Методы анализа и расчета электронных схем - пособие. Учебное пособие Томск Эль Контент
Скачать 1.73 Mb.
|
Глава 5. Анализ электронных схем во временной области где T ks (jω) = y k (jω)/f s (jω) — комплексная частотная функция для переменной реак- ции y k (jω) при переменной воздействия f s (jω). При использовании комплексных частотных функций расчет амплитудно-час- тотных, фазочастотных, вещественных и мнимых частотных характеристик осу- ществляется по выражениям: A ks (ω) = ∣T ks (jω)∣, 3 ks (ω) = arg[T ks (jω)], T R, ks (ω) = Re[T ks (jω)], T J , ks (ω) = Im[T ks (jω)]. Численные методы интегрирования обыкновенных дифференциальных уравнений Для решения во временном интервале 0 ⩽ t ⩽ T задачи Коши с начальными условиями X (0) = X 0 численными методами необходимо перейти от непрерывной, или континуальной, формы записи системы дифференциальных уравнений: dX (t) dt = G(t, X (t)) (5.64) к дискретной. С этой целью область интегрирования [0, T] разбивается на отрезки 0 = t 0 < t 1 < . . . < t k < . . . < t M = T, и непрерывная область изменения аргумента t за- меняется дискретной областью: (0 ⩽ t ⩽ T) → (t 0 , t 1 , . . ., t M ). Величину h k = t k − t k −1 , k = 1, M называют шагом дискретизации (шагом интегрирования), а саму дискрет- ную область (t 0 , t 1 , . . ., t M ) — сеточной областью. Если h k = h = const, то сеточная область является равномерной. Моменты t k носят название узлов сеточной области. Значения искомых функций в узлах сеточной области будем обозначать X (t k ) = X k В k-ом узле сеточной области систему (5.64) можно записать: dX k dt = G k , (5.65) где dX k dt = dX dt ∣ t =tk ; G k = G(t k , X k ). При достаточной гладкости вектор-функции G (t, X (t)) (то есть существовании производных нужного порядка по всем переменным) решение X (t) системы диф- ференциальных уравнений можно разложить в ряд Тейлора в окрестности точки t k : X (t) = ∞ ∑ i =0 X (i) (t k ) i! (t − t k ) i . (5.66) Полагая в (5.66) t = t k +1 = t k + h, получим: X k +1 = X k + X (1) k 1! h + X (2) k 2! h 2 + . . . + X (p) k p! h p + 0 ⋅ (h p +1 ) = (5.67) = X k + h[T p (X k , t k , h ) + 0(h p )], 5.2 Реализация математических моделей в базисе переменных состояния 135 где 0 (h p ) = X (p+1) k /((p + 1)!)h p + . . . — величина, определяемая членами высших по- рядков, называемая бесконечно малой порядка h p ; T p (X k , t k , h ) = X (1) k 1! + X (2) k 2! h + . . . + X (p) k p! h p −1 = G k 1! + G (1) k 2! h + . . . + G (p−1) k p! h p −1 . Пренебрегая в (5.67) бесконечно малой величиной 0 (h p ), получим систему разностных (алгебраических) уравнений: X k +1 = X k + hT p (X k , t k , h ), (5.68) которая представляет собой дискретную форму записи системы дифференциаль- ных уравнений (5.64). Так как системы (5.67) и (5.68) отличаются на слагаемое 0 (h p ), то говорят, что система разностных уравнений аппроксимирует исходную систему дифференциальных уравнений с порядком 0 (h p ) или с p-ым порядком (p-ая степень h). Ошибка, вызванная переходом от системы дифференциальных уравнений (5.67) к системе разностных уравнений (5.68), ограничена величиной: ε k ⩽ K p h p , где K p — некоторая постоянная, не зависящая от шага интегрирования. Система разностных уравнений (5.68) определяет явный численный метод Тейлора p-го порядка. Название «явный» следует из того, что (5.68) разрешимо явным образом относительно X k +1 Раскладывая решение X (t) системы дифференциальных уравнений — можно в ряд Тейлора в окрестности точки t k +1 : X (t) = ∞ ∑ i =0 X (i) (t k +1 ) i! (t − t k +1 ) i и полагая t = t k = t k +1 − h, получим: X k = X k +1 − X (1) k +1 1! h + X (2) k +1 2! h 2 − . . . + X (p) k +1 p! h p + 0 (h p +1 ) = (5.69) = X