // Успехи химии. 2003. Т. 72, № 3. С. 323.
1.36. Adams B. E., Schietinger C. W., Kreider K. G. Radiation Thermometry in the Semiconductor Industry // Radiometric temperature measurements. II.
Applications / Ed. by Z. M. Zhang, B. K. Tsai, G. Mashin. Experimental
Methods in the Physical Sciences. V. 43. — Elsevier, 2010. P. 137.
1.37. Michalski L., Eckersdorf K., Kucharski J., McGhee J. Temperature mea- surement. — N. Y.: John Wiley & Sons, 2001.
1.38. Гусев Г. В, Хазаров В. Г. // Пром. АСУ и контроллеры. 2006. № 5. С. 47.
1.39. Iuchi T., Yamada Y., Suguira M., Torao A. Thermometry in Steel Produc- tion // Radiometric temperature measurements. II. Applications / Ed. by
Z. M. Zhang, B. K. Tsai, G. Mashin. Experimental Methods in the Physical
Sciences. V. 43. — Elsevier, 2010. P. 217.
1.40. Saunders P. Radiation Thermometry. Fundamentals and Applications in the
Petrochemical Industry. — Bellingham: SPIE Press, 2007. V. TT78.
1.41. Schaffer C. B. Interaction of femtosecond laser pulses with transparent materials. PhD Thesis. Harvard Univ, 2001.
1.42. Челядинский АР, Комаров Ф. Ф. // УФН. 2003. Т. 173, № 8. С. 813.
1.43. Chen G., Borca-Tasciuc T., Fair R. B. // J. Appl. Phys. 1997. V. 82, № 2.
P. 830.

Список литературы. Ранцевич В. Б. Пирометрия при посторонних источниках излучения. Минск Наука и техника, 1989.
1.45. Царькова О. Г. // Тр. ИОФАН. Т. 60. — М Наука, 2004. С. 30.
1.46. Microwave Processing of Materials. — Washington, D. C.: Nat. Acad.
Press, 1994.
1.47. Фрунзе А. В. // Фотоника. 2009. № 4. С. 32.
1.48. Zhang Z. M., Mashin G. Overview of Radiation Thermometry // Radio- metric temperature measurements. I. Fundamentals / Ed. by Z. M. Zhang,
B. K. Tsai, G. Mashin. Experimental Methods in the Physical Sciences.
V. 42. — Amsterdam: Elsevier, 2009. P. 14.
1.49. Hollandt J., Hartmann J., Stru
ß
O., G¨
artner R. Industrial Applications of Radiation Thermometry // Radiometric temperature measurements. II.
Applications / Ed. by Z. M. Zhang, B. K. Tsai, G. Mashin. Experimental
Methods in the Physical Sciences. V. 43. — Amsterdam: Elsevier, 2010.
P. 15.
1.50. Дукарский СМ. Термометрия продуктов доменной плавки. — М Металлургия (ссылка из Температурные измерения. Справочник Под ред. О. А. Геращенко. — Киев Наукова думка, 1989. С. 377.
1.51. Поскачей А. А, Чубаров Е. П. Оптико-электронные системы измерения температуры. — М Энергоатомиздат, 1988. С. 231.
1.52. Беленький А. М, Бердышев В. Ф. // Тез. I Всеросс. конф. Температура Подольск, 2001. С. 15.
1.53. Таиров Ю. М, Цветков В. Ф. Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов. Учебник для вузов. — СПб.: Изд. Лань, С. 135.
1.54. Huang X., Taishi T., Wang T., Hoshikawa K. // J. Cryst. Growth. 2001.
V. 229. P. 6.
1.55. Zhou Y. H., Shen Y. J., Zhang Z. M. et al. // Int. J. Heat Mass Transfer.
2002. V. 45. P. 1945.
1.56. Anderson R. L. // Proc.SPIE. 1990. V. 1392. P. 437.
1.57. Андреев А. А, Саблев Л. Л, Григорьев С. Н. Вакуумно-плазменные покрытия. Харьков НТЦ ХФТИ, 2010. С. 315.
1.58. Термическая обработка в машиностроении. Справочник / Под ред.
Ю. М. Лахтина, А. Г. Рахштадта. — М Машиностроение, 1980. С. 438.
1.59. Fox N. P., Martin J. E., Nettelson D. H. // Metrologia. 1991. V. 28, № 5.
P. 357.
1.60. Асиновский Э. И, Кириллин А. В, Костановский А. В. // УФН. Т. 172, № 8. С. 931.
1.61. Савватимский АИ УФН. 2003. Т. 173, № 12. С. 1371.
1.62. Асиновский Э. И, Кириллин А. В, Костановский А. В. // УФН. Т. 173, № 12. С. 1380.
1.63. Savvatimskiy A. I. // Carbon. 2005. V. 43. P. 1115.
1.64. Benedetti L. R., Guignot N., Farber D. L. // J. Appl. Phys. 2007. V. 101,
№ 1. 013109.
1.65. Lum R. M., McDonald M. L., Mack E. M. et al. // J. Electron Mater. 1995.
V. 24, № 11. P. 1577.
1.66. Hoffman R. W., Ramer J., Li S. M. // Jpn. J. Appl. Phys. 2002. Pt.1. V. 41,
№ 2B. P. 996.

Список литературы 1.67. Олейник Б. Н, Лаздина СИ, Лаздин В. П, Жагулло ОМ. Приборы и методы температурных измерений. — М Изд. стандартов, 1987. С. 281.
1.68. Александров СЕ, Гаврилов ГА, Капралов А. Аи др. // ЖТФ. Т. 74, № 1. С. 123.
1.69. Lin J.-F., Sturhahn W., Zhao J. et al. // Geophys. Res. Lett. 2004. V. 31.
L14611.
1.70. Shpak M., Sainiemi L., Ojanen M. et al. // Appl. Opt. 2010. V. 49, № 9.
P. 1489.
1.71. Herzberg G. Spectra of diatomic molecules. — N. Y., 1939 (Герцберг Г.
Спектры и строение двухатомных молекул. — МИЛ. Хохлов М. З. // Опт. и спектр. 1958. Т. 4, № 4. С. 438.
1.73. Touzeau M., Vialle M., Zellagui A. et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1991.
V. 24, № 1. P. 41.
1.74. Plasma Diagnostics / Ed by. W. Lochte-Holtgreven. — Amsterdam: North-
Holland, 1968 (Методы исследования плазмы / Под ред. В. Лохте-Хольт- гревена. — М Мир, 1971. С. 335).
1.75. Шкловский И. С. // УФН. 1968. Т. 95, № 1. С. 249.
1.76. Батанов ГМ, Бережецкая Н. К, Копьев В. Аи др. // ЖТФ. Т. 78, № 10. С. К главе 2
2.1. Lyzenga G. A., Ahrens T. J. // Rev. Sci. Instrum. 1979. V. 50, № 11.
P. 1421.
2.2. Schmitt D. R., Ahrens T. J. Emission spectra of shock compressed solids /
Ed. by J. R. Asay, R. A. Graham, G. K. Straub. Shock Waves in Condensed
Matter. — Elsevier, 1984. P. 313.
2.3. Белинский НИ, Козицкий СВ, Флорко А. В. // Физика аэродисперс- ных систем. 1985. Т. 28. С. 38.
2.4. Zeitoun-Fakiris A. // IEEE Trans. Electrical Insulation. 1983. V.EI-18,
№ 3. P. 214.
2.5. Морачевский Н. В. // Тр. ФИАН. Т. 103. — М Наука, 1978. С. 118.
2.6. Hiller R., Putterman S. J., Barber B. P. // Phys. Rev. Lett. 1992. V. 69.
P. 1182.
2.7. Brenner M. P., Hilgenfeldt S., Lohse D. // Rev. Mod. Phys. 2002. V. 74,
№ 2. P. 425.
2.8. Boehler R. // Hyperfine Interactions. 2000. V. 128. P. 307.
2.9. Калинин А. П, Трошин К. Я, Орлов А. Г, Родионов АИ Датчики и системы. 2008. № 12. С. 19.
2.10. Воронов ГС. частное сообщение. Holmes N. C. // Rev. Sci. Instrum. 1995. V. 66, № 3. P. 2615.