k +1 − h[T p (X k +1 , t k +1 , h ) − 0 (h p )], где: T p (X k +1 , t k +1 , h ) = X (1) k +1 1! − X (2) k +1 2! h + . . . − X (p) k +1 p! h p −1 = = G k +1 1! − G (1) k +1 2! h + . . . − G (p−1) k +1 p! h p −1 . Пренебрегая в (5.69) бесконечно малой величиной 0 (h p ), получим систему разностных (алгебраических) уравнений вида: X k +1 = X k + hT p (X k +1 , t k +1 , h ), (5.70) которая определяет неявный численный метод Тейлора p-го порядка. Название «неявный» объясняется тем, что (5.70) не разрешено явным образом относительно X k +1 136 Глава 5. Анализ электронных схем во временной области Следует отметить существенное отличие уравнений (5.67), (5.69) и (5.68), (5.70). Уравнения (5.67) и (5.69) образуют систему нелинейных (трансцендентных) урав- нений относительно вектора X k , но поскольку они содержат неопределенное сла- гаемое 0 (h p ), то и решить их не представляется возможным. Уравнения (5.68) и (5.70) не содержат неопределенного слагаемого 0 (h p ) и, следовательно, могут быть решены. Векторы X k в (5.67), (5.69) и (5.68), (5.70) различны: в (5.67), (5.69) — это решения системы дифференциальных уравнений в k-ом узле сеточной области, а в (5.68), (5.70) — решения систем разностных уравнений. В случае h → 0 систе- ма (5.68) стремится принять вид (5.67), а система (5.70) стремится к (5.69). При этом решения систем нелинейных уравнений (5.67), (5.69) сближаются с решения- ми соответствующих систем разностных уравнений (5.68), (5.70) и при достаточно малых h будут мало различаться. Простейшим численным методом интегрирования обыкновенных дифферен- циальных уравнений является явный метод Тейлора первого порядка, получив- ший название явного метода Эйлера, для которого p = 1, T 1 (X k , t k , h ) = G k и тогда из (5.67) следует: X k +1 = X k + hG k . (5.71) Эта рекуррентная зависимость позволяет определять X k +1 по известному X k Система разностных уравнений (5.71) аппроксимирует исходную систему диффе- ренциальных уравнений с порядком 0 (h). Из (5.70) при p = 1 следует неявный метод Эйлера, для которого, T 1 (X k +1 , t k +1 , h ) = G k +1 , и X k +1 = X k + hG k +1 , (5.72) который также имеет порядок аппроксимации 0 (h). Таким образом, явный и неявный методы Эйлера обладают наименьшей точностью из всех численных методов интегрирования дифференциальных уравнений. Для получения требуе- мой точности методами Эйлера необходимо уменьшать шаг интегрирования, что вызывает значительное увеличение времени счета. Выбор той или иной схемы численного интегрирования систем дифферен- циальных уравнений определяется не только соображениями точности (порядок аппроксимации), удобства и экономичности (явные схемы), но и соображениями устойчивости. Пусть на некотором шаге интегрирования допущена погрешность вычисления ε k . Возмущенное решение разностного уравнения (5.68) представим в виде X k = = X k + ε k и подставим в (5.68): X k +1 + ε k +1 = X k + ε k + hT p (X k + ε k , t k , h ). (5.73) Вычитая (5.73) из (5.68), получим уравнение для возмущений: ε k +1 = ε k + h(T p (X k + ε k , t k , h ) − T p (X k , t k , h )). (5.74) 5.2 Реализация математических моделей в базисе переменных состояния 137 Численный метод является устойчивым, если решение уравнения для возмущений (5.74) удовлетворяет условию: lim k →∞ ε k = 0. Для явного метода Эйлера в случае системы линейных дифференциальных уравнений с постоянной матрицей A уравнение для возмущений принимает вид: ε k +1 = (E + hA)ε k . (5.75) Общее решение этого разностного уравнения: ε k = (E + hA) k ε 0 . (5.76) где ε 0 — начальное возмущение. Очевидно, что поведение ε k при k → ∞ определяется свойствами матрицы A. Общее решение разностного