2.12. Gupta S. C., Love S. G., Ahrens T. J. // Earth and Planetary Science Letters.
2002. V. 201. P. 1.
2.13. Boness D. A., Brown J. M. // Phys. Rev. Lett. 1993. V. 71, № 18. P. 2931.
2.14. Roberts D. E., Glass I. I. // Phys. Fluids. 1971. V. 14, № 8. P. 1662.
2.15. Ng D., Fralick G. // Rev. Sci. Instrum. 2001. V. 72, № 2. P. 1522.
2.16. Shuker P., Melchior A., Assor Y., Belker D. Sterer E // Rev. Sci. Instrum.
2008. V. 79, № 7. ID 073908.
2.17. Wakabayashi H., Makino T. // Meas. Sci. Technol. 2001. V. 12. P. 2113.

Список литературы. Кораблев О. И, Берто Ж.-Л., Калинников Ю. К. и др. // Космические исследования. 2006. Т. 44, № 4. С. 292.
2.19. Костановский А. В, Нефедкина Л. Б, Костановская М. Е. // ТВТ.
1997. Т. 35, № 1. С. 122.
2.20. Hartmann J. // Physics Reports. 2009. V. 469, № 5–6. P. 205.
2.21. de Vos J. G. // Physica. 1954. V. 20, № 1. P. 690.
2.22. Полянский ИВ, Василейский АС, Ваваев В. Аи др. // я Всерос.
конф. Современные проблемы дистанционного зондирования Земли из космоса Москва ИКИ РАН, 2008. С. 106.
2.23. Ward D. R. et al. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 93, № 21. 213108.
2.24. McCauley T. S., Israel A., Vohra Y. K. // Rev. Sci. Instrum. 1997. V. 68,
№ 4. P. 1860.
2.25. Timans P. J. // J. Appl. Phys. 1992. V. 72, № 2. P. 660.
2.26. Shen G., Wang L., Ferry L. et al. // Journal of Physics: Conf. Ser. 2010.
V. 215, № 1. 012191.
2.27. Несеребряные фотографические процессы / Под ред. А. Л. Картужанско- го. — Л Химия, 1984. С. 102.
2.28. Sch¨
afer B., Bostanjoglo O. // Rev. Sci. Instrum. 1993. V. 64. P. 3598.
2.29. Maun J. D., Sunderland P. B., Urban D. L. // Applied Optics. 2007. V. 46.
Issue 4. P. 483.
2.30. Горячев СВ, Исакаев ЭХ, Мясников МИ, Чиннов В. Ф. // ТВТ.
2008. Т. 46, № 6. С. 820.
2.31. Физические величины. Справочник / Под ред. И. С. Григорьева,
Е. З. Мейлихова. — М Энергоатомиздат, 1991.
2.32. Hebber R. R., Chandrasekaar S., Farris T. N. // J. Amer. Ceram. Soc. 2005.
V. 75, № 10. P. 2742.
2.33. Shen G., Rivers M. L., Wang Y., Sutton S. R. // Rev. Sci. Instrum. 2001.
V. 72, № 2. P. 1273.
2.34. Campbell A. J. // Rev. Sci. Instrum. 2008. V. 79. 015108.
2.35. Boehler R. // Hyperfine Interactions. 2000. V. 128. P. 307.
2.36. Baller T. S., Kools J. C. S., Dieleman J. // Appl. Surf. Sci. 1990. V. 46.
P. 292.
2.37. Lin J.-F., Sturhahn W., Zhao J. et al. // Geophys. Res. Lett. 2004. V. 31.
L14611.
2.38. Santoro M., Lin J.-F., Struzhkin V. V. et al. // Advances in High-Pressure
Technology for Geophysical Applications / Ed. by J. Chen et al. — Elsevier,
2005. P. 413.
2.39. Sweeney J. S., Heinz D. L. // Pure and Applied Geophysics. 1993. V. 141,
№ 2–4. P. 497.
2.40. Yoo C. S., Holmes N. C., Ross M. // Phys. Rev. Lett. 1993. V. 70, № 25.
P. 3931.
2.41. Deemyad S., Sterer E., Barthel C. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2005. V. 76.
125104.
2.42. McCauley T. S., Israel A., Vohra Y. K. // Rev. Sci. Instrum. 1997. V. 68,
№ 4. P. 1860.
2.43. Rekhi S., Tempere J., Silvera I. F. // Rev. Sci. Instrum. 2003. V. 74, № 8.
P. 3820.

Список литературы 2.44. Блох А. Г, Журавлев Ю. А, Рыжков Л. Н. Теплообмен излучением.
Справочник. — М Энергоатомиздат, 1991.
2.45. Jin-Seok J., Ik-Jun Y., Jung-Hee N., Ho-Young K. // J. Phys. Soc. Jap. 2000.
V. 69, № 1. P. 112.
2.46. Магунов АН ПТЭ. 2009. № 4. С. К главе 3
3.1. Ribaud G. Trait´
e de pyrom´
etrie optique. — Paris: Revue d’Optique, 1931
(Рибо Г. Оптическая пирометрия. — МЛ ГТТИ, 1934).
3.2. Зворыкин Д. В, Прохоров Ю. И. Применение лучистого инфракрасного нагрева в электронной промышленности. — М Энергия, 1980. С. 111.
3.3. Магунов АН ПТЭ. 2009. № 4. С. 5.
3.4. McCauley T. S., Israel A., Vohra Y. K. // Rev. Sci. Instrum. 1997. V. 68,
№ 4. P. 1860.
3.5. Shen G., Rivers M. L., Wang Y., Sutton S. R. // Rev. Sci. Instrum. 2001.
V. 72, № 2. P. 1273.
3.6. Rekhi S., Tempere J., Silvera I. F. // Rev. Sci. Instrum. 2003. V. 74, № 8.
P. 3820.
3.7. Deemyad S., Papathanassiou A. N., Silvera I. F. // J. Appl. Phys. 2009.
V. 105, № 9. 093543.
3.8. Boehler R. // Hyperfine Interactions. 2000. V. 128. P. 307.
3.9. Ujihara K. // J. Appl. Phys. 1972. V. 43, № 5. P. 2376.
3.10. Альтман И. С. // Физика горения и взрыва. 2004. Т. 40, № 1. С. 75.
3.11. Блох А. Г, Журавлев Ю. А, Рыжков Л. Н. Теплообмен излучением.
Справочник. — М Энергоатомиздат, 1991. С. 75.
3.12. Киренков И. И. Метрологические основы оптической пирометрии. — М.:
Изд. стандартов, 1976.
3.13. Miyasaka F., Ohji T., Fujii Y. // XVI IMEKO World Congress. 2000.
Vienna, Austria. V. 6. P. 399.
3.14. Zhang Z. M. // Ann. Rev. of Heat Transfer / Ed. by C. L. Tien. V. XI,
Ch. 6. — N. Y.: Begell House, 2000. P. К главе 4
4.1. Heinz D. L., Jeanloz R. Temperature measurements in the laser-heated diamond cell // In: High Pressure Research in Mineral Physics / Ed. by
M. H. Manghani, Y. Syono. — Terra Sci. Publ., Tokyo. Amer. Geophys.
Union, Washington. 1987. P. 113.
4.2. Блок С, Пьермарини Г. // УФН. 1979. Т. 127, № 4. С. 705.
4.3. Bassett W. A. // High Pressure Research. 2009. V. 29, № 2. P. 163.
4.4. Chandra Shekar N. V., Sahu P. C., Rajan K. G. // J. Mater. Sci. Technol.
2003. V. 19, № 6. P. 518.
4.5. Katrusiak A. // Acta Crystallographica. 2008. V. A64. P. 135.
4.6. Ohfuji H., Okada T., Yagi T. et al. // J. Phys.: Conf. Ser. 2010. V. 215.
012192.
4.7. Subramanian N.,
Chandra
Shekar N. V.,
Sanjay
Kumar N. R.,
Sahu P. Ch. // Current Sci. 2006. V. 91, № 2. P. 175.
4.8. Chandra Shekar N. V., Sahu P. Ch., Govindra Rajan K. // J. Mater. Sci.
Technol. 2003. V. 19, № 6. P. 518.

Список литературы. Boehler R. // Hyperfine Interactions. 2000. V. 128. P. 307.
4.10. Benedetti L. R., Loubeyre P. // High Pressure Research. 2004. V. 24, № 4.
P. 423.
4.11. Deemyad S., Sterer E., Barthel C., Rekhi S. // Rev. Sci. Instrum. 2005.
V. 76. 125104.
4.12. Lin J.-F., Sturhahn W., Zhao J. et al. // Geophys. Res. Lett. 2004. V. 31.
L.14611.