уравнения (5.76) можно записать в виде: ε k = S(E + hΛ) k S −1 ε 0 . (5.77) где S — матрица, составленная из собственных векторов матрицы A. Тогда условием устойчивости явного метода Эйлера является требование: ∣1 + hλ i ∣ < 1, i = 1, n, (5.78) где λ i — собственные числа матрицы A. Неравенство (5.78) можно переписать в виде: ∣ 1 h + λ i ∣ < 1 h . (5.79) На комплексной λ-плоскости оно определяет внутреннюю часть круга с цен- тром в точке (−1/h, 0) и радиусом 1/h (рис. 5.5, а), которая носит название об- ласти устойчивости явного метода Эйлера. Условием устойчивости явного метода Эйлера является такой выбор шага интегрирования h, который бы обеспечивал попадание всех собственных чисел матрицы A внутрь указанного круга. Для линейных дифференциальных уравнений с постоянной матрицей A и неяв- ного метода Эйлера разностное уравнение (5.74) для возмущений имеет вид: ε k +1 = (E − hA) −1 ε k . (5.80) Решение уравнения (5.58) можно представить в виде: ε k = (E − hA) −k ε 0 , (5.81) или ε k = S(E − hΛ) −k S −1 ε 0 , (5.82) 138 Глава 5. Анализ электронных схем во временной области где S — матрица, составленная из собственных векторов матрицы A. Условие устойчивости для неявного метода Эйлера примет вид: ∣ 1 h − λ i ∣ > 1 h . (5.83) Данное неравенство определяет область устойчивости, которая представляет собой внешнюю часть круга с центром (1/h, 0) и радиусом 1/h (рис. 5.5, б). Рис. 5.5 – Области устойчивости явного (а) и неявного численных методов Эйлера Для систем уравнений устойчивых электронных схем собственные числа мат- рицы A системы дифференциальных уравнений локализованы в левой полуплос- кости комплексной λ-плоскости, хотя могут располагаться в ней достаточно про- извольно. Для интегрирования этих систем уравнений целесообразно применять численные схемы, область устойчивости которых включает всю левую полуплос- кость λ-плоскости независимо от шага интегрирования h. Такие схемы называются абсолютно устойчивыми (А-устойчивыми). К ним относятся, например, неявный метод Эйлера. Явные же методы Эйлера и Рунге—Кутта относятся к разряду услов- но устойчивых численных схем, так как выполнение условий устойчивости для них зависит от выбора шага интегрирования h. Выводы По отношению к абсолютно и условно устойчивым численным схемам спра- ведливо утверждение, что не существует А-устойчивого неявного линейного мно- гошагового метода с порядком аппроксимации p > 2. Контрольные вопросы по главе 5 139 Контрольные вопросы по главе 5 1) Переменные математической модели в базисе переменных состояния, ха- рактеризующие реакцию схемы на внешние воздействия, относятся: • 1 — к входным переменным, • 2 — к выходным переменным, • 3 — к переменным состояния. 2) В представленной модели линейной электронной схемы в базисе перемен- ных состояния укажите матрицу состояния: dX (t) dt = A(t)X (t) + B(t)F(t) + s ∑ i =1 B i (t) d i F (t) dt i , Y (t) = K(t)X (t) + K f (t)F(t) + p ∑ i =1 K f , i (t) d i F (t) dt i , 3) Сформируйте матрицу управления электронной схемы, если вектор пере- менных состояний имеет вид X = [ i L u C ] T : 4) При каком значении параметра α матрица A = [ − 1 1 α −3 ] имеет сложный спектр? 