4.13. Shen G., Rivers M. L., Wang Y., Sutton S. R. // Rev. Sci. Instrum. 2001.
V. 72, № 2. P. 1273.
4.14. Zhao J., Sturhahn W., Lin J.-F., Shen G. et al. // High Pressure Research.
2004. V. 24, № 4. P. 447.
4.15. Kunz M., Caldwell W. A., Miyagi L., Wenk H.-R. // Rev. Sci. Instrum.
2007. V. 78. 063907.
4.16. Shen G., Lasor P. // J. Geophys. Res. 1995. V. 100. P. 17699.
4.17. Yoo C. S., Holmes N. C., Ross M. et al. // Phys. Rev. Lett. 1993. V. 70,
№ 25. P. 3931.
4.18. Shuker P., Melchior A., Assor Y. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2008. V. 79,
№ 7. 073908.
4.19. Santoro M., Lin J.-F., Struzhkin V. V. et al. // Advances in High-Pressure
Technology for Geophysical Applications / Ed. by J. Chen et al. — Elsevier,
2005. P. 413.
4.20. Benedetti L. R., Guignot N., Farber D. L. // J. Appl. Phys. 2007. V. 101,
№ 1. 013109.
4.21. Narayana C., Luo H., Orloff J., Ruoff A. L. // Nature. 1998. V. 393. P. 46.
4.22. Lin J.-F., Santoro M., Struzhkin V. V. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2004.
V. 75, № 10. P. 3302.
4.23. Литвин Ю. А, Жариков В. А, Охулков А. В. и др. // Вестник Отделения наук о Земле РАН. 2008. № 1. С. 26.
4.24. Ломоносов ИВ, Фортов В. Е. Термодинамика экстремальных состояний Химическая физика на пороге XXI века / Под ред. Г. Б. Сергеева,
А. Е. Шилова. — М Наука, 1996. С. 104.
4.25. Кормер С. Б. // УФН. 1968. Т. 94, № 4. С. 641.
4.26. Gogulya M. F., Dolgoborodov A. Y., Brazhnikov M. A. // Int. J. Impact
Eng. 1999. V. 23. P. 283.
4.27. Дремин АН Хим. физика. 2009. Т. 28, № 4. С. 55.
4.28. Анисимов СИ, Прохоров А. М, Фортов В. Е. // УФН. 1984. Т. 142,
№ 3. С. 395.
4.29. Lyzenga G. A., Ahrens T. J. // Rev. Sci. Instrum. 1979. V. 59, № 11.
P. 1421.
4.30. Boness D. A., Brown J. M. // Phys. Rev. Lett. 1993. V. 71, № 18. P. 2931.
4.31. Luo S.-N., Akins J., Ahrens T. J., Asimov P. D. // J. Geophys. Res. 2004.
V. 109. B05205.
4.32. Gupta S. C., Love S. G., Ahrens T. J. // Earth and Planetary Sci. Lett. 2002.
V. 201. P. 1.
4.33. Holmes N. C. // Rev. Sci. Instrum. 1995. V. 66, № 3. P. 2615.
4.34. Schmitt D. R., Ahrens T. J. // Shock Waves in Condenced Matter / Ed by.
J. R. Asay, R. A. Graham, G. K. Straub. — Elsevier, 1984. P. 313.

Список литературы 4.35. Loubeyre P., Celliers P. M., Hicks D. G. et al. // High Pressure Research.
2004. V. 24, № 1. P. 25.
4.36. Jeanloz R., Celliers P. M., Collins G. W. et al. // Proc. Nat. Acad. Sci. 2007.
V. 104, № 22. P. 9172.
4.37. Lee K. K. M., Benedetti L. R., Jeanloz R. et al. // J. Chem. Phys. 2006.
V. 125. 014701.
4.38. Xu X., Malkin S. // J. Manuf. Sci. Eng. 2001. V. 123, № 2. P. 191.
4.39. Komanduri R., Hou Z. B. // Tribology International. 2001. V. 34, № 10.
P. 653.
4.40. Curry A. C., Shih A. J., Kong J. et al. // J. Am. Ceram. Soc. 2003. V. 86,
№ 2. P. 333.
4.41. Топорец АС. Оптика шероховатой поверхности. — Л Машиностроение. Мержанов А. Г. // Успехи химии. 2003. Т. 72, № 4. С. 323.
4.44. Левашов Е. А, Рогачев АС, Юхвид В. И, Боровинская И. П. Физико- химические и технологические основы самораспространяющегося высокотемпературного синтеза. — М Бином, 1999.
4.45. Найбороденко ЮС, Филатов В. М. // Физика горения и взрыва. 1995.
№ 6. С. 20.
4.46. Peng J., Binner J., Bradshaw S. // J. Materials Synthesis and Processing.
2002. V. 9, № 6. P. 363.
4.47. Батанов ГМ, Бережецкая Н. К, Коссый И. А, Магунов АН Физика плазмы. 2006. Т. 32, № 6. С. 571.
4.48. Biswas A., Roy S. K., Gurumurthy K. R. et al. // Acta Materialia. 2002.
V. 50. P. 757.
4.49. Riley D. P., Kisi E. H., Hansen T. C., Hewat A. W. // J. Amer. Ceram. Soc.
2002. V. 85, № 10. P. 2417.
4.50. Батанов ГМ, Бережецкая Н. К, Копьев В. Аи др. // ЖТФ. Т. 78, № 10. С. 135.
4.51. Батанов ГМ, Бережецкая Н. К, Копьев В. Аи др. // Доклады АН. Т. 407, № 6. С. 752.
4.52. Копьев В. А, Коссый И. А, Магунов АН, Тарасова НМ ПТЭ. 2006.
№ 4. С. 131.
4.53. Kashyap R., Blow K. J. // Electronics Lett. 1988. V. 24, № 1. P. 47.
4.54. Буфетов И. А, Дианов ЕМ УФН. 2005. Т. 175, № 1. С. 100.
4.55. Райзер Ю. П. Лазерная искра и распространение разрядов. — М Наука. Hand D. P. Russell P.St.J // Optics Letters. 1988. V. 13, № 9. P. 767.
4.57. Dianov E. M., Fortov V. E., Bufetov I. A. et al. // IEEE Photonics Technol- ogy Letters. 2006. V. 18, № 6. P. 752.
4.58. Морачевский Н. В. // Тр. ФИАН. Т. 103. — М Наука, 1978. С. 118.
4.59. Gamaly E. G., Juodkazis S., Nishimura K. et al. // Phys. Rev. B. 2006.
V. 73, № 21. 214101.
4.60. Маненков А. А, Прохоров А. М. // УФН. 1986. Т. 148, № 1. С. 179.
4.61. Carr C. W., Radousky H. B., Rubenchik A. M. et al. // Phys. Rev. Lett.
2004. V. 92, № 8. 087401.

Список литературы. Carr C. W., Feit M. D., Rubenchik A. M. et al. // Proc. SPIE. V. 5647. 2005.
P. 494.
4.63. Schaffer C. B. Interaction of femtosecond laser pulses with transparent materials. PhD Thesis. — Harvard Univ., 2001.
4.64. Nitikant A. U., Sharma A. K. // J. Appl. Phys. 2003. V. 93, № 12. P. 9968.
4.65. H¨
uttner B. // J. Phys: Condens. Matter. 2002. V. 14. P. 6689.
4.66. Вихарев А. Л, Горбачев А. М, Колданов В. Аи др. // Физика плазмы. Т. 31, № 4. С. 376.
4.67. McCauley T. S., Israel A., Vohra Y. K. // Rev. Sci. Instrum. 1997. V. 68,
№ 4. P. 1860.
4.68. Baller T. S., Kools J. C. S., Dieleman J. // Appl. Surf. Sci. 1990. V. 46.
P. 292.
4.69. Timans P. J. // J. Appl. Phys. 1992. V. 72, № 2. P. 660.
4.70. Rekhi S., Tempere J., Silvera I. F. // Rev. Sci. Instrum. 2003. V. 74, № 8.
P. 3820.
4.71. Бархударов Э. М, Грицинин СИ, Дрейден Г. В. и др. // Физ. плазмы. Т. 30, № 6. С. 575.