5) Запишите аналитическое решение линейного обыкновенного дифференци- ального уравнения dx (t) /dt = −2x (t) + 4f (t) + df (t) /dt, если x (0) = 0, f (t) = η (t). ЗАКЛЮЧЕНИЕ Методы анализа и расчета электронных схем составляют теоретическую базу процесса схемотехнического проектирования. Усложнение функций электронных устройств и повышение уровня технических требований привело к возникнове- нию нового научно-технического направления — автоматизированного проектиро- вания, основанного на применении средств электронно-вычислительной техники. Данное направление диктует необходимость развития методов анализа и расчета электронных схем по пути их максимальной формализации и оптимизации. Адаптация методов анализа электронных схем к машинной реализации связана с широким использованием математического аппарата матричной алгебры и мето- дов вычислительной математики. Центральным этапом теоретического исследования широкого класса квазили- нейных электронных схем является определение схемных функций, обеспечива- ющих дальнейший расчет характеристик и параметров электронных схем во вре- менной и частотной областях. Поэтому до настоящего времени сохраняют свою актуальность методы, основанные на линейных операторных математических мо- делях. В то же время высокая производительность вычислительной техники позво- ляет с достаточной точностью моделировать процессы в сравнительно сложных электронных цепях на основе численных методов реализации существенно нели- нейных математических моделей во временной форме. Такие методы являются наиболее перспективными на современном этапе развития методологии анализа электронных схем и зачастую опираются на математическое описание электрон- ных цепей в базисе переменных состояния. ЛИТЕРАТУРА [1] Белецкий А. Ф. Теория линейных электрических цепей / А. Ф. Белецкий. — М. : Лань, 2009. — 544 с. : ил. — ISBN 978-5-8114-0905-1. URL: http://e.lanbook.com/viem/book/710. [2] Глотов А. Ф. Математическое моделирование электронных схем : учеб. посо- бие / А. Ф. Глотов; Томский политехнический университет. — Томск : изд-во Томского политехнического университета, 2012. — 168 с. — ISBN 978-5-4387- 0005-0. [3] Довгун В. П. Компьютерное моделирование электронных цепей и уст- ройств: метод. указ. по самостоятельной работе [Электронный ре- сурс] / В. П. Довгун, В. Б. Лыкова, П. А. Барыбин. — Красноярск : Сибирский федеральный ун-т, 2008. — 75 с. — URL: http://ikit.edu.sfu- kras.ru/files/5/samost_work.pdf доступ свободный. [4] Федеральный государственный образовательной стандарт высшего профес- сионального образования по направлению подготовки 210100 Электроника и наноэлектроника (квалификация (степень) «бакалавр») : утвержден при- казом Министерства образования и науки Российской Федерации от 27 де- кабря 2009 г. №743. Приложение А ОТВЕТЫ НА КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ Глава 1. Общие положения моделирования, анализа и расчета электронных схем 1) К внутренним параметрам относятся сопротивления резисторов, электри- ческие емкости конденсаторов, физические параметры транзисторов и ста- билитрона и т. д.; к выходным параметрам относятся коэффициенты уси- ления по напряжению, по току, по мощности и др., токи ветвей схемы, входное и выходное напряжения, нестабильности коэффициентов усиле- ния, входное и выходное сопротивления и т. д.; к внешним параметрам относятся напряжение питания, температура окружающей среды, сопро- тивление нагрузки и т. д. 2) Синтез — создание описания еще не существующего технического объек- та на основе требований к выходным параметрам при заданных внешних параметрах. 3) Расчет статического режима (режима покоя), расчет частотных характери- стик, расчет переходных процессов. 4) Под математической моделью электронной схемы обычно понимается лю- бое математическое описание, отражающее с требуемой точностью пове- дение электронной цепи в заданных условиях и позволяющее определить все интересующие свойства данной цепи. 5) Адекватность, универсальность, экономичность, продуктивность, робаст- ность, наглядность. 6) Формирование математической модели, реализация и анализ математиче- ской модели, проверка адекватности и точности модели. |