4.72. Грицинин СИ, Коссый И. А, Магунов АН Тез. XII Рос. конф. по теплофизич. свойствам веществ (РКТС-XII). — М Интерконтакт, С. 103.
4.73. С теллараторы / Под ред. Л. М. Коврижного. Труды ИОФАН. — М Наука. Т. 31.
4.74. Ulrickson M. // J. Vac. Sci. Technol. A. 1986. V. 4, № 3. P. 1805.
4.75. Araki M., Kobayashi M. // Rev. Sci. Instrum. 1996. V. 67, № 1. P. 178.
4.76. Ng D., Fralick G. // Rev. Sci. Instrum. 2001. V. 72, № 2. P. 1522.
4.77. Varshni Y. P. // Phys.Stat.Sol. 1967. V. 19, № 2. P. 459.
4.78. Heidinger R., Dammertz G., Steinbock L., Thumm M. // 12th Joint Work- shop on Electron Cyclotron Emission and Electron Cyclotron Resonance
Heating (ECE 2002), Aix-en-Provence, France, 13.-16. May, 2002.
4.79. Herchen H., Capelli M. A. // Proc. SPIE. 1991. V. 1534. P. 158.
4.80. Oganov A. R., Ono S. // Proc. Nat. Acad. Sci. 2005. V. 102, № 31. P. 10828.
4.81. Лингарт Ю. К, Петров В. А, Тихонова НА ТВТ. 1982. Т. 20, № С. 872.
4.82. McMahon H. O. // J. Opt. Soc. Amer. 1950. V. 40, № 6. P. 376.
4.83. Яковленко СИ Квант. электрон. 2004. Т. 34, № 9. С. 787.
4.84. Природные алмазы России / Под ред. В. Б. Кваскова. — М Полярон. С. 33.
4.85. Hare D. E., Holmes N. C., Webb D. J. // Phys. Rev. B. 2002. V. 66, № 1.
014108.
4.86. Карачинов Д. В, Карачинов В. А. Пирометрические зонды на основе тугоплавких соединений. В. Новгород Изд. НовГУ, 2008.
4.87. Маненков А. А. // Тр. ФИАН. Т. 101. — М Наука, 1978. С. 3.
4.88. Данилейко Ю. К, Маненков А. А, Нечитайло В. С. // Тр. ФИАН.
Т. 101. — М Наука, 1978. С. 29.
4.89. Горшков Б. Г. // Тр. ФИАН. Т. 137. — М Наука, 1982. С. 79.
4.90. Маненков А. А. // Квантовая электроника. 2003. Т. 33, № 7. С. 639.
4.91. Cramer L. P., Schubert B. E., Petite P. S. et al. // J. Appl. Phys. 2005.
V. 97. 074307.

Список литературы 4.92. Runyan W. R.
Technology of
Semiconductor
Silicon.
—
N. Y.:
McGraw-Hill,
1969 (Реньян В. Р. Технология полупроводникового кремния. — М Металлургия, 1969. С. 30.
4.93. Иванов А. В. Прочность оптических материалов. — Л Машиностроение. С. 107.
4.94. Zelensky S. // J. Phys.: Condens. Matter. 1998. V. 10. P. 7267.
4.95. Wong P. Y., Hess C. K., Miaoulis J. N. // Opt. Eng. 1995. V. 34, № 6.
P. 1776.
4.96. Barrat S., Pigeat P., Dieguez I. et al. // Thin Solid Films. 1995. V. 263.
P. 127.
4.97. Yaremko A. M., Liptuga A. I., Mozdor E. V. et al. // Europhys. Lett. 2003.
V. 62, № 2. P. 223.
4.98. Гуга К. Ю, Коллюх А. Г, Липтуга АИ. и др. // ФТП. 2004. Т. 38, № С. 524.
4.99. Прохоров А. М, Конов В. И, Урсу И, Михэйлеску И. Н. Взаимодействие лазерного излучения с металлами. — М Наука, 1988. С. 123.
4.100. Карабутов А. А, Кудинов И. А, Платоненко ВТ, Согоян МА. Письма в ЖЭТФ. 1994. Т. 59, № 2. С. 79.
4.101. Florescu M., Busch K. Dowling J